SEM掃描電鏡與激光拉曼、飛行質(zhì)譜等聯(lián)用技術(shù)也在電池材料研發(fā)領(lǐng)域嶄露頭角，實現(xiàn)了同一區(qū)域下微納米尺度的形貌和分子結(jié)構(gòu)分析，表現(xiàn)出了更強大的綜合分析能力。牛津大學(xué)AlexanderM.Korsunskya等使用掃描電鏡與飛行質(zhì)譜聯(lián)用技術(shù)研究了電化學(xué)反應(yīng)過程中電極材料的微觀結(jié)構(gòu)變化，通過快速空間分辨率面分布分析技術(shù)，獲得了充放電狀態(tài)下鋰在電極表面(1～2nm)的元素分布情況，借此推斷材料內(nèi)部鋰的捕獲位點與電池性能之間的理論聯(lián)系。

我們了解您對電池材料檢測的多樣化需求?；谖覀冊赟EM掃描電鏡檢測領(lǐng)域的專業(yè)經(jīng)驗，我們可以根據(jù)不同材料和應(yīng)用領(lǐng)域的特點，為您提供個性化的解決方案。無論是電池材料的表面形貌和粒徑分析，還是成分和組分的定量檢測，我們都能夠幫助您獲得快捷準(zhǔn)確的結(jié)果。作為一家專業(yè)的電池材料檢測機構(gòu)，我們在新能源電池材料測試領(lǐng)域處于先導(dǎo)地位。

我們擁有豐富的全國網(wǎng)絡(luò)，共有31個分部，20個自營實驗室，這些實驗室配備了80余臺大中型儀器設(shè)備，總價值超過2億元。我們每年都會投入5千萬元以上購買新的設(shè)備，以確保我們的技術(shù)始終保持先導(dǎo)地位。我們注重服務(wù)質(zhì)量，致力于提供滿意的測試和失效分析服務(wù)，幫助企業(yè)提升研發(fā)水平，推動產(chǎn)品研發(fā)成功。 在SEM掃描電鏡的幫助下，我們能夠迅速識別電池材料中的各種缺陷，幫助客戶改進產(chǎn)品質(zhì)量。高質(zhì)量SEM掃描電鏡負(fù)極材料孔徑分布測試測定

極片雜質(zhì)分析

客戶需求

越來越多的廠商開始重視電池的前處理工藝,尤其是針對極片上的顆粒或微量金屬殘渣。這些顆粒或微量金屬殘渣容易在長期充放電和激烈碰撞后造成電池短路,甚至可能引起自燃和起爆。想將這些顆?；蛘呓饘贇堅鼜氐?/span>除掉,就要知道其組成,通過雜質(zhì)分析服務(wù)則可以知道道其組成,進而選擇合適工藝將其去除。

解決方案

實驗室選擇了高溫?zé)峤夂碗娀瘜W(xué)氧化等方法進行前處理,這樣可以有效地消解樣品中的微量金屬,還建立了ICP標(biāo)準(zhǔn)曲線,并進行了大量的測試和驗證。合適的前處理方法和ICP標(biāo)準(zhǔn)曲線,保證了檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性。數(shù)據(jù)回流也能幫助生產(chǎn)廠商有效地控制電池中的微量金屬含量,確保電池的安全性和質(zhì)量。 高清SEM掃描電鏡+CP錳酸鋰晶界界限測試檢測SEM掃描電鏡在電池材料檢測方面有著廣泛的應(yīng)用。我們的檢測團隊由資質(zhì)深厚工程師組成，擁有豐富的經(jīng)驗。

鋰離子電池正極材料的生產(chǎn)環(huán)節(jié)過程中不可避免的會引入一些不同程度地含有fe、cu、cr、ni、zn、ag、pb、sn等金屬雜質(zhì)的磁性異物，這些金屬異物的存在，在電池充放電過程中，當(dāng)電壓達(dá)到這些元素的氧化還原電位時，這些金屬異物雜質(zhì)會在電池正負(fù)極之間發(fā)生一系列正極氧化、負(fù)極還原的副反應(yīng)，當(dāng)負(fù)極處還原的金屬單質(zhì)累積到一定程度，其沉積金屬堅硬的棱角就會刺穿隔膜，造成電池自放電甚至起爆，導(dǎo)致電池的使用壽命和安全性降低，對鋰離子電池的性能會產(chǎn)生致命的影響，因此如何從鋰電正極材料生產(chǎn)過程中加強金屬異物的引入顯得尤為重要。

我們的新能源電池材料檢測項目涵蓋了電極材料、電解質(zhì)、隔膜和外殼包裝等關(guān)鍵組件的檢測。通過準(zhǔn)確的測試數(shù)據(jù)和全方面的評估報告，我們能夠為您提供從材料成分到性能表現(xiàn)的全方面信息。

我們擁有80余臺大中型儀器設(shè)備，總價值超過2億元，這些設(shè)備每年都會進行持續(xù)的更新和升級。我們的實驗室現(xiàn)分別擁有多種大型精密設(shè)備，如TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、紫外可見近紅外分光光度計、ICPOES、BET、TG、DSC、激光共聚焦顯微鏡和臺式同步輻射等，覆蓋領(lǐng)域廣，能夠滿足不同客戶的需求。

電池安全性是用戶關(guān)注的焦點問題。利用SEM掃描電鏡技術(shù)進行電池材料的檢測，能夠幫助用戶解決電池安全性的痛點和需求。

SEM掃描電鏡可以用于檢測電池材料的多個項目，包括但不限于：1.顆粒大小和形狀：通過SEM觀察電池材料的表面和截面，可以獲取其形貌、結(jié)晶性、顆粒大小和形狀等信息。2.表面形貌變化：SEM還可以用于觀察電池材料的表面形貌變化、顆粒堆積情況、裂紋和腐。3.成分分析：利用SEM進行成分（EDS）分析，以獲得材料中各元素的種類和比例。4.內(nèi)部結(jié)構(gòu)觀察：通過SEM觀察電池材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，例如晶粒大小、晶界形態(tài)等。5.失效分析：在電池失效分析中，SEM可以提供關(guān)于電池材料開裂、粉化、短路等失效現(xiàn)象的微觀結(jié)構(gòu)信息。

我們的專業(yè)團隊?wèi){借深厚的學(xué)術(shù)背景和豐富的實踐經(jīng)驗，為客戶提供高效、滿意的測試服務(wù)。我們采用先進的儀器設(shè)備和實驗室設(shè)施，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。我們將客戶的數(shù)據(jù)的安全性和完整性放在首要位置，通過單獨訂單賬戶和專屬數(shù)據(jù)交接系統(tǒng)等措施，保障客戶的數(shù)據(jù)安全。企業(yè)專屬項目經(jīng)理將為您提供全程跟蹤服務(wù)，及時解答疑問，確保項目的順利進行。 我們擁有一支經(jīng)驗豐富的檢測團隊，專注于SEM掃描電鏡在電池材料方面的應(yīng)用檢測。

掃描電鏡（SEM）可以輕松將樣品放大幾萬倍，使得幾個納米的細(xì)微結(jié)構(gòu)都清晰可見，這無疑為研究人員改善提升電池的質(zhì)量提供了強有力的幫助。借助掃描電鏡可以輕松完成樣品層間距的測量以及電極有效接觸區(qū)域上細(xì)微結(jié)構(gòu)的觀測。此外，通過在隔膜上施加熱應(yīng)力和機械應(yīng)力，并在顯微級別實時觀察隔膜材料在這些外力下的行為，從而幫助研究人員更好的認(rèn)識隔膜材料破裂失效的機制，并提出改進方案。

電池主要由三個部分組成：兩種由不同材料制成的電極和夾在它們中間的隔膜。由于兩種電極化學(xué)成分不同，它們可以發(fā)生化學(xué)反應(yīng)，電能即可從隨后發(fā)生的氧化還原反應(yīng)過程中釋放出來。即，儲存在電極中的化學(xué)能被轉(zhuǎn)換成電能，這一過程可以為電子設(shè)備供電。依托SEM掃描電鏡，可以對鋰電材料進行全方面、系統(tǒng)的分析檢測，包括鋰電材料中正負(fù)極顆粒的精確粒度分布、清潔程度的自動化統(tǒng)計分析，正負(fù)極和隔膜的表面精細(xì)形貌觀測，極片加工過程的質(zhì)量。此外，掃描電鏡還可以對電池進行失效分析，并評估失效后電池的回收利用效果。

我們擁有完善的分析技術(shù)，可以提供全方面材料測試服務(wù)。已服務(wù)隔膜、正負(fù)極材料等180家企業(yè)，客戶好評率99%。這些成功案例和客戶的好評證明了我們的專業(yè)能力和服務(wù)質(zhì)量。 通過SEM掃描電鏡，我們能夠?qū)﹄姵夭牧线M行成分分析和元素分布觀察。分部多SEM掃描電鏡+CP全氟磺酸復(fù)合膜厚度檢測測定

SEM掃描電鏡在電池材料研究中被廣泛應(yīng)用，可幫助探究電池的工作原理和性能機制。高質(zhì)量SEM掃描電鏡負(fù)極材料孔徑分布測試測定

我們利用的蔡司顯微鏡雙束電鏡FIB-SEM為材料、極片提供高精度的截面加工及成像分析，搭載飛秒激光的激光雙束電鏡LaserFIB尤其適合大尺寸極片及電芯截面的快速定位制備，冷凍聚焦離子束Cryo-FIB配合冷凍傳輸系統(tǒng)，能夠在低溫冷凍條件下對含液或環(huán)境敏感樣品進行加工，保持樣品真實結(jié)構(gòu)。FIB-SEM配合Atlas 5 3D三維重構(gòu)軟件對材料或極片樣品邊切邊看，實現(xiàn)高精度連續(xù)層析成像，并自動對樣品內(nèi)部納米級細(xì)節(jié)的三維分布進行智能分析。 

我們公司擁有一支專業(yè)的技術(shù)團隊，他們具備豐富的SEM掃描電鏡檢測經(jīng)驗和深厚的材料學(xué)背景。技術(shù)團隊由從事檢測行業(yè)10年專業(yè)領(lǐng)隊，團隊成員100%碩博學(xué)歷，平均新能源材料檢測領(lǐng)域從業(yè)3年以上。利用我們的SEM掃描電鏡檢測技術(shù)，您將能夠更快速地獲取電池材料的相關(guān)信息。我們的檢測服務(wù)快速、準(zhǔn)確，以幫助您提高工作效率，縮短研發(fā)周期進一步推動您的項目進展。

作為先導(dǎo)者，我們始終致力于推動電池材料檢測技術(shù)的發(fā)展。通過不斷改進和創(chuàng)新，我們非常自豪地在市場上提供專業(yè)、高質(zhì)量的SEM掃描電鏡檢測服務(wù)。我們相信，選擇我們的產(chǎn)品和服務(wù)，將能滿足您檢測需求，取得產(chǎn)品研發(fā)成功。 高質(zhì)量SEM掃描電鏡負(fù)極材料孔徑分布測試測定

科學(xué)指南針-中國大型研發(fā)服務(wù)機構(gòu)，公司成立于2014年，以分析測試為中心，提供包含材料測試、行業(yè)解決方案、云現(xiàn)場、環(huán)境檢測、模擬計算、數(shù)據(jù)分析、試劑耗材、指南針學(xué)院等在內(nèi)的研發(fā)服務(wù)矩陣。總部位于杭州，已在杭州、上海、北京、廣州、濟南、長沙、武漢、鄭州等十多個地區(qū)建立了研發(fā)中心，立足中國制造，為全國客戶提供先進材料的整體解決方案。

完善的分析技術(shù)，自建海量圖譜分析數(shù)據(jù)庫，引入互聯(lián)網(wǎng)智能、便捷工具，始終秉持“客戶第一”的服務(wù)理念，助力產(chǎn)品高效研發(fā)。