活化能Ea定義：

　　是分子與化學或物理作用中需具備的能量，單位為eV (electron-Volts)。用以超越阻隔潛在故障與實際失效所需的能量。

　　活化能高，表示對溫度變化影響比較顯著。當試驗的溫度與使用溫度差距范圍不大時，Ea可設(shè)為常數(shù)。

　　一般電子產(chǎn)品在早夭期失效的Ea為0.2~0.6eV，正常有用期失效的Ea趨近于1.0eV；衰老期失效的Ea大于1.0eV。

　　根據(jù)Compaq可靠度工程部（CRE）的測試規(guī)范，Ea是機臺所有零件Ea的平均值。如果新機種的Ea無法計算，可以將Ea設(shè)為0.67eV，做常數(shù)處理。

　　3、加速因子計算范例:

　　例1：Ea=0.50eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=25℃+273=298°k，Ta=40℃+273=313°k

　　AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=2.540817563

　　例2：Ea=0.65eV，Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=35℃+273=308°k，Ta=40℃+273=313°k

　　AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=1.478396175/

　　4、MTBF計算范例:

　　例1：某機型為例：30臺樣品，信心度為0.6，MTBF目標值為240000小時，用戶使用溫度為35度，測試溫度為40度。

　　（1）假設(shè)在測試結(jié)束前不失效，求總的運行時間T及MTBF測試要用的天數(shù)D。

　　解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=0， X2(α,2r+2)=1.83

　　240000=1.47*2*T/1.83 T=148748.88h

　　D=T/(30*24)=148748.88/720=206.60天

　�。�2）假設(shè)在測試11天后，有一臺失效，不替換失效樣品，即29臺接著測試，求繼續(xù)測試時需要的總時間t及MTBF測試要用的天數(shù)d。

　　解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2(α,2r+2)=4.04

　　注意：此時總的運行時間T=11*24*30+t ，因為此時已經(jīng)測了11天

　　240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h

　　d=t/(29*24)=320378.45/696=460.31天

　　D=d+11=460.31 + 11=471.31天

　�。�3）假設(shè)在測試11天后，有一臺失效，替換失效樣品，即仍然是30臺接著測試，求繼續(xù)測試時需要的總時間t及MTBF測試要用的天數(shù)d。

　　解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2(α,2r+2)=4.04

　　a: 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h D=T/(30*24)=320378.45/720=455.97天 d=D-11=444.97天

　　b: 此時總的運行時間T=11*24*30+t ，因為此時已經(jīng)測了11天

　　240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h

　　d=t/(29*24)=320378.45/696=444.97天

　　D=d+11=444.97 + 11=455.97天

　　MTBF測試，Burn-in測試，ALT區(qū)別:

　　圖片

　　Burn-in：“老化”測試，指產(chǎn)品在規(guī)定的應(yīng)力條件下，使其特性達到穩(wěn)定的方法。

　　ALT：Accelerated life test，加速壽命測試，是在超過使用環(huán)境條件的應(yīng)力水平下對樣品進行的壽命試驗。