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高清SEM掃描電鏡正極材料晶界分布特征檢測

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-02-01

鋰離子電池負(fù)極材料的顆粒性質(zhì)對LIBs的初次效率、循環(huán)性能等有重重要影響,通常會使用SEM掃描電鏡觀察負(fù)極材料的顆粒尺寸、粒徑、形貌等特征。目前負(fù)極材料主要包括碳負(fù)極材料、金屬氧化物、合金材料和硅基材料。碳材料是目前常用的負(fù)極材料,包括石墨、軟碳、硬碳和一些新型碳材料如碳納米管、富勒烯。

在電池材料的檢測方面,我們會使用一系列先進(jìn)的儀器和設(shè)備。其中,X射線衍射儀和掃描電子顯微鏡是常用的設(shè)備之一。這些設(shè)備可以提供關(guān)于材料晶體結(jié)構(gòu)、形貌、成分分布等詳細(xì)信息。此外,我們還會使用能量色散光譜儀、光譜紅外顯微鏡等設(shè)備來進(jìn)一步分析材料的化學(xué)組成和結(jié)構(gòu)特征。

我們擁有20個(gè)自營實(shí)驗(yàn)室和豐富的儀器設(shè)備資源,能夠同時(shí)處理大量的測試和失效分析項(xiàng)目。我們的服務(wù)特色之一是全國SEM、AFM云現(xiàn)場,這是我們利用先進(jìn)的儀器和技術(shù)提供的一種高效、便捷的遠(yuǎn)程服務(wù)??蛻魺o需親自到場,只需通過互聯(lián)網(wǎng)連接,我們的專業(yè)技術(shù)老師就能為他們提供及時(shí)、準(zhǔn)確的測試結(jié)果和失效分析報(bào)告。 通過SEM掃描電鏡,我們能夠快速分析電池材料的晶體結(jié)構(gòu)、成分分布和缺陷情況,為客戶提供可靠的數(shù)據(jù)支持。高清SEM掃描電鏡正極材料晶界分布特征檢測

為了深入理解陰極材料的電化學(xué)行為,科研人員需要對其進(jìn)行精細(xì)的元素分析。盡管EDS能量散射譜技術(shù)可以對陰極上的多種元素進(jìn)行定性和定量分析,但它對于鋰離子(Li)的探測卻存在一定的局限性。近年來,鋰離子電池的發(fā)展在能源儲存領(lǐng)域占據(jù)了重要地位,而其中陰極材料的電化學(xué)性能對電池的整體表現(xiàn)具有決定性影響。

然而,TOF-SIMS(飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜)技術(shù)的出現(xiàn)為科研人員提供了新的途徑。這種技術(shù)不僅可以檢測所有元素,而且對于含量較低的輕元素如Li具有出色的靈敏度。當(dāng)與FIB-SSEM(聚焦離子束-掃描電子顯微鏡)結(jié)合使用時(shí),TOF-SIMS的空間分辨率得到了顯著提高,能夠在高分辨率下觀察樣品的形貌、截面以及各種元素的分布情況。通過SEM,可以清晰地觀察到陰極材料在充放電過程中的微觀結(jié)構(gòu)變化。這些變化可能會影響電池的性能,如充放電速率和容量。此外,SEM還可以配備EDS探測器,從而在觀察形貌的同時(shí)進(jìn)行元素分析。

我們的團(tuán)隊(duì)主要成員全部來自全球高等學(xué)府,如美國密歇根大學(xué)、卡耐基梅隆大學(xué)、瑞典皇家工學(xué)院、浙江大學(xué)、上海交通大學(xué)、同濟(jì)大學(xué)等,擁有豐富的專業(yè)知識和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。我們從人員、設(shè)備儀器、實(shí)驗(yàn)室規(guī)模等方面不斷拓展和提升,為客戶提供更便捷的服務(wù)。 專業(yè)SEM掃描電鏡正極材料內(nèi)部微裂紋檢測我們擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富的檢測團(tuán)隊(duì),專注于SEM掃描電鏡在電池材料方面的應(yīng)用檢測。

我們公司使用的蔡司顯微鏡蔡司X射線顯微鏡XRM、蔡司顯微鏡光學(xué)顯微鏡及FIB-SEM組成的多尺度、多維度關(guān)聯(lián)分析平臺,為鋰電材料提供從粉料、極片到電芯層級,從新鮮、活化到老化全生命周期的微觀性能分析,即使是商業(yè)化電芯內(nèi)部的微納米級缺陷,也可以輕松識別并分析。

我們深知不同用戶對電池材料測試的需求存在差異。無論您是電池材料生產(chǎn)商還是研究機(jī)構(gòu),我們都能夠?yàn)槟峁┻m合的檢測方案。我們的SEM掃描電鏡檢測技術(shù)可以幫助您快速獲得電池材料的微觀形貌、成分分布和晶體結(jié)構(gòu)等信息,為您的研究和生產(chǎn)提供準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)支持。

作為一家專業(yè)的電池材料測試公司,我們擁有一支高度專業(yè)化的團(tuán)隊(duì)。我們的工程師均有鋰鈉電池專業(yè)或從業(yè)背景,熟悉產(chǎn)品研發(fā)與測試分析路徑,對用戶測試需求及想要得到的結(jié)果非常熟悉,有成功開發(fā)上百家新能源電池材料企業(yè)的經(jīng)驗(yàn)。由于我們的專業(yè)性和服務(wù)質(zhì)量,許多企業(yè)都選擇與我們建立長期合作關(guān)系,信賴我們的專業(yè)能力和服務(wù)品質(zhì)。這種長期合作和信賴是我們持續(xù)提供滿意的服務(wù)的動(dòng)力和保障。

近年來SEM掃描電子顯微學(xué)分析技術(shù)已經(jīng)成為表征電池材料的主要手段,掃描電子顯微鏡(SEM) 作為顯微鏡的重要分支,具有放大倍率寬、適用樣品廣、立體 成像效果好和綜合分析能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn),在表征形貌、輔助機(jī)理研究以及分析微區(qū)元素組成等方面有獨(dú)特的優(yōu)勢,一定程度上彌補(bǔ)了上述顯微鏡的不足。

在電池研究中,原位SEM是一種非常有效的方法,使研究人員能夠觀察鋰電池的運(yùn)行情況,為電池循環(huán)中涉及的關(guān)鍵過程提供關(guān)鍵定量化的信息。例如,通過檢查鋰枝晶的生長和SEI層的形成-破裂等現(xiàn)象,原位SEM有助于提高我們對電池行為的理解。此外,該技術(shù)已被用于研究溫度、濕度、電解液、運(yùn)行時(shí)間和電極結(jié)構(gòu)等變量對電池性能的影響,為開發(fā)新型電池材料和設(shè)計(jì)靈敏檢測系統(tǒng)提供了重要信息。

電池是由電極、電解質(zhì)與隔膜等材料組成,能將化學(xué)能轉(zhuǎn)化成電能的裝置。SEM是電池材料形貌表征便捷的表征手段之一,能清楚地反映和記錄材料的三維形貌特征,粉末、塊狀、片狀的電極材料均可用SEM進(jìn)行直接觀察,獲得不同放大倍數(shù)的圖像??傊覀兪褂?/span>先進(jìn)的儀器和設(shè)備對電池材料進(jìn)行全方面的檢測和分析并采取一系列措施來解決可能出現(xiàn)的問題,我們的專業(yè)知識和經(jīng)驗(yàn)可以幫助您在電池研發(fā)過程中取得成功。 SEM掃描電鏡技術(shù)可以幫助客戶分析電池材料的形貌和結(jié)構(gòu)的變化趨勢。

利用SEM掃描電鏡檢測電池材料技術(shù),我們能夠全方面觀察和分析材料的微觀結(jié)構(gòu)。我們能夠觀察到材料的晶粒形貌、界面結(jié)合情況等關(guān)鍵信息,為您提供準(zhǔn)確可靠的材料分析結(jié)果。

鋰離子電池的能量密度、循環(huán)壽命和倍率等性能從根本上取決于體相的理化反應(yīng)、結(jié)構(gòu)變化、機(jī)械性能,形態(tài)演變以及界面反應(yīng)等。伴隨著鋰電池產(chǎn)品質(zhì)量要求的不斷提升與材料體系的迭代創(chuàng)新,多種表征、檢測、計(jì)算模擬技術(shù)已被用于分析和預(yù)測電池性能相關(guān)的各種參數(shù)。

我們使用的蔡司顯微鏡多尺度、多維度的研究平臺,針對鋰離子電池正、負(fù)極材料、隔膜及關(guān)鍵輔材,提供了從材料制樣、理化特性表征到智能數(shù)據(jù)分析的全方面解決方案,助力鋰電池材料產(chǎn)業(yè)鏈從研發(fā)到生產(chǎn)全流程,為前驅(qū)體、成品、老化后材料提供從形貌表征、尺寸測量到分布統(tǒng)計(jì)的表征,即使是納米級的顆粒、孔隙、缺陷、包覆物結(jié)構(gòu)也能準(zhǔn)確無損表征。不導(dǎo)電樣品無需鍍膜,磁性樣品直接觀測。

為了提高自身的專業(yè)度,我們與國內(nèi)外多家機(jī)構(gòu)合作,深入交流和合作。我們將為您解決電池材料的痛點(diǎn)和需求,并提供優(yōu)質(zhì)的檢測服務(wù)。我們在全國各地設(shè)立了31個(gè)辦事處,20個(gè)實(shí)驗(yàn)室,無論您在哪個(gè)地區(qū),我們都致力于為您提供高效準(zhǔn)確的解決方案。 我們的SEM掃描電鏡技術(shù)能夠提供電池材料的表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)的詳細(xì)描述。高效SEM掃描電鏡磷酸鐵鋰表面形貌分析測試

通過SEM掃描電鏡檢測,可以觀察電池材料中的晶界和晶粒生長情況。高清SEM掃描電鏡正極材料晶界分布特征檢測

正極材料的性能主要受其氫氧化物前驅(qū)體的結(jié)構(gòu)、形貌、粒徑等因素影響,另外,正極粉末的形態(tài)及結(jié)構(gòu)調(diào)控方式(納米化、包裹層、晶體取向、晶體種類、團(tuán)聚、內(nèi)部元素梯度分布等)都將對正極的性能有直接的影響。因此,掃描電子顯微鏡在表征正極材料(前驅(qū)體、合成粉末、極片)方面發(fā)揮了重要作用。

場發(fā)射掃描電子顯微鏡利用其獨(dú)特的電子光學(xué)和探測器設(shè)計(jì),在正極材料檢測中,有著優(yōu)異的表現(xiàn)。富鎳三元正極材料前驅(qū)體 Ni1-x- yCoxMny(OH)2共沉淀結(jié)晶過程的生長機(jī)制主要是:堿液與金屬離子反應(yīng)瞬間成核,晶核周圍的金屬氨絡(luò)合物以過渡金屬氫氧化物的形式沉淀在晶核外表面,長大到一定尺寸的晶粒團(tuán)聚成團(tuán)聚物,團(tuán)聚物再生長成致密球形的前驅(qū)體顆粒。前驅(qū)體顆粒的導(dǎo)電性非常差,但在不鍍金的情況下,可直接利用T1探測器成像,觀察整體的顆粒形貌和尺寸分布。在細(xì)節(jié)的呈現(xiàn)上,利用對細(xì)節(jié)敏感的T2探測器在800V,可清楚的看到二次球上片狀與層狀結(jié)構(gòu)無序堆疊的生長特點(diǎn)。

SEM掃描電鏡檢測通過對材料微觀結(jié)構(gòu)和成分的分析,為材料質(zhì)量的評估提供了客觀的數(shù)據(jù)支持。我們的檢測服務(wù)嚴(yán)格按照國際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行,我們采用先進(jìn)的儀器設(shè)備和實(shí)驗(yàn)室設(shè)施,確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。 高清SEM掃描電鏡正極材料晶界分布特征檢測

科學(xué)指南針-中國大型研發(fā)服務(wù)機(jī)構(gòu),公司成立于2014年,以分析測試為,提供包含材料測試、行業(yè)解決方案、云現(xiàn)場、環(huán)境檢測、模擬計(jì)算、數(shù)據(jù)分析、試劑耗材、指南針學(xué)院等在內(nèi)的研發(fā)服務(wù)矩陣。總部位于杭州,已在杭州、上海、北京、廣州、濟(jì)南、長沙、武漢、鄭州等十多個(gè)地區(qū)建立了研發(fā)中心,立足中國制造,為全國客戶提供先進(jìn)材料的整體解決方案。

完善的分析技術(shù),自建海量圖譜分析數(shù)據(jù)庫,引入互聯(lián)網(wǎng)智能、便捷工具,始終秉持“客戶第一”的服務(wù)理念,助力產(chǎn)品高效研發(fā)。