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高分辨率SEM掃描電鏡硅碳負極孔徑分布測試測定

來源: 發(fā)布時間:2024-03-21

在電池材料的生產(chǎn)過程中,SEM可用于制造過程質(zhì)量控制,能夠識別原材料及其中間產(chǎn)物的質(zhì)量波動。前驅(qū)體與三元材料的生產(chǎn)、工藝研發(fā)或材料檢驗。通過SEM可以觀察三元材料的粒徑、粒度分布(均一性)、球型度、比表面積等指標,從而直接影響鋰電池的電化學性能。通過SEM可以觀測電池粉體顆粒的完整性,例如是否出現(xiàn)裂紋。通過SEM掃描電鏡檢測技術(shù),我們能夠?qū)﹄姵夭牧系奈⒂^結(jié)構(gòu)進行全方面觀察和分析。我們可以清晰地觀察到表面形貌、晶粒分布以及界面結(jié)合情況,為您提供準確的材料分析結(jié)果。

同時,我們的團隊成員都是從事檢測行業(yè)10年以上的技術(shù)老師領(lǐng)隊,團隊成員100%碩博學歷,平均新能源材料檢測領(lǐng)域從業(yè)3年以上,他們的專業(yè)知識和豐富經(jīng)驗可以提供高質(zhì)量的測試服務。在測試過程中遇到任何問題,我們都提供及時的技術(shù)支持和技術(shù)指導,確??蛻裟軌蝽樌瓿蓽y試。由于我們的專業(yè)性和服務質(zhì)量,許多企業(yè)都選擇與我們建立長期合作關(guān)系,信賴我們的專業(yè)能力和服務品質(zhì)。這種長期合作和信賴是我們持續(xù)提供服務的動力和保障。 在SEM掃描電鏡的幫助下,我們能夠迅速識別電池材料中的各種缺陷,幫助客戶改進產(chǎn)品質(zhì)量。高分辨率SEM掃描電鏡硅碳負極孔徑分布測試測定

利用SEM掃描電鏡檢測電池材料技術(shù),SEM可以提供電池材料表面的高分辨率圖像,幫助檢測和分析表面形貌的特征,如顆粒形態(tài)、表面結(jié)構(gòu)、紋理等,可以獲取電池材料中粒子的大小和分布情況,包括顆粒的平均尺寸、粒徑分布等,結(jié)合能譜分析(EDS),可以確定電池材料的化學成分,分析樣品中不同元素的含量及其分布情況。我們都能夠通過SEM技術(shù)為您提供準確可靠的數(shù)據(jù)。

很多時候,掃描電鏡一般都配有波譜儀或者能譜儀。波譜儀可以進行微區(qū)成分分析;能譜儀則可以利用X光量子的能量不同來進行元素分析。一般情況下,SEM可以放大5-20萬倍,分辨率可以到納米級別。此外,作為顯微鏡家族,除了SEM,還有TEM(透射電子顯微鏡)、AFM(原子力顯微鏡)、STM(掃描隧道顯微鏡)、STEM(掃描投射電子顯微鏡),原理和應用場景不同。

我們每年持續(xù)投入5千萬元以上購買設(shè)備,表明我們對研發(fā)和技術(shù)創(chuàng)新的重視,證明我們在不斷更新技術(shù)和設(shè)備,以保持先導地位。我們擁有一支經(jīng)驗豐富的團隊,不斷學習和掌握新興的檢測技術(shù)。同時,我們與國內(nèi)外多家研究機構(gòu)和企業(yè)合作,我們致力于提供到位的服務,從客戶咨詢到樣品提交、測試、報告出具等各個環(huán)節(jié),都為客戶提供全角度的服務和支持。 專注SEM掃描電鏡硅碳負極孔徑分布測試測定SEM掃描電鏡檢測能夠提供電池材料中微觀結(jié)構(gòu)的三維重建和可視化展示。

除了開展以形貌表征為基礎(chǔ)的應用研究外,SEM還可以用來檢測電極材料微區(qū)的元素組成和分布。X射線能譜分析技術(shù)(EDS/Mapping)是利用SEM進行材料微區(qū)成分分析的主要手段,它既可以半定量地給出材料的元素組成,又可以直接觀察到特定微區(qū)的元素分布,在電池材料設(shè)計研發(fā)過程中,能夠幫助研究人員確認成分的負載情況和材料的改性情況。

Zhong等制備了鈷摻雜的Na0.44MnO2用做鈉電極的正極材料,借助SEM、Mapping表征證實產(chǎn)物Na0.44Mn0.9925Co0.0075O2(NMO-3)中Co和Mn分散均勻,Co元素被成功引入。借助SEM掃描電鏡檢測技術(shù),可以幫助實時觀察和分析材料的微觀形貌、結(jié)晶結(jié)構(gòu)和化學成分,發(fā)現(xiàn)潛在的問題并提出改進建議。

我們的總部位于杭州,并在多個地區(qū)建立了31個辦事處,20個測試分析實驗室,能夠為客戶提供全方面、高效的產(chǎn)品研發(fā)支持。我們以客戶需求為重心,提供專業(yè)化、定制化、個性化方案,建立完善的服務流程和溝通機制,全程跟蹤大客戶的需求和反饋,及時解決問題和提供支持。

正極材料表面CEI膜膜層分析

客戶需求

CEI膜作為一種特殊的電解質(zhì)膜,用于隔離正負極,保護電池免受外部電場的影響。但是,在電池的循環(huán)過程中,CEI膜可能會發(fā)生變化,如厚度增加或減少、成分不均等,這將直接影響電池的循環(huán)性能和使用壽命。

解決方案

為了解決這個問題,團隊開發(fā)了多種技術(shù),其中一種是使用TOF-SIMS技術(shù),這是基于質(zhì)譜分析的表征技術(shù),具有超真空環(huán)境測試、采集深度低、檢測出限低、測試范圍廣等等優(yōu)點??梢詫崿F(xiàn)對固體樣品的表征,分析CEI膜的成分和厚度,從而發(fā)現(xiàn)CEI膜的不完整和過厚/過薄等問題,關(guān)鍵在這一過程中不需要進行物理分離或化學分離。

檢測結(jié)果

三元正極材料-TOF-SIMS SEM掃描電鏡檢測能夠提供電池材料中粒子尺寸和形態(tài)分布的詳細信息。

SEM收集樣品表面的二次電子信息,反應樣品的表面形貌和粗糙程度。這對于研究鋰電池材料的表面結(jié)構(gòu)、顆粒大小以及形貌特征具有重要意義。SEM可以用于研究金屬鋰電極在Li的嵌入和脫出過程中表面孔洞和枝晶的形成過程。我們擅長利用SEM掃描電鏡檢測電池材料。我們致力于不斷探索和應用當下的檢測技術(shù),公司擁有一支專業(yè)的工程師團隊,保持在行業(yè)中的先導地位。通過我們的產(chǎn)品和服務,您可以獲得準確可靠的檢測結(jié)果,為您的研發(fā)和生產(chǎn)提供有力的支持,樹立行業(yè)典范。

作為一家第三方檢測機構(gòu),我們始終秉持公正、客觀的原則,為您提供檢測報告和意見。我們深知質(zhì)量的重要性,因此我們嚴格控制檢測過程的各個環(huán)節(jié),確保結(jié)果的準確性和可靠性。我們的專業(yè)度和誠信度得到了廣大客戶的認可和信賴。選擇我們,您將獲得可靠的電池材料檢測服務!

我們始終以客戶需求為中心,提供專業(yè)化、定制化、個性化方案,建立完善的服務流程和溝通機制,全程跟蹤大客戶的需求和反饋,及時解決問題和提供支持。已服務隔膜、正負極材料等180家企業(yè),客戶好評率99%。 通過SEM掃描電鏡,我們能夠?qū)﹄姵夭牧系慕缑娼Y(jié)構(gòu)和界面反應進行研究。蔡司SEM掃描電鏡正極材料微區(qū)元素分析組成測試

SEM掃描電鏡在電池材料生產(chǎn)過程中的應用,能夠提高生產(chǎn)效率和質(zhì)量控制。高分辨率SEM掃描電鏡硅碳負極孔徑分布測試測定

在電池材料生產(chǎn)中,掃描電鏡已經(jīng)普及為一種常規(guī)測試手段,用于觀察正負極材料的顆粒大小和均勻程度。隨著科技和電池材料研究的進步,掃描電鏡的功能已經(jīng)擴展到更的分析范疇,包括形貌觀察、背散射電子相襯度對比以及成分分析等。此外,我們的檢測技術(shù)中心購置了CP設(shè)備,該設(shè)備利用氬離子束轟擊材料樣品表面或截面,以獲得光滑無損傷的拋光截面和平面樣品。結(jié)合掃描電鏡(SEM)可對樣品內(nèi)部微觀結(jié)構(gòu)進行細致觀察和分析。

CP拋光技術(shù)避免了樣品受到應力損害,相比傳統(tǒng)的機械研磨手段,樣品表面更光滑,加工精度更高,鍍層尺寸測量更準確。與SEM聯(lián)用能夠真實反映材料內(nèi)部結(jié)構(gòu),尤其在鋰電材料、工藝質(zhì)控和失效分析方面具有m優(yōu)勢。作為一家專業(yè)的電池材料檢測機構(gòu),我們在新能源電池材料測試領(lǐng)域處于先導地位。

我們擁有豐富的全國網(wǎng)絡(luò),共有31個分部,20個自營實驗室,這些實驗室配備了80余臺大中型儀器設(shè)備,總價值超過2億元。我們每年都會投入5千萬元以上購買新的設(shè)備,以確保我們的技術(shù)始終保持先導地位。我們已服務隔膜、正負極材料等180家企業(yè),客戶好評率99%。我們擁有一支高效的技術(shù)團隊和先進的儀器設(shè)備,能夠快速地為您提供測試結(jié)果和失效分析報告。 高分辨率SEM掃描電鏡硅碳負極孔徑分布測試測定

科學指南針已覆蓋全國主要省份,實現(xiàn)全國多層次的分部建設(shè)

已設(shè)立分部31個,用戶覆蓋34省市,企業(yè)客戶累計服務5000+,高校累計服務1600+,每天處理樣品9000+,平均結(jié)果時間,客戶滿意度超過99%

已建立20個大型測試分析實驗室(材料檢測實驗室、成分分析實驗室、生物實驗室、環(huán)境檢測實驗室等);現(xiàn)有80余臺大中型儀器設(shè)備,總價值超2億元;每年持續(xù)投入5千萬元以上購買設(shè)備。

各地實驗室現(xiàn)分別擁有多種大型精密設(shè)備,如 TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、紫外可見近紅外分光光度計、ICPOES、BET、TG、DSC、激光共聚焦顯微鏡、臺式同步輻射等,提供材料、環(huán)境、醫(yī)全方分析測試服務。

團隊主要成員全部來自美國密歇根大學,卡耐基梅隆大學,瑞典皇家工學院,浙江大學,上海交通大學,同濟大學等海內(nèi)外名校,為您對接測試的項目經(jīng)理100%碩士及以上學歷。效率高,專業(yè)能力強,針對性強。

客戶的數(shù)據(jù)的安全性和完整性貫穿服務始終,賦予客戶單獨訂單賬戶,專屬數(shù)據(jù)交接系統(tǒng),企業(yè)專屬項目經(jīng)理。