鍍層測厚儀CMI243操作手冊及使用方法
技術參數：
誤差 ±3%
分辨率 0.1um
zui小曲率半徑 1.2mm(凸);1.5mm(凹)
zui小測量面積 φ2.5mm
zui小基體厚度 0.35mm
顯示 3位LCD數顯
測量單位 um-mils可選
校準方式 精密兩點校準
統(tǒng)計數據 平均值、標準偏差S、讀數個數n(9,999個)
zui大值max、zui小值min
接口 232串口
電源 1節(jié)9V電池
儀器尺寸 150x80x30mm
儀器重量 260g
主要特點：
便攜式、無損測量各種金屬鍍層
精度高、穩(wěn)定性好
測量精度可與X射線測厚儀媲美
可測量各種微型部件(φ2.5mm)
232接口，可連接打印機或電腦
