【光譜特性不良產(chǎn)生的原因】膜系設(shè)計時的膜厚、折射率允差太小，試制時的分光曲線在技術(shù)要求的邊緣，制造中稍有偏差就導(dǎo)致分光不良。設(shè)計的膜料折射率與實際的折射率有差異,或發(fā)生了變異。實被的中心波長(膜厚)與希望達到的中心波長(膜厚)有差異,或發(fā)生了変異。( tooling值(也有F值)有偏差)。制造中出了差錯;如膜料用錯、程序用錯、預(yù)熔時沒關(guān)擋板等。工藝條件改變:真空度、充氧星、加熱溫度、蒸發(fā)速率、基片旋轉(zhuǎn)速度、離子輔助條件等。材料變更,如不同廠家生產(chǎn)的同種光學(xué)材料(基片材料和膜料)在光學(xué)性能化學(xué)性能有所不同(有時同廠家不同生產(chǎn)批次也有不同),生產(chǎn)過程中(特別是大批量生產(chǎn))材料突然變更(末作論證),就可能造成分光不良。 用于測試分光的比較片表面特性變異,造成分光測試不良(也許鏡片的分光是OK的,可以比較二者的反射膜se)。這也許是容易忽視的一個問題,又是一個常見的可題,特別是高折射率的測試比較片表面形成一層腐蝕層,相當(dāng)于有了一層減反膜(很薄),膜層不是堆積在基片上,而是堆積在蝕層上,于是比較片上的分光就會不準確、不穩(wěn)定。 光學(xué)鍍膜設(shè)備參數(shù)怎么調(diào)？吉林致密光學(xué)鍍膜設(shè)備
【常見的柵網(wǎng)材質(zhì)】常見的柵網(wǎng)材質(zhì)包括鉬柵網(wǎng)和石墨柵網(wǎng)：石墨柵網(wǎng)的腐蝕速度比鉬柵網(wǎng)慢，壽命更長。但某些工藝涂層材料可能會降低石墨柵網(wǎng)的使用壽命，并且石墨難清洗易碎，而鉬柵網(wǎng)易于重復(fù)清洗使用少數(shù)工藝特殊要求可選擇鈦、鋼鐵、合金等。柵網(wǎng)束型根據(jù)具體工藝進行選擇，由于鉬柵網(wǎng)熱膨脹系數(shù)高，通常采用蝶形及花瓣狀圓盤石墨網(wǎng)由于整體易碎特點通常為規(guī)則矩形或圓形，采用微開孔型，故發(fā)散角相對鉬網(wǎng)小。柵網(wǎng)間距一般幾毫米，考慮到電壓差，距離過近易被擊穿，距離過遠則難以控制離子束。吉林致密光學(xué)鍍膜設(shè)備光學(xué)鍍膜設(shè)備的工作原理。
【光學(xué)薄膜的定義】 涉及光在傳播路徑過程中,附著在光學(xué)器件表面的厚度薄而均勻的介質(zhì)膜層,通過分層介質(zhì)膜層時的反射、透(折)射和偏振等特性,以達到我們想要的在某一或是多個波段范圍內(nèi)的光的全部透過或光的全部反射或偏振分離等各特殊形態(tài)的光. 光學(xué)薄膜系指在光學(xué)元件或duli基板上,制鍍上或涂布一層或多層介電質(zhì)膜或金屬膜或這兩類膜的組合,以改變光波之傳遞特性,包括光的透射、反射、吸收、散射、偏振及相位改變.故經(jīng)由適當(dāng)設(shè)計可以調(diào)變不同波段元件表面之穿透率及反射率,亦可以使不同偏振平面的光具有不同的特性. 一般來說,光學(xué)薄膜的生產(chǎn)方式主要分為干法和濕法的生產(chǎn)工藝.所謂的干式就是沒有液體出現(xiàn)在整個加工過程中,例如真空蒸鍍是在一真空環(huán)境中,以電能加熱固體原物料,經(jīng)升華成氣體后附著在一個固體基材的表面上,完成涂布加工.日常生活中所看到裝飾用的金se、銀se或具金屬質(zhì)感的包裝膜,就是以干式涂布方式制造的產(chǎn)品.但是在實際量產(chǎn)的考慮下,干式涂布運用的范圍小于濕式涂布.濕式涂布一般的做法是把具有各種功能的成分混合成液態(tài)涂料,以不同的加工方式涂布在基材上,然后使液態(tài)涂料干燥固化做成產(chǎn)品。
【如何清洗光學(xué)鍍膜機】設(shè)備使用一個星期后，因鍍料除鍍在工件表面外，亦因無定向性而工作室內(nèi)的襯板上鍍料，并越鍍越厚，該層膜厚因組織、繞疏松，吸收大量氣體而造成真空鍍膜設(shè)備抽氣越來越慢。此時，應(yīng)對工作室及襯板進行清洗，如不必要拆落來的部件，可用砂紙打磨干凈，襯板可浸泡在氫氟酸水溶液里，氫氟酸和水的比例看需要浸泡時間長短以及不傷襯板為原則。 因此，襯板必須烘干水份才能安裝，烘干前，襯板的水分盡量抹干，工作架等部件用砂紙清潔后，需要把真空室的所有灰塵清理干凈，此可用吸塵器吸干凈灰塵。安裝襯板時，真空室及襯板都需要用酒精控拭干凈。如使用電子qiang及離子源輔助鍍膜，可能會造成清潔困難，可使用噴沙等方法來清潔。 光學(xué)鍍膜設(shè)備產(chǎn)業(yè)集群。
【光學(xué)鏡片鍍膜的膜形核過程之單層生長模式（層狀生長）】單層生長模式（Frank一VanderMerwe型），又稱之為弗蘭克一范德摩夫型，是層狀生長模式。該類型的生長便是業(yè)內(nèi)說的理想的外延生長，作為同質(zhì)外延，如若是異質(zhì)外延，在引入失配位錯之后，便形成外延生長。而在晶體失配位錯發(fā)生前，那些沉積的原子是根據(jù)基片的晶體同期來排列的。通常把這種結(jié)構(gòu)稱作“膺結(jié)構(gòu)”。這種膜生長一般是在光學(xué)鏡片鍍膜時，沉積的原子和基底原子之間的相互作用力很da，da過沉積的原子之間的聚合力的情況下，沉積的原子會構(gòu)成一種二維的簿層堆積，堆積成層狀的鍍膜生長模式。光學(xué)鍍膜設(shè)備主要用途？江西光學(xué)鍍膜設(shè)備配件
紅外光學(xué)鍍膜設(shè)備制造商。吉林致密光學(xué)鍍膜設(shè)備
【檢測光學(xué)鍍膜機鍍膜膜厚均勻性的方法】一種檢測光學(xué)鍍膜機鍍膜膜厚均勻性的方法,包括下列步驟:第一步:設(shè)計本發(fā)明雙腔濾光片膜系;第二步:模擬計算膜層厚度變化對所訴雙腔濾光片峰值透過率及中心波長的影響;第三步:計算尖峰極值點透過率比值與膜層光學(xué)厚度比值,中心波長與總光學(xué)厚度,兩組數(shù)學(xué)關(guān)系.第四步:根據(jù)第三步的數(shù)學(xué)關(guān)系,求解計算膜厚的公式;第五步:從工件盤中心到邊緣擺放數(shù)量大于2的基片,沉積本發(fā)明所述雙腔濾光片,測量出每一片的中心波長和尖峰極值透過率,用第四步的公式計算出每一片兩種膜層厚度,得到鍍膜機鍍膜膜厚度分布即膜厚均勻性.實驗表明:本發(fā)明可以快速準確獲得光學(xué)鍍膜機鍍膜膜厚均勻性數(shù)據(jù),為鍍膜機鍍膜膜厚均勻性修正提供依據(jù)。吉林致密光學(xué)鍍膜設(shè)備
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