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常州實(shí)用電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-06-10

    電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)是一個(gè)復(fù)雜的過(guò)程,需要時(shí)間,可靠性測(cè)試對(duì)于產(chǎn)品的耐用性來(lái)說(shuō)十分的關(guān)鍵。比如溫度和濕度的可靠性測(cè)試,可以體現(xiàn)電子產(chǎn)品在極端的高溫和低溫下的狀態(tài),這種溫度和濕度的測(cè)試,可以檢驗(yàn)氣候?qū)﹄娮赢a(chǎn)品的影響。一、現(xiàn)代電子產(chǎn)品的特點(diǎn)電子產(chǎn)品是指利用電子技術(shù)制造出來(lái)的以電能為工作基礎(chǔ)的相關(guān)產(chǎn)品,包括電力/電氣設(shè)備和微電子儀器、設(shè)備和系統(tǒng)等。電子產(chǎn)品普遍應(yīng)用于**、國(guó)民經(jīng)濟(jì)各部門(mén)及人民生活的各個(gè)領(lǐng)域。早期的電子產(chǎn)品主要以電子管為基礎(chǔ)元件進(jìn)行制造,功能比較簡(jiǎn)單,電路和結(jié)構(gòu)也不復(fù)雜,制造難度不大。伴隨著生產(chǎn)和科學(xué)技術(shù)的發(fā)展、新工藝和新材料的應(yīng)用,以及超小型化元器件和中大規(guī)模、超大規(guī)模集成電路的研制和推廣,電子產(chǎn)品在電路上和結(jié)構(gòu)上發(fā)生了巨大的變化,小型化、超小型化、微型化結(jié)構(gòu)的出現(xiàn),使得一些傳統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法逐漸被機(jī)電結(jié)合、光電結(jié)合等新技術(shù)所取代。隨著產(chǎn)品性能的不斷增強(qiáng)、復(fù)雜程度的不斷提高和應(yīng)用領(lǐng)域的不斷拓展,電子產(chǎn)品的可靠性要求日益提高,特別是在通信、生命醫(yī)療和航空/航天等領(lǐng)域,電子產(chǎn)品的可靠性已成為衡量電子產(chǎn)品使用性能的重要指標(biāo)。與早期的電子產(chǎn)品相比,現(xiàn)代電子產(chǎn)品具有以下特點(diǎn)。。電子產(chǎn)品方便了人們的生活。常州實(shí)用電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)

    如溫度、濕度、鹽霧、氣壓、海拔高度、大氣污染顆粒等都會(huì)對(duì)電子元器件的正常運(yùn)行產(chǎn)生影響,使其電氣性能下降,甚至損傷元器件,從而引發(fā)故障。(2)機(jī)械結(jié)構(gòu)電子產(chǎn)品的機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)要滿(mǎn)足使用工況的要求,強(qiáng)烈的機(jī)械振動(dòng)或碰撞會(huì)使設(shè)備產(chǎn)生機(jī)械結(jié)構(gòu)的損傷變形,甚至導(dǎo)致電子元器件的物理?yè)p傷或失效,致使電子產(chǎn)品無(wú)法正常運(yùn)行。(3)電磁環(huán)境環(huán)境中的電磁波無(wú)處不在,電子產(chǎn)品在運(yùn)行中,無(wú)時(shí)無(wú)刻不與空間中的電磁信號(hào)進(jìn)行接觸。在電磁信號(hào)的影響下,電子電路的噪聲會(huì)變大,穩(wěn)定性會(huì)變差,如果干擾嚴(yán)重,甚至?xí)?dǎo)致設(shè)備運(yùn)行故障,或危及人身安全。(4)組裝工藝除元器件品質(zhì)及設(shè)計(jì)因素外,制造過(guò)程也會(huì)直接影響產(chǎn)品的可靠性,組裝工藝的不同會(huì)直接影響連接牢固度、密封性、耐環(huán)境腐蝕能力等,進(jìn)而影響電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。事實(shí)上,除使用可靠性外,電子產(chǎn)品的固有可靠性和環(huán)境適應(yīng)性,都是由設(shè)計(jì)、制造過(guò)程決定的,也就是說(shuō),電子產(chǎn)品制造出來(lái)后,電子產(chǎn)品的主要可靠性指標(biāo)已經(jīng)固定不變了,外部環(huán)境只是對(duì)可靠性的一種考驗(yàn),因此,提高電子產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵在于提高設(shè)計(jì)和制造水平。五、提高電子產(chǎn)品可靠性的主要措施提高電子產(chǎn)品可靠性主要是指提高其固有可靠性。常州實(shí)用電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)電子產(chǎn)品如何進(jìn)行維護(hù)?

    可靠性壽命試驗(yàn)是各種可靠性試驗(yàn)中主要的內(nèi)容,也是與統(tǒng)計(jì)方法關(guān)系密切的內(nèi)容。(2)可靠性環(huán)境試驗(yàn)可靠性環(huán)境試驗(yàn)研究各種環(huán)境條件對(duì)元器件的影響。環(huán)境應(yīng)力是指產(chǎn)品工作時(shí)所承受的不利環(huán)境條件,如溫度、濕度、電壓、污染、振動(dòng)、霧、輻射等。(3)可靠性篩選試驗(yàn)可靠性篩選試驗(yàn)是對(duì)合格產(chǎn)品進(jìn)行全數(shù)檢查,淘汰潛在的早期失效元器件,以提高整批元器件的可靠性??煽啃院Y選試驗(yàn)是提高產(chǎn)品可靠性行之有效的基礎(chǔ)工作。(4)整機(jī)可靠性鑒定試驗(yàn)整機(jī)可靠性鑒定試驗(yàn)安排在新產(chǎn)品試制成功以后,目的是驗(yàn)證設(shè)備設(shè)計(jì)能否在規(guī)定的環(huán)境條件下滿(mǎn)足規(guī)定的性能及可靠性要求。這種試驗(yàn)是以壽命試驗(yàn)的方式進(jìn)行的,要求對(duì)設(shè)備的平均壽命做出定量的鑒定。(5)整機(jī)可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)當(dāng)產(chǎn)品投入連續(xù)生產(chǎn)后,應(yīng)對(duì)整機(jī)安排一系列定期試驗(yàn),用以確定設(shè)備能否滿(mǎn)足相應(yīng)的性能和可靠性要求,用來(lái)確定每批產(chǎn)品是否可以出廠(chǎng)交付使用。可靠性驗(yàn)收試驗(yàn)雖然也是以壽命試驗(yàn)的方式進(jìn)行的,但它只要求制定一個(gè)簡(jiǎn)單的驗(yàn)收方案和驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),供試驗(yàn)工作人員掌握并做出判斷。整機(jī)可靠性驗(yàn)收方案及其驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)稱(chēng)為可靠性抽樣檢驗(yàn)方案。三)按試驗(yàn)?zāi)康姆诸?lèi)按試驗(yàn)?zāi)康姆诸?lèi),可靠性試驗(yàn)包括:。

    1)產(chǎn)品組成更復(fù)雜,組裝密度更大早期的電子產(chǎn)品通常由少量電子管及分立元件通過(guò)簡(jiǎn)單連接搭建而成,功能單一?,F(xiàn)代電子產(chǎn)品通常具有多種功能,產(chǎn)品組成更復(fù)雜,元器件、零部件數(shù)量更多,同時(shí)產(chǎn)品的體積和質(zhì)量更小,因此組裝密度更大。尤其是超大規(guī)模集成電路及其衍生的各種功能模塊的出現(xiàn),使電子產(chǎn)品的組裝密度較過(guò)去大幅提高。(2)設(shè)備使用范圍廣,所處工作環(huán)境復(fù)雜隨著應(yīng)用場(chǎng)合的不斷拓展,電子產(chǎn)品需要適應(yīng)的工作環(huán)境的范圍不斷擴(kuò)大?,F(xiàn)代電子產(chǎn)品往往要在惡劣而苛刻的環(huán)境下工作,如地質(zhì)鉆探、海上作業(yè)、南極科考、深空探測(cè)等。此時(shí)產(chǎn)品需要承受高溫、低溫和巨大溫差變化,高濕度和低氣壓,強(qiáng)烈的沖擊和振動(dòng),外界的電磁干擾與宇宙射線(xiàn)輻射等。這些都會(huì)對(duì)電子產(chǎn)品的正常工作產(chǎn)生影響。(3)設(shè)備可靠性要求高、壽命長(zhǎng)早期電子產(chǎn)品由于結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、功能單一、所用元器件數(shù)量少,往往不容易出現(xiàn)使用問(wèn)題,而且即使偶爾出現(xiàn)故障,維修起來(lái)也相對(duì)容易。而現(xiàn)代電子產(chǎn)品復(fù)雜程度、精密性更高,元器件數(shù)量更多,如果出現(xiàn)故障,維修的難度和代價(jià)將大幅提升,因此要求具有更高的可靠性和足夠長(zhǎng)的工作壽命,而可靠性低的電子產(chǎn)品將失去使用價(jià)值。為獲得高可靠性電子產(chǎn)品。電子產(chǎn)品的優(yōu)缺點(diǎn)有哪些?

    提高電子產(chǎn)品的防護(hù)能力,進(jìn)而提高電子產(chǎn)品的可靠性。結(jié)構(gòu)可靠性設(shè)計(jì)的作用及要求主要包括:①通過(guò)采用有效的散熱裝置控制元器件的溫升;②消減振動(dòng)、沖擊、碰撞等機(jī)械因素對(duì)產(chǎn)品造成的危害;③排除內(nèi)部與外部的噪聲干擾;④加強(qiáng)防腐、防潮、防霉的研究,延長(zhǎng)結(jié)構(gòu)材料使用壽命;⑤設(shè)計(jì)過(guò)程應(yīng)遵循標(biāo)準(zhǔn)化、系列化、通用化要求。2.可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證可靠性試驗(yàn)是研究失效及其影響結(jié)果,并為提高或評(píng)價(jià)試驗(yàn)對(duì)象的可靠性而進(jìn)行的各種試驗(yàn)的總稱(chēng)。從廣義上說(shuō),凡是為了了解、評(píng)價(jià)、考核、分析和提高可靠性而進(jìn)行的試驗(yàn),都可稱(chēng)為可靠性試驗(yàn)??煽啃栽囼?yàn)技術(shù)是在20世紀(jì)50年代開(kāi)始發(fā)展起來(lái)的,應(yīng)用于**產(chǎn)品,至今已在航空、航天、電子、自動(dòng)化、汽車(chē)和計(jì)算機(jī)等行業(yè)普遍應(yīng)用??煽啃栽囼?yàn)是對(duì)產(chǎn)品的可靠性進(jìn)行調(diào)研、分析和評(píng)估的一種重要手段,也是提高和保證產(chǎn)品可靠性的一個(gè)重要環(huán)節(jié)。當(dāng)一個(gè)產(chǎn)品制造出來(lái)后,原則上,其性能指標(biāo)應(yīng)該可以達(dá)到原設(shè)計(jì)所規(guī)定的可靠性要求,但實(shí)際情況要復(fù)雜得多。事實(shí)上,設(shè)計(jì)過(guò)程很難將所有的可靠性問(wèn)題考慮周全,不同的可靠性指標(biāo)間甚至存在矛盾或矛盾,只能采用折中設(shè)計(jì),對(duì)于復(fù)雜系統(tǒng),這種情況更為明顯。因此。電子產(chǎn)品主要包括哪些?臺(tái)州便捷式電子產(chǎn)品廠(chǎng)家

電子產(chǎn)品的主要作用有哪些?常州實(shí)用電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)

    固有屬性則受產(chǎn)品的復(fù)雜程度、電路和元器件的選擇與使用、元器件的工作參數(shù)及可靠性及機(jī)械結(jié)構(gòu)和制造工藝等因素的影響??傮w而言,電路及結(jié)構(gòu)越復(fù)雜,所用的元器件越多,制造工序越多,則產(chǎn)品的固有可靠性越低。(2)使用可靠性使用可靠性是指使用和維護(hù)人員對(duì)產(chǎn)品可靠性的影響。它包括使用與維護(hù)的程序是否正確、設(shè)備選用是否合理、操作方法是否得當(dāng)及其他人為因素。使用可靠性在很大程度上取決于使用設(shè)備的人。熟練而正確的操作、及時(shí)的維護(hù)和保養(yǎng)都能明顯提高產(chǎn)品的使用可靠性。使用可靠性與人機(jī)工程的設(shè)計(jì)有直接關(guān)系。(3)環(huán)境適應(yīng)性環(huán)境適應(yīng)性是指產(chǎn)品所處的環(huán)境條件對(duì)可靠性的影響,包括自然環(huán)境、機(jī)械環(huán)境和電磁環(huán)境等,提高設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性,主要是對(duì)設(shè)備采取各種有效的防護(hù)措施。四、影響電子產(chǎn)品可靠性的主要因素一般來(lái)說(shuō),電子產(chǎn)品的可靠性與壽命有關(guān)。電子元器件的平均壽命越長(zhǎng),電子產(chǎn)品的可靠性往往越高。但可靠性與壽命又不是同一個(gè)概念,電子產(chǎn)品的可靠性高,不一定壽命就長(zhǎng),壽命長(zhǎng)其可靠性也不一定高,這都與使用要求有關(guān)。影響電子產(chǎn)品可靠性的要素主要包括以下幾個(gè):(1)自然環(huán)境電子元器件在工作中受環(huán)境因素影響較大。常州實(shí)用電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)

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