XPS深度分析，進(jìn)行深度剖析了解樣品表面層到體相的組成分布信息是表面分析中的重要研究課題． 通過(guò)氬離子qiang濺射、機(jī)械切削及改變掠射角等方式可以實(shí)現(xiàn) XPS 的深度剖析，從而對(duì)一定深度范圍內(nèi)的薄層剖面進(jìn)行元素組成和化學(xué)態(tài)分析．Lancee 等采用 XPS 深度分析技術(shù)對(duì)橄欖石進(jìn)行了表征，結(jié)果表明未經(jīng)處理的橄欖石的元素組成在縱向上是均勻分布的; 而將進(jìn)行氧化處理后，其表面鐵的含量有了明顯提高，出現(xiàn)了深度為 400 nm 的富鐵層，且表層中 Mg 和 Si 的含量也隨之下降; 再對(duì)氧化后的橄欖石進(jìn)行還原處理后，其表面鐵的含量將逐漸下降，直至恢復(fù)到與初始值相似，而該過(guò)程中 Si 的含量首先升高，Mg的含量則在后期開(kāi)始升高． 由此可見(jiàn)，XPS 深度剖析可提供材料的均勻性及元素的空間分布等更多信息。科學(xué)指南針各地實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)分別擁有多種大型精密設(shè)備，如 TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、臺(tái)式同步輻射等，提供材料、環(huán)境、醫(yī)藥等多方位分析測(cè)試服務(wù)。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針！我們的XPS檢測(cè)設(shè)備采用前沿的技術(shù)，具有更高的能量分辨率和靈敏度。四川科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS檢測(cè)貴不貴

XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般從XPS圖譜的峰位和峰形獲得樣品表面元素成分、化學(xué)態(tài)和分子結(jié)構(gòu)等信息，從峰強(qiáng)可獲得樣品表面元素含量或濃度。一般來(lái)說(shuō)全譜掃描定性分析，窄譜進(jìn)行定量分析。XPS是一種典型的表面分析手段。其根本原因在于：盡管X射線可穿透樣品很深, 但只有樣品近表面一薄層發(fā)射出的光電子可逃逸出來(lái)。樣品的探測(cè)深度（d）由電子的逃逸深度（λ, 受X射線波長(zhǎng)和樣品狀態(tài)等因素影響）決定，通常，取樣深度d = 3λ。對(duì)于金屬而言λ為0.5-3 nm;無(wú)機(jī)非金屬材料為2-4 nm; 有機(jī)物和高分子為4-10 nm?？茖W(xué)指南針各地實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)分別擁有多種大型精密設(shè)備，如 TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、臺(tái)式同步輻射等，提供材料、環(huán)境、醫(yī)藥等多方位分析測(cè)試服務(wù)。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針！浙江科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS測(cè)試靠譜嗎我們擁有專(zhuān)業(yè)的售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)，為客戶(hù)提供持續(xù)的技術(shù)支持和幫助。

為了研究電化學(xué)氧化對(duì)電極結(jié)構(gòu)和組成的影響，采用掃描電子顯微鏡（SEM）、傅立葉變換紅外光譜（FTIR）、元素分析和X射線光電子能譜（XPS）對(duì)電極進(jìn)行了表征。通過(guò)了XPS表征，以確定這些生成的氧物種的表面含量和價(jià)態(tài)的趨勢(shì)。XPS測(cè)量光譜在284.6、532.6和687.4 eV的結(jié)合能處顯示了三個(gè)特征峰，分別對(duì)應(yīng)于C1s、O1s和F1s，其中F的存在是由于在制備電極的過(guò)程中添加了PVDF粘合劑?？茖W(xué)指南針已建立20個(gè)大型測(cè)試分析實(shí)驗(yàn)室（材料檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室、成分分析實(shí)驗(yàn)室、生物實(shí)驗(yàn)室、環(huán)境檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室等）；現(xiàn)有80余臺(tái)大中型儀器設(shè)備，總價(jià)值超2億元；每年持續(xù)投入5千萬(wàn)元以上購(gòu)買(mǎi)設(shè)備。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針！

離子液體可以作為金屬與金屬觸點(diǎn)的潤(rùn)滑劑。摩擦學(xué)實(shí)驗(yàn)是用于研究液體的磨損和摩擦行為的實(shí)驗(yàn)，這些實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析需要表面化學(xué)信息的輔助。液相光電子能譜(LiPPS)作為X射線光電子能譜(XPS)的變體，是用于以上實(shí)驗(yàn)的理想分析技術(shù)，它能夠?qū)⒈砻骒`敏度與化學(xué)選擇性結(jié)合，在樣品局部區(qū)域內(nèi)檢測(cè)和區(qū)分不同的化學(xué)鍵合狀態(tài)來(lái)表征摩擦學(xué)實(shí)驗(yàn)中形成的表面。在鋼板表面涂覆離子液體1-己基-3-甲基咪唑三(五氟乙基)三氟磷酸鹽，用黃銅棒在表面摩擦，獲得磨損表面的光學(xué)圖像后發(fā)現(xiàn)磨損表面存在明暗相間的條紋，用LiPPS在兩個(gè)不同的分析點(diǎn)(紅色(明條紋)、藍(lán)色(暗條紋)區(qū)域)處量化磨損表面的元素組成?？茖W(xué)指南針擁有完善的分析技術(shù)，自建海量圖譜分析數(shù)據(jù)庫(kù)，引入互聯(lián)網(wǎng)智能、便捷工具，始終秉持“客戶(hù)至上”的服務(wù)理念，助力產(chǎn)品高效研發(fā)。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針！實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊(duì)注重與客戶(hù)的溝通與交流，確保檢測(cè)過(guò)程中的每一個(gè)環(huán)節(jié)都符合客戶(hù)要求。

XPS（X-ray Photoelectron Spectroscopy，X射線光電子能譜）是一種大范圍地應(yīng)用的材料表面分析技術(shù)，主要用于研究材料表面的元素組成、化學(xué)態(tài)、分子結(jié)構(gòu)等信息。XPS技術(shù)起源于1887年德國(guó)物理學(xué)家赫茲發(fā)現(xiàn)的光電效應(yīng)。它利用一定能量的X射線（常用的射線源是Mg Kα-1253.6eV或Al Kα-1486.6eV）照射到樣品表面，與待測(cè)樣品的表層原子發(fā)生作用。當(dāng)光電子能量大于核外電子的結(jié)合能時(shí)，可以激發(fā)待測(cè)物質(zhì)原子中的電子脫離原子成為自由電子。通過(guò)測(cè)量這些光電子的能量分布，可以獲得樣品表面的元素組成、化學(xué)態(tài)和分子結(jié)構(gòu)等信息?？茖W(xué)指南針常規(guī)類(lèi)服務(wù)包括能譜類(lèi)、電鏡類(lèi)、熱分析類(lèi)、吸附類(lèi)、波譜類(lèi)、光譜類(lèi)、色譜質(zhì)譜類(lèi)、電化學(xué)類(lèi)、粒度/顆粒分析類(lèi)、流變/粘度類(lèi)、水分測(cè)試類(lèi)、元素分析類(lèi)、力學(xué)性能、電磁學(xué)性能測(cè)試、物性測(cè)試等，利用完善設(shè)備，結(jié)合現(xiàn)代分離分析技術(shù)，能在多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域解決當(dāng)下企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程面臨的各種復(fù)雜問(wèn)題。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針！我們以客戶(hù)為中心，提供從樣品接收到結(jié)果報(bào)告的一站式XPS檢測(cè)服務(wù)。四川科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS檢測(cè)貴不貴

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SEI 膜是鋰離子電池在其一開(kāi)始循環(huán)過(guò)程中，電極材料與電解液會(huì)在兩者之間的固-液相界面上發(fā)生一系列反應(yīng)，在電極材料的表面形成一層多組分鈍化層。這種鈍化層是一類(lèi)界面層，是 Li 離子的優(yōu)良導(dǎo)體卻是電子的絕緣體，Li 離子可以順利通過(guò)這一鈍化層，自由地嵌入和脫出。這些特征都是固態(tài)電解質(zhì)固有的特征，故而這層鈍化膜被稱(chēng)為“固體電解質(zhì)界面膜”（solid electrolyte interface）SEI 膜。XPS能提供電極表面小于 5nm 厚的化學(xué)元素的信息，而SEI膜的典型厚度是在10-50 nm，因此XPS技術(shù)在 SEI 膜的成分分析方面得到了大范圍地的應(yīng)用。科學(xué)指南針各地實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)分別擁有多種大型精密設(shè)備，如 TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、臺(tái)式同步輻射等，提供材料、環(huán)境、醫(yī)藥等多方位分析測(cè)試服務(wù)。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針！四川科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS檢測(cè)貴不貴