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XPS, 全稱為X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射線光電子能譜),是一種使用電子譜儀測量X-射線光子輻照時樣品表面所發(fā)射出的光電子和俄歇電子能量分布的方法。通過收集在入射X光作用下,從材料表面激發(fā)的電子能量、角度、強度等信息對材料表面進行定性、定量和結(jié)構(gòu)鑒定的表面分析方法。一般以Al、Mg作為X射線的激發(fā)源,俗稱靶材。XPS測試可用于定性分析以及半定量分析, 一般從XPS圖譜的峰位和峰形獲得樣品表面元素成分、化學(xué)態(tài)和分子結(jié)構(gòu)等信息,從峰強可獲得樣品表面元素含量或濃度??茖W(xué)指南針每年持續(xù)投入5千萬元以上購買設(shè)備,表明對研發(fā)和技術(shù)創(chuàng)新的重視,在不斷更新技術(shù)和設(shè)備,以保持前沿地位??茖W(xué)指南針的專業(yè)知識和豐富經(jīng)驗可以提供高質(zhì)量的測試服務(wù)??茖W(xué)指南針全國共有31個分部,20個自營實驗室,可以提供多方面的測試服務(wù),滿足不同企業(yè)的需求。根據(jù)不同企業(yè)的需求,提供定制化的測試服務(wù),幫助企業(yè)更好地研發(fā)和生產(chǎn)材料。XPS測試就找科學(xué)指南針!我們的技術(shù)團隊在XPS數(shù)據(jù)分析方面擁有獨特的專長,能夠為客戶提供深入的解析服務(wù)。江西科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS測試價格多少
XPS對于測量CEI膜的厚度有一定的局限性,因為它是一種表面敏感的技術(shù),通常只能探測到幾個納米深度的信息。不過,通過對比不同循環(huán)次數(shù)后正極表面的XPS信號強度,可以間接推斷CEI膜的生長情況。循環(huán)前后對比:對比電池在循環(huán)前和循環(huán)后的XPS譜圖,可以觀察到由于CEI形成而導(dǎo)致的某些元素(如F、O等)的信號增強。深度剖析:使用氬離子刻蝕技術(shù)(Ar+ sputtering)逐層去除材料表面,同時記錄各層的XPS信號,可以獲得CEI膜的深度分布信息。通過這種方法,可以估算CEI的大致厚度??茖W(xué)指南針常規(guī)類服務(wù)包括能譜類、電鏡類、熱分析類、吸附類、波譜類、光譜類、色譜質(zhì)譜類、電化學(xué)類、粒度/顆粒分析類、流變/粘度類、水分測試類、元素分析類、力學(xué)性能、電磁學(xué)性能測試、物性測試等,利用完善設(shè)備,結(jié)合現(xiàn)代分離分析技術(shù),能在多個技術(shù)領(lǐng)域解決當(dāng)下企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過程面臨的各種復(fù)雜問題。XPS測試就找科學(xué)指南針!福建科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS測試數(shù)據(jù)可靠嗎我們的服務(wù)團隊專業(yè)高效,能夠快速響應(yīng)客戶需求,提供及時的XPS檢測服務(wù)。
由于XPS具有很高的表面靈敏度,適合于有關(guān)涉及到表面元素定性和定量分析方面的應(yīng)用,同樣也可以應(yīng)用于元素化學(xué)價態(tài)的研究。此外,配合離子束剝離技術(shù)和變角XPS技術(shù),還可以進行薄膜材料的深度分析和界面分析。因此,XPS方法可大范圍地應(yīng)用于化學(xué)化工,材料,機械,電子材料等領(lǐng)域。在化學(xué)分析領(lǐng)域,XPS以其高靈敏度和高分辨率而受到大范圍地關(guān)注。通過測量光電子的能譜,XPS能夠準(zhǔn)確地確定樣品中含有的元素種類和相對豐度,并能檢測到微量元素。這使得XPS成為元素定性和定量分析的重要工具。此外,XPS還能夠提供元素的化學(xué)狀態(tài)信息,揭示材料表面上元素的化學(xué)狀態(tài)變化,對于研究化學(xué)反應(yīng)機理和催化劑性能具有重要意義??茖W(xué)指南針團隊重要成員全部來自美國密歇根大學(xué),卡耐基梅隆大學(xué),瑞典皇家工學(xué)院,浙江大學(xué),上海交通大學(xué),同濟大學(xué)等海內(nèi)外名校,為您對接測試的項目經(jīng)理 100%碩士及以上學(xué)歷。XPS測試就找科學(xué)指南針!
電池正極組裝是將磷酸鐵鋰(LiFePO4)、聚偏氟乙烯(PVDF)、導(dǎo)電劑炭黑及溶劑N-甲基吡咯烷酮(NMP)按照一定比例混合后,涂敷在鋁箔上組成鋰電池正極。在電池充放電研究過程中正極中Fe元素組成和化學(xué)態(tài)分析是研究的重點之一,XPS是這一過程研究常用的表征方法。但是,在XPS表征中由于PVDF中F元素的F1s損失峰會與磷酸鐵鋰的Fe2p譜峰產(chǎn)生譜峰重疊,因此在進行數(shù)據(jù)采集時不能觀察到明顯的Fe2p譜峰,無法進行鐵元素化學(xué)態(tài)的判定與定量分析。針對這一問題,Avantage軟件獨有的NLLSF擬合功能能很好的解決這一問題??茖W(xué)指南針已建立20個大型測試分析實驗室(材料檢測實驗室、成分分析實驗室、生物實驗室、環(huán)境檢測實驗室等);現(xiàn)有80余臺大中型儀器設(shè)備,總價值超2億元;每年持續(xù)投入5千萬元以上購買設(shè)備。XPS測試就找科學(xué)指南針!我們的XPS檢測服務(wù)覆蓋多個行業(yè),包括材料科學(xué)、化學(xué)、環(huán)境科學(xué)等。
XPS深度分析,進行深度剖析了解樣品表面層到體相的組成分布信息是表面分析中的重要研究課題. 通過氬離子qiang濺射、機械切削及改變掠射角等方式可以實現(xiàn) XPS 的深度剖析,從而對一定深度范圍內(nèi)的薄層剖面進行元素組成和化學(xué)態(tài)分析.Lancee 等采用 XPS 深度分析技術(shù)對橄欖石進行了表征,結(jié)果表明未經(jīng)處理的橄欖石的元素組成在縱向上是均勻分布的; 而將進行氧化處理后,其表面鐵的含量有了明顯提高,出現(xiàn)了深度為 400 nm 的富鐵層,且表層中 Mg 和 Si 的含量也隨之下降; 再對氧化后的橄欖石進行還原處理后,其表面鐵的含量將逐漸下降,直至恢復(fù)到與初始值相似,而該過程中 Si 的含量首先升高,Mg的含量則在后期開始升高. 由此可見,XPS 深度剖析可提供材料的均勻性及元素的空間分布等更多信息??茖W(xué)指南針各地實驗室現(xiàn)分別擁有多種大型精密設(shè)備,如 TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、臺式同步輻射等,提供材料、環(huán)境、醫(yī)藥等多方位分析測試服務(wù)。XPS測試就找科學(xué)指南針!我們的XPS檢測技術(shù)團隊具有創(chuàng)新精神,不斷探索新的檢測方法和應(yīng)用。河南科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS實驗推薦哪家
實驗室團隊注重與客戶的溝通與交流,確保檢測過程中的每一個環(huán)節(jié)都符合客戶要求。江西科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS測試價格多少
圖像XPS技術(shù)的發(fā)展,很大促進了XPS在新材料研究上的應(yīng)用。在譜儀的能量分析檢測器方面,也從傳統(tǒng)的單通道電子倍增器檢測器發(fā)展到位置靈敏檢測器和多通道檢測器,使得檢測靈敏度獲得了大幅度的提高。計算機系統(tǒng)的大范圍地采用,使得采樣速度和譜圖的解析能力也有了很大的提高。在表面化學(xué)研究中,XPS展現(xiàn)了其獨特的優(yōu)勢。它能夠精確測量材料表面的元素種類、化學(xué)價態(tài)和分子結(jié)構(gòu),揭示表面化學(xué)反應(yīng)的機理。例如,在催化劑研究中,XPS能夠分析催化劑表面的活性位點,理解其催化作用的本質(zhì)??茖W(xué)指南針總部位于杭州,已在杭州、上海、北京、廣州、濟南、長沙、武漢、鄭州等十多個地區(qū)建立了研發(fā)中心,立足中國制造,為全國客戶提供先進材料的整體解決方案。XPS測試就找科學(xué)指南針!江西科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS測試價格多少