X射線光電子能譜技術(shù)(XPS)是電子材料與元器件顯微分析中的一種先進(jìn)分析技術(shù),而且是和俄歇電子能譜技術(shù)(AES)常常配合使用的分析技術(shù)。由于它可以比俄歇電子能譜技術(shù)更準(zhǔn)確地測(cè)量原子的內(nèi)層電子束縛能及其化學(xué)位移,所以它不但為化學(xué)研究提供分子結(jié)構(gòu)和原子價(jià)態(tài)方面的信息,還能為電子材料研究提供各種化合物的元素組成和含量、 化學(xué)狀態(tài)、分子結(jié)構(gòu)、化學(xué)鍵方面的信息。它在分析電子材料時(shí),不但可提供總體方面的化學(xué)信息,還能給出表面、微小區(qū)域和深度分布方面的信息。 科學(xué)指南針每年持續(xù)投入5千萬元以上購(gòu)買設(shè)備,表明對(duì)研發(fā)和技術(shù)創(chuàng)新的重視,在不斷更新技術(shù)和設(shè)備,以保持前沿地位??茖W(xué)指南針的專業(yè)知識(shí)和豐富經(jīng)驗(yàn)可以提供高質(zhì)量的測(cè)試服務(wù)??茖W(xué)指南針全國(guó)共有31個(gè)分部,20個(gè)自營(yíng)實(shí)驗(yàn)室,可以提供多方面的測(cè)試服務(wù),滿足不同企業(yè)的需求。根據(jù)不同企業(yè)的需求,提供定制化的測(cè)試服務(wù),幫助企業(yè)更好地研發(fā)和生產(chǎn)材料。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!實(shí)驗(yàn)室的嚴(yán)格管理制度保證了XPS檢測(cè)過程的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。河南科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS檢測(cè)上門取樣嗎
由于XPS具有很高的表面靈敏度,適合于有關(guān)涉及到表面元素定性和定量分析方面的應(yīng)用,同樣也可以應(yīng)用于元素化學(xué)價(jià)態(tài)的研究。此外,配合離子束剝離技術(shù)和變角XPS技術(shù),還可以進(jìn)行薄膜材料的深度分析和界面分析。因此,XPS方法可大范圍地應(yīng)用于化學(xué)化工,材料,機(jī)械,電子材料等領(lǐng)域。在化學(xué)分析領(lǐng)域,XPS以其高靈敏度和高分辨率而受到大范圍地關(guān)注。通過測(cè)量光電子的能譜,XPS能夠準(zhǔn)確地確定樣品中含有的元素種類和相對(duì)豐度,并能檢測(cè)到微量元素。這使得XPS成為元素定性和定量分析的重要工具。此外,XPS還能夠提供元素的化學(xué)狀態(tài)信息,揭示材料表面上元素的化學(xué)狀態(tài)變化,對(duì)于研究化學(xué)反應(yīng)機(jī)理和催化劑性能具有重要意義??茖W(xué)指南針團(tuán)隊(duì)重要成員全部來自美國(guó)密歇根大學(xué),卡耐基梅隆大學(xué),瑞典皇家工學(xué)院,浙江大學(xué),上海交通大學(xué),同濟(jì)大學(xué)等海內(nèi)外名校,為您對(duì)接測(cè)試的項(xiàng)目經(jīng)理 100%碩士及以上學(xué)歷。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS測(cè)試便宜嗎實(shí)驗(yàn)室擁有先進(jìn)的樣品制備設(shè)備,以確保XPS檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
XPS可以分析摻雜改性后電極材料與電解液之間的界面化學(xué)變化,了解界面處的電荷轉(zhuǎn)移和離子傳輸過程,為優(yōu)化摻雜改性方案提供指導(dǎo)。以某種鋰離子電池負(fù)極材料的摻雜改性為例,通過向材料中添加少量某種元素進(jìn)行摻雜改性。利用XPS技術(shù)對(duì)摻雜改性前后的材料進(jìn)行表面元素和化學(xué)狀態(tài)分析。結(jié)果表明,摻雜改性后材料表面的某種關(guān)鍵元素的價(jià)態(tài)發(fā)生了變化。科學(xué)指南針常規(guī)類服務(wù)包括能譜類、電鏡類、熱分析類、吸附類、波譜類、光譜類、色譜質(zhì)譜類、電化學(xué)類、粒度/顆粒分析類、流變/粘度類、水分測(cè)試類、元素分析類、力學(xué)性能、電磁學(xué)性能測(cè)試、物性測(cè)試等,利用完善設(shè)備,結(jié)合現(xiàn)代分離分析技術(shù),能在多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域解決當(dāng)下企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過程面臨的各種復(fù)雜問題。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!
XPS對(duì)于測(cè)量CEI膜的厚度有一定的局限性,因?yàn)樗且环N表面敏感的技術(shù),通常只能探測(cè)到幾個(gè)納米深度的信息。不過,通過對(duì)比不同循環(huán)次數(shù)后正極表面的XPS信號(hào)強(qiáng)度,可以間接推斷CEI膜的生長(zhǎng)情況。循環(huán)前后對(duì)比:對(duì)比電池在循環(huán)前和循環(huán)后的XPS譜圖,可以觀察到由于CEI形成而導(dǎo)致的某些元素(如F、O等)的信號(hào)增強(qiáng)。深度剖析:使用氬離子刻蝕技術(shù)(Ar+ sputtering)逐層去除材料表面,同時(shí)記錄各層的XPS信號(hào),可以獲得CEI膜的深度分布信息。通過這種方法,可以估算CEI的大致厚度??茖W(xué)指南針常規(guī)類服務(wù)包括能譜類、電鏡類、熱分析類、吸附類、波譜類、光譜類、色譜質(zhì)譜類、電化學(xué)類、粒度/顆粒分析類、流變/粘度類、水分測(cè)試類、元素分析類、力學(xué)性能、電磁學(xué)性能測(cè)試、物性測(cè)試等,利用完善設(shè)備,結(jié)合現(xiàn)代分離分析技術(shù),能在多個(gè)技術(shù)領(lǐng)域解決當(dāng)下企業(yè)在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)過程面臨的各種復(fù)雜問題。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!我們與多家品牌研究機(jī)構(gòu)建立了合作關(guān)系,共同推動(dòng)XPS檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展。
X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學(xué)分析用電子能譜(ESCA)。該方法是在六十年代由瑞典科學(xué)家Kai Siegbahn教授發(fā)展起來的。由于在光電子能譜的理論和技術(shù)上的重大貢獻(xiàn),1981年,Kai Siegbahn獲得了諾貝爾物理獎(jiǎng)。三十多年的來,X射線光電子能譜無論在理論上和實(shí)驗(yàn)技術(shù)上都已獲得了長(zhǎng)足的發(fā)展。XPS已從剛開始主要用來對(duì)化學(xué)元素的定性分析,發(fā)展為表面元素定性、半定量分析及元素化學(xué)價(jià)態(tài)分析的重要手段。XPS的研究領(lǐng)域也不再局限于傳統(tǒng)的化學(xué)分析,而擴(kuò)展到現(xiàn)代迅猛發(fā)展的材料學(xué)科。目前該分析方法在日常表面分析工作中的份額約50%,是一種主要的表面分析工具??茖W(xué)指南針-中國(guó)大型科研服務(wù)機(jī)構(gòu),公司成立于 2014 年,以分析測(cè)試為重要,提供包含材料測(cè)試、行業(yè)解決方案 、云現(xiàn)場(chǎng)、環(huán)境檢測(cè)、模擬計(jì)算、數(shù)據(jù)分析、試劑耗材、指南針學(xué)院等在內(nèi)的研發(fā)服務(wù)矩陣。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!我們的技術(shù)老師具備豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),能夠解決XPS檢測(cè)過程中遇到的各種問題。四川科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS測(cè)試上門取樣嗎
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SEI 膜是鋰離子電池在其一開始循環(huán)過程中,電極材料與電解液會(huì)在兩者之間的固-液相界面上發(fā)生一系列反應(yīng),在電極材料的表面形成一層多組分鈍化層。這種鈍化層是一類界面層,是 Li 離子的優(yōu)良導(dǎo)體卻是電子的絕緣體,Li 離子可以順利通過這一鈍化層,自由地嵌入和脫出。這些特征都是固態(tài)電解質(zhì)固有的特征,故而這層鈍化膜被稱為“固體電解質(zhì)界面膜”(solid electrolyte interface)SEI 膜。XPS能提供電極表面小于 5nm 厚的化學(xué)元素的信息,而SEI膜的典型厚度是在10-50 nm,因此XPS技術(shù)在 SEI 膜的成分分析方面得到了大范圍地的應(yīng)用??茖W(xué)指南針各地實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)分別擁有多種大型精密設(shè)備,如 TEM、FIB、XPS、核磁、AFM、SEM、EPR、穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀、臺(tái)式同步輻射等,提供材料、環(huán)境、醫(yī)藥等多方位分析測(cè)試服務(wù)。XPS測(cè)試就找科學(xué)指南針!河南科學(xué)指南針X射線光電子能譜儀XPS檢測(cè)上門取樣嗎