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發(fā)布時(shí)間:2024-03-16
平均故障間隔時(shí)間MTBF MTBF故障率報(bào)告 MTBF壽命測(cè)試報(bào)告 MTBF計(jì)算公式 MTBF平均無(wú)故障連續(xù)運(yùn)行時(shí)間 MTBF加速測(cè)試方法 MTBF報(bào)告 MTBF可靠性報(bào)告 MTBF投標(biāo)報(bào)告 MTBF招投標(biāo)報(bào)告 MTBF招投標(biāo)質(zhì)檢報(bào)告 MTBF工程驗(yàn)收?qǐng)?bào)告 工程驗(yàn)收MTBF報(bào)告
MTBF平均故障率報(bào)告 MTBF故障率報(bào)告 MTBF招投標(biāo)報(bào)告
微: 一三五 一零五八 八一三七
MTBF,即平均故障間隔時(shí)間,英文全稱是“Mean Time Between Failure”,就是從新的產(chǎn)品在規(guī)定的工作環(huán)境條件下開(kāi)始工作到出現(xiàn)個(gè)故障的時(shí)間的平均值。MTBF越長(zhǎng)表示可靠性越高正確工作能力越強(qiáng) 。單位為“小時(shí)”。它反映了產(chǎn)品的時(shí)間質(zhì)量,是體現(xiàn)產(chǎn)品在規(guī)定時(shí)間內(nèi)保持功能的一種能力。
具體來(lái)說(shuō),是指相鄰兩次故障之間的平均工作時(shí)間,也稱為平均故障間隔。它僅適用于維修產(chǎn)品。同時(shí)也規(guī)定產(chǎn)品在總的使用階段累計(jì)工作時(shí)間與故障次數(shù)的比值為MTBF。磁盤陣列產(chǎn)品一般MTBF不能低于50000小時(shí)。MTBF值是產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)要考慮的重要參數(shù),可靠性工程師或設(shè)計(jì)師經(jīng)常使用各種不同的方法與標(biāo)準(zhǔn)來(lái)估計(jì)產(chǎn)品的MTBF值。
在軍品和民品可靠性指標(biāo)中,用得比較多的是 MTBF,針對(duì)此指標(biāo)如何分析和計(jì)算,很多人一直不清楚,本文詳細(xì)介紹關(guān)于MTBF的基礎(chǔ)知識(shí)和計(jì)算實(shí)例,供大家學(xué)習(xí)參考。
基礎(chǔ)知識(shí):MTBF指標(biāo)和計(jì)算方法
1、一般以常用單位計(jì)算
在單位時(shí)間內(nèi)(一般以年為單位),產(chǎn)品的故障總數(shù)與運(yùn)行的產(chǎn)品總量之比叫“故障率”(Failure rate),常用λ表示。例如網(wǎng)上運(yùn)行了100 臺(tái)某設(shè)備,一年之內(nèi)出了2次故障,則該設(shè)備的故障率為0.02次/年。當(dāng)產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布時(shí),其故障率的倒數(shù)就叫做平均故障間隔時(shí)間(Mean Time Between Failures),簡(jiǎn)稱MTBF。即:MTBF=1/λ。
標(biāo)準(zhǔn)故障率的曲線可以用眾所周知的“浴盆曲線”來(lái)描述。所有元件和系統(tǒng)的曲線形狀都近似相同-只是時(shí)間軸方向上的延伸率不同。它可以分 為三個(gè)區(qū)域:早期故障期(I),有效工作期(II),生命終期(III)。MTTF(見(jiàn)下文)包含了區(qū)域I和 II,而MTBF只包含了區(qū)域(II)。
圖片
例如,某型號(hào)YY產(chǎn)品的MTBF時(shí)間高達(dá)16萬(wàn)小時(shí)。16萬(wàn)小時(shí)約為18年,并不是說(shuō)YY產(chǎn)品每臺(tái)均能工作18年不出故障。
由MTBF=1/λ可知,λ=1/MTBF=1/18年(假如YY產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布),即YY產(chǎn)品平均年故障率約為5.5%,一年內(nèi),平均1000臺(tái)設(shè)備有55臺(tái)會(huì)出故障。
整機(jī)可靠性指標(biāo)用平均故障間隔時(shí)間表示:
MTBF=(T1+T2+…Tn)/ rn
式中:MTBF——整機(jī)的平均故障間隔時(shí)間,h;
Ti——第i臺(tái)被試整機(jī)的累計(jì)工作時(shí)間,h;
rn——被試整機(jī)在試驗(yàn)期間內(nèi)出現(xiàn)的故障總數(shù)。
2、串并聯(lián)部件所導(dǎo)致的MTBF不同 λ=1/MTBF(h)
如果兩個(gè)部件串聯(lián)工作,其中一個(gè)發(fā)生失效,整個(gè)功能就失效了,串聯(lián)結(jié)構(gòu)的:
λ總=λ1+λ2或MTBF總=1/(λ1+λ2)
對(duì)于并聯(lián)或冗余的結(jié)構(gòu),雖然一個(gè)部件失效,但仍然維持功能的完整性(100%);
1/λ總=(1/λ1)+(1/λ2)+(1/(λ1+λ2))或 MTBF總=(λ21 + λ1λ2 +λ22)/(λ21λ2 +λ1λ22)
3、一般產(chǎn)品的MTBF計(jì)算
平均失效(故障)前時(shí)間(MTTF)
設(shè)N0個(gè)不可修復(fù)的產(chǎn)品在同樣條件下進(jìn)行試驗(yàn),測(cè)得其全部失效時(shí)間為T1,T2,……TN0。其平均失效前時(shí)間(MTTF)為:MTTF = (T1+T2+…Tn)/N0
由于對(duì)不可修復(fù)的產(chǎn)品,失效時(shí)間即是產(chǎn)品的壽命,故MTTF也即為平均壽命。
當(dāng)產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布時(shí),MTTF=1/λ
平均故障間隔時(shí)間(MTBF)
一個(gè)可修復(fù)產(chǎn)品在使用過(guò)程中發(fā)生了N0次故障,每次故障修復(fù)后又重新投入使用,測(cè)得其每次工作持續(xù)時(shí)間為T1,T2,……TN0,其平均故障間隔時(shí)間MTBF為:MTBF=T/N0
其中,T為產(chǎn)品總的工作時(shí)間。
對(duì)于完全修復(fù)的產(chǎn)品,因修復(fù)后的狀態(tài)與新產(chǎn)品一樣,一個(gè)產(chǎn)品發(fā)生了N0次故障相當(dāng)于N0個(gè)新產(chǎn)品工作到故障。因此:MTBF=MTTF。
當(dāng)產(chǎn)品的壽命服從指數(shù)分布時(shí),產(chǎn)品的故障率為常數(shù)λ,則MTBF=MTTF=1/λ。
平均修復(fù)時(shí)間(MTTR)
其觀測(cè)值是修復(fù)時(shí)間t的總和與修復(fù)次數(shù)之比:MTTR=(T1+T2+…Tn)/n
式中:ti——第i次修復(fù)時(shí)間;n——修復(fù)次數(shù)。
4、簡(jiǎn)單計(jì)算(通過(guò)溫度系數(shù))
MTBF = Total Test Time*Acceleration Factor/Coefficient (refer to the table)
Total Test Time = (sample size)*(test days)*(power on hour/day)
Acceleration Factor = e (Ea/Kb) (1/Tn-1/Ta)
Ta = Burn – in Room Test Temperature
Tn = Normal Temperature
計(jì)算案例
1、產(chǎn)品可靠度指標(biāo)-指數(shù)分布應(yīng)用范例
例:MTBF=70000小時(shí)的產(chǎn)品在使用4年后,其失效的機(jī)率?(假設(shè)產(chǎn)品平均每天使用10小時(shí))
解:F(t)=1-R(t) = 1- e-λt =1-e-t/MTBF
t=10小時(shí) * 365天 * 4年=14600小時(shí)
MTBF= 1/λ=70000
四年失效機(jī)率:
F(14600)=1-e-14600/70000=1-e-0.21=0.1882=18.82%
四年可靠度:
R(14600)=1-0.19=0.8118=81%
例:MTBF=70000小時(shí)的產(chǎn)品在使用6個(gè)月后,其失效的機(jī)率?(假設(shè)產(chǎn)品平均每天使用10小時(shí))
解:F(t)=1-R(t) = 1- e-λt =1-e-t/MTBF
t=10h* 30天* 6個(gè)月=1800小時(shí)
MTBF= 1/λ=70000
6個(gè)月後失效率:
F(14600)=1-e-1800/70000=1-e-0.0257=0.0254=2.54%
6個(gè)月可靠度:
R(14600)=1-0.0254=0.9746=97.46%/
2、MTBF計(jì)算公式(通過(guò)溫度系數(shù)):
MTBF = Total Test Time*Acceleration Factor/Coefficient (refer to the table)
AF:Accelerate Factor,加速因子
T:Total Power on Time,總的開(kāi)機(jī)運(yùn)行時(shí)間
X2(α,2r+2):卡方公式
C:Confidential Level,信心度水平
α:生產(chǎn)者的冒險(xiǎn)率,即:1-C
r:失效數(shù),Number of Failures
加速因子AF :
加速因子即為產(chǎn)品在正常使用條件下的壽命和高測(cè)試應(yīng)力條件下的壽命的比值。
如果溫度是產(chǎn)品的加速因素,一般采用Arrhenius Model(阿氏模型)。當(dāng)產(chǎn)品壽命適用于阿氏模型,則其加速因子公式為:AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}。
Ea:活化能,單位eV
Kb:Boltzmann Constant波茲曼常數(shù),(0.00008623eV/°k)
Tn:正常操作條件溫度(°k)
Ta:加速壽命試驗(yàn)條件溫度(°k)
活化能Ea定義:
是分子與化學(xué)或物理作用中需具備的能量,單位為eV (electron-Volts)。用以超越阻隔潛在故障與實(shí)際失效所需的能量。
活化能高,表示對(duì)溫度變化影響比較顯著。當(dāng)試驗(yàn)的溫度與使用溫度差距范圍不大時(shí),Ea可設(shè)為常數(shù)。
一般電子產(chǎn)品在早夭期失效的Ea為0.2~0.6eV,正常有用期失效的Ea趨近于1.0eV;衰老期失效的Ea大于1.0eV。
根據(jù)Compaq可靠度工程部(CRE)的測(cè)試規(guī)范,Ea是機(jī)臺(tái)所有零件Ea的平均值。如果新機(jī)種的Ea無(wú)法計(jì)算,可以將Ea設(shè)為0.67eV,做常數(shù)處理。
3、加速因子計(jì)算范例:
例1:Ea=0.50eV,Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=25℃+273=298°k,Ta=40℃+273=313°k
AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=2.540817563
例2:Ea=0.65eV,Kb= 0.00008623eV/°k, Tn=35℃+273=308°k,Ta=40℃+273=313°k
AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}=1.478396175/
4、MTBF計(jì)算范例:
例1:某機(jī)型為例:30臺(tái)樣品,信心度為0.6,MTBF目標(biāo)值為240000小時(shí),用戶使用溫度為35度,測(cè)試溫度為40度。
(1)假設(shè)在測(cè)試結(jié)束前不失效,求總的運(yùn)行時(shí)間T及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)D。
解:MTBF=240000h,AF=1.47,C=0.6,α=1-C=0.4,r=0, X2(α,2r+2)=1.83
240000=1.47*2*T/1.83 T=148748.88h
D=T/(30*24)=148748.88/720=206.60天
(2)假設(shè)在測(cè)試11天后,有一臺(tái)失效,不替換失效樣品,即29臺(tái)接著測(cè)試,求繼續(xù)測(cè)試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)d。
解:MTBF=240000h,AF=1.47,C=0.6,α=1-C=0.4,r=1, X2(α,2r+2)=4.04
注意:此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ,因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測(cè)了11天
240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h
d=t/(29*24)=320378.45/696=460.31天
D=d+11=460.31 + 11=471.31天
。3)假設(shè)在測(cè)試11天后,有一臺(tái)失效,替換失效樣品,即仍然是30臺(tái)接著測(cè)試,求繼續(xù)測(cè)試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測(cè)試要用的天數(shù)d。
解:MTBF=240000h,AF=1.47,C=0.6,α=1-C=0.4,r=1, X2(α,2r+2)=4.04
a: 240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h D=T/(30*24)=320378.45/720=455.97天 d=D-11=444.97天
b: 此時(shí)總的運(yùn)行時(shí)間T=11*24*30+t ,因?yàn)榇藭r(shí)已經(jīng)測(cè)了11天
240000=1.47*2*T/4.04 T=328298.45h, t=320378.45h
d=t/(29*24)=320378.45/696=444.97天
D=d+11=444.97 + 11=455.97天
MTBF測(cè)試,Burn-in測(cè)試,ALT區(qū)別:
圖片
Burn-in:“老化”測(cè)試,指產(chǎn)品在規(guī)定的應(yīng)力條件下,使其特性達(dá)到穩(wěn)定的方法。
ALT:Accelerated life test,加速壽命測(cè)試,是在超過(guò)使用環(huán)境條件的應(yīng)力水平下對(duì)樣品進(jìn)行的壽命試驗(yàn)。