結(jié)合正極常用開放手段，總結(jié)材料結(jié)構(gòu)常見表征如下：如三元材料主元素分布及含量；正極二次顆粒團(tuán)聚狀態(tài)，孔洞分布；磷酸鐵鋰正極活性物質(zhì)進(jìn)行碳包覆改善導(dǎo)電性；硅負(fù)極或硅氧負(fù)極活性物質(zhì)進(jìn)行碳包覆改善其體積效應(yīng)和導(dǎo)電性；正極材料包覆及和快離子導(dǎo)體的形成；負(fù)極材料表面包覆不同碳層；正極材料表面包覆巖鹽層及CEI膜狀態(tài)，電子衍射圖。

SEM-EDS（掃描電子顯微鏡）是場(chǎng)發(fā)射電鏡和X射線能量色散譜的結(jié)合，微區(qū)表征手段；在定性元素含量方面檢測(cè)極限:0.1%（能量色散譜方法）,只能做半定量分析，準(zhǔn)確性較低。主要成分元素含量及高含量重金屬摻雜包覆定性。對(duì)于能量較低的堿金屬元素含量，元素是否梯度分布等，應(yīng)用有局限性，含量低的元素建議點(diǎn)掃，并且需要ICP-OES（電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀）輔助定性定量。

我們擁有一支由專業(yè)工程師和科學(xué)家組成的團(tuán)隊(duì)，利用完善設(shè)備，結(jié)合現(xiàn)代分離分析技術(shù)，能在多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域解決當(dāng)下企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程各種面臨的各種復(fù)雜問(wèn)題。我們服務(wù)于各類新能源電池材料測(cè)試需求，為客戶提供全方面、個(gè)性化的解決方案，助力他們?cè)谑袌?chǎng)競(jìng)爭(zhēng)中占據(jù)優(yōu)勢(shì)地位。 通過(guò)SEM掃描電鏡，我們能夠快速、準(zhǔn)確地評(píng)估電池材料的微觀特征和性能。高效SEM掃描電鏡+CP錳酸鋰晶界分布特征檢測(cè)

在鋰離子電池加工工藝中,可以使用SEM掃描電鏡對(duì)極片涂覆后頻粒的均勻性,以及極片切割后邊緣的平整性進(jìn)行表征,避免因加工過(guò)程中的工藝不當(dāng)而造成電池失效。

此外,在鋰離子電池發(fā)生失效現(xiàn)象之后,還可以使用SEM掃描電鏡對(duì)拆麻解后的失效電池進(jìn)行表征,幫助定位具體的失效位置。通過(guò)觀察具體失效位置的表面形貌和元素素分布,如正負(fù)極顆粒的晶粒特征和破損情況、析鋰情況、過(guò)渡金屬溶出情況、隔膜形貌等,對(duì)電池具體的失效原因進(jìn)行分析總結(jié),改善工藝流程,避免二次失效的出現(xiàn)。

我們的團(tuán)隊(duì)由一批具備豐富經(jīng)驗(yàn)和專業(yè)背景的工程師組成，他們始終關(guān)注行業(yè)動(dòng)態(tài)和技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)，確保我們的服務(wù)始終處于行業(yè)前沿。我們始終堅(jiān)持嚴(yán)格的質(zhì)量控制流程，確保每一個(gè)檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。在服務(wù)過(guò)程中，我們將為您提供詳細(xì)的檢測(cè)報(bào)告和數(shù)據(jù)分析，助您更好地理解材料性能并指導(dǎo)產(chǎn)品優(yōu)化。 蔡司SEM掃描電鏡干法隔膜厚度檢測(cè)測(cè)定通過(guò)SEM掃描電鏡，我們能夠檢測(cè)電池材料的顆粒大小和分布情況。

對(duì)于負(fù)極材料，科學(xué)指南針通過(guò)SEM技術(shù)分析了硅基負(fù)極材料在充放電過(guò)程中的體積變化。SEM圖像顯示，硅基負(fù)極材料在充放電過(guò)程中會(huì)出現(xiàn)明顯的體積膨脹和收縮，這可能導(dǎo)致電池性能下降。針對(duì)這一問(wèn)題，科研人員通過(guò)改進(jìn)材料設(shè)計(jì)和制備工藝，成功降低了硅基負(fù)極材料的體積變化率，提高了電池性能。在電解液測(cè)試中，科學(xué)指南針利用SEM技術(shù)觀察了電解液在不同溫度下的微觀結(jié)構(gòu)變化。通過(guò)對(duì)比不同溫度下的SEM圖像，發(fā)現(xiàn)電解液在高溫下會(huì)出現(xiàn)結(jié)晶現(xiàn)象，這可能導(dǎo)致電池內(nèi)阻增大、性能下降。因此，科研人員通過(guò)調(diào)整電解液配方和添加劑，提高了電解液的熱穩(wěn)定性，確保了電池在高溫下的性能。隔膜作為新能源電池中的關(guān)鍵部件，其性能直接影響到電池的安全性和離子傳輸能力?？茖W(xué)指南針通過(guò)SEM技術(shù)觀察了不同材料制成的隔膜的微觀形貌和孔隙結(jié)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，具有均勻孔徑和良好機(jī)械強(qiáng)度的隔膜有利于提高電池的離子傳輸能力和安全性。

SEM背散射技術(shù)還能夠提供樣品的成分信息及分布情況。背散射電子攜帶有樣品的成分信息，原子序數(shù)大的元素比原子序數(shù)輕的元素背散射電子信號(hào)更強(qiáng)，在背散射圖像中體現(xiàn)為更亮的區(qū)域，所以圖像的襯度差異能體現(xiàn)不同元素組分的分布情況，尤其適用于相對(duì)原子質(zhì)量相差較大的金屬合金樣品。

慶熙大學(xué)Joa等為了減小鋅電極在液體電解質(zhì)環(huán)境下的副反應(yīng)，將鋅（Zn）和鉍（Bi）摻雜并球磨，通過(guò)觀察球磨產(chǎn)物背散射圖像里的襯度差異，來(lái)證實(shí)Zn-Bi合金電極的成功制備（亮區(qū)為Bi，暗區(qū)為Zn）。掃描電鏡工作環(huán)境對(duì)真空度要求較高，圖像質(zhì)量受電池材料本身性質(zhì)制約( 如導(dǎo)電性、磁性、熱敏性、易揮發(fā)等) ，缺乏觀察材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)的能力，這都在一定程度上限制了它的功能和應(yīng)用。

聚焦離子束－掃描電子顯微鏡雙束系統(tǒng)（FIB-SEM）可以實(shí)現(xiàn)材料微納米尺度上的精細(xì)加工；掃描透射電子顯微鏡（STEM）既可以獲知材料的表面信息又可以探測(cè)材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)；環(huán)境掃描電鏡（ESEM）可以對(duì)不導(dǎo)電、含水的樣品進(jìn)行直接觀察，保留樣品的真實(shí)性。

我們擁有20個(gè)自營(yíng)實(shí)驗(yàn)室，這些實(shí)驗(yàn)室配備了80余臺(tái)大中型儀器設(shè)備，總價(jià)值超過(guò)2億元。因此可以根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制化服務(wù)，滿足不同企業(yè)的特定需求~ 我們的專業(yè)團(tuán)隊(duì)通過(guò)SEM掃描電鏡技術(shù)，能夠快速準(zhǔn)確地發(fā)現(xiàn)電池材料中的微觀缺陷，確保產(chǎn)品質(zhì)量。

電池材料研發(fā)過(guò)程中常常面臨著諸多挑戰(zhàn)，如材料表面的形貌和成分分析、微觀結(jié)構(gòu)的觀察與評(píng)估等問(wèn)題。針對(duì)這些挑戰(zhàn)，利用SEM掃描電鏡檢測(cè)電池材料技術(shù)成為了解決方案，SEM掃描電鏡可以對(duì)電池材料進(jìn)行高分辨率的表征和分析。

通過(guò)該技術(shù)，我們可以直觀地觀察到材料的形貌、晶體結(jié)構(gòu)、成分分布等信息，為電池材料的研發(fā)提供重要的實(shí)驗(yàn)依據(jù)。同時(shí)，該技術(shù)還可以幫助企業(yè)電池材料研發(fā)人員觀察和評(píng)估材料的微觀結(jié)構(gòu)，了解材料的性能和穩(wěn)定性，從而提供更好的設(shè)計(jì)思路和方案，不僅可以提高研發(fā)效率，還能夠降低產(chǎn)品開發(fā)風(fēng)險(xiǎn)。通過(guò)迅速準(zhǔn)確地獲取關(guān)鍵信息，可以更加高效地進(jìn)行材料選取、改良和優(yōu)化，從而在不斷競(jìng)爭(zhēng)的市場(chǎng)中占據(jù)先機(jī)。

作為SEM掃描電鏡檢測(cè)電池材料技術(shù)的先導(dǎo)者，我們公司致力于為客戶提供高質(zhì)量、高效率的解決方案。我們擁有80余臺(tái)大中型儀器設(shè)備，總價(jià)值超2億元，涵蓋了電池材料測(cè)試的各個(gè)方面。這些儀器可以滿足各種不同的測(cè)試需求，包括成分分析、物理性質(zhì)測(cè)試、化學(xué)性能評(píng)估等等。此外，這些儀器設(shè)備每年都會(huì)進(jìn)行定期維護(hù)和升級(jí)，以確保其測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。通過(guò)利用SEM掃描電鏡檢測(cè)，我們幫助客戶解決研發(fā)過(guò)程中的技術(shù)難題，從而為客戶創(chuàng)造更大的商業(yè)價(jià)值。 SEM掃描電鏡技術(shù)能夠幫助客戶深入了解電池材料的微觀結(jié)構(gòu)和特性，為產(chǎn)品改進(jìn)提供重要依據(jù)。高分辨率SEM掃描電鏡聚乙烯PE隔膜孔徑大小測(cè)量測(cè)試

SEM掃描電鏡在電池材料研究中被廣泛應(yīng)用，可幫助探究電池的工作原理和性能機(jī)制。高效SEM掃描電鏡+CP錳酸鋰晶界分布特征檢測(cè)

sem掃描電鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)是有較高放大倍數(shù)，萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)；有很大景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡(jiǎn)單。

使用SEM必須注意對(duì)樣品的代表性部分進(jìn)行成像，如通過(guò)對(duì)同一電極或類似電極不同區(qū)域的多個(gè)圖像進(jìn)行采樣，以便以定量方式對(duì)某些特征的豐度做出明確結(jié)論。這可以通過(guò)對(duì)不同區(qū)域的圖像進(jìn)行拼貼來(lái)實(shí)現(xiàn)，圖像的總數(shù)取決于成像區(qū)域和觀察到的特征。

局部區(qū)域的定量信息也可以從三維重建中獲取，使用FIB收集連續(xù)的SEM圖像。三維重建可以作為構(gòu)建數(shù)學(xué)模型的數(shù)據(jù)，為電化學(xué)模擬提供支持。但也要注意圖像失真問(wèn)題，更高的掃描速度或許可以減少失真。

我們有20個(gè)實(shí)驗(yàn)室，各地實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)分別擁有多種大型精密設(shè)備，如TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、紫外可見近紅外分光光度計(jì)、ICPOES、BET、TG、DSC、激光共聚焦顯微鏡、臺(tái)式同步輻射等。團(tuán)隊(duì)熟悉產(chǎn)品研發(fā)與測(cè)試分析路徑，對(duì)用戶測(cè)試需求及想要得到的結(jié)果非常熟悉，有成功開發(fā)上百家新能源電池材料企業(yè)的經(jīng)驗(yàn)，提供專業(yè)化、定制化、個(gè)性化方案。 高效SEM掃描電鏡+CP錳酸鋰晶界分布特征檢測(cè)