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X射線三維顯微鏡

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-05-08

在納米CT圖像定量分析的過程中,相信大家都遇到過這樣的情況:很難找到一個(gè)合適的閾值來分割我們要分析的對象。尤其是對于顯微ct掃描樣品中的細(xì)微結(jié)構(gòu)而言,由于沒有足夠高的分辨率來表征,高分辨三維X射線顯微成像系統(tǒng)造成其灰度要低于正常值,局部高襯度X射線三維掃描襯度降低。這就對我們的閾值選取、個(gè)體分割造成了非常大的困難,尤其是動輒幾百兆,幾個(gè)G的三維CT數(shù)據(jù)。所以在進(jìn)行閾值分割之前,各種濾波工具就被我們拿來強(qiáng)化對象,弱化背景噪音,以期能夠得到一個(gè)更準(zhǔn)確的結(jié)果。CTAn添加了種子生長函數(shù),從ROI-shrink-wrap插件選擇Fill-out模式。X射線三維顯微鏡

X射線三維顯微鏡,顯微CT

SkyScan2214為油氣勘探,復(fù)合材料,鋰電池,燃料電池,電子組件等材料的三維成像和精確建模提供了獨(dú)特的解決方案。該儀器可接受300mm大小的物體,并為小尺寸和中等尺寸(10cm范圍左右)樣品掃描提供亞微米級的分辨率。該系統(tǒng)可選擇圓形和螺旋掃描軌跡進(jìn)行樣品掃描,并提供世界上甚快的分層重建(InstaRecon®)軟件,和獲得特有技術(shù)(許可)的精確的螺旋重建算法,為精細(xì)測量提供高精度信息?!ら_放式納米焦點(diǎn)金剛石光源,降低使用成本··多探測器自動切換(甚多可選4個(gè)),可選擇適用于中小尺寸樣品成像的高靈敏度CCD探測器和適用于大尺寸樣品、快速掃描的高分辨率CMOS平板探測器··11軸高精度定位系統(tǒng),精度優(yōu)于50nm··三維空間分辨率優(yōu)于500nm,甚小像素尺寸優(yōu)于60nm遼寧質(zhì)量顯微CT調(diào)試除了Push-Button-CT 模式,SKYSCAN 1275還可以提供有經(jīng)驗(yàn)用戶所期待的μCT系統(tǒng)功能。

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SKYSCAN2214研究地質(zhì)樣品——無論是地下深處的巖心樣品還是地面之上的巖石,能為探索我們所在世界的形成過程提供豐富的信息。分析時(shí)通常需要破壞原始樣品,消除內(nèi)部結(jié)構(gòu)的重要起源。XRM可在無需切片的情況下分析樣品,因而能夠更快地得到結(jié)果,也使樣品未來能夠繼續(xù)用于分析。SKYSCAN2214擁有3D.SUITE配套軟件。這個(gè)綜合性的軟件包涵蓋GPU加速重建、2D/3D形態(tài)分析,以及表面和體渲染可視化。1.根據(jù)密度對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維可視化。2.孔隙網(wǎng)絡(luò)的可視化。3.數(shù)字切片允許使用標(biāo)準(zhǔn)地質(zhì)分析方法。

PorositydeterminationinSandstoneScannedat1μmvoxelsize2mmmicroplug80kV,3h30scantimePoresandcracksCoatingthicknessDistributionofactiveingredientsThicknesshomogeneityofthecoatingisimportantforefficientdrugreleaseNon-destructiveimagingallowsforamulti-scaleapproachEntirepill?singlepelletsPush-buttonoperationforQCofsyringes10μmvoxelsizeFast,easytousepush-buttonCTwithSKYSCAN1275Packaging–sealqualityEvaluationofmanufacturingprocessofthesecomponentsReferenceandproducedpartscanbescannedandcompared增大的探測器視野和增強(qiáng)的 X 射線靈敏度可將掃描時(shí)間縮短兩倍。

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巖石圈是地球外層具有彈性的堅(jiān)硬巖石,平均厚度約達(dá)100公里。它是萬物賴以生存和發(fā)展的基礎(chǔ)環(huán)境,同時(shí),人類的各種活動又不斷改變著這個(gè)環(huán)境。而巖石作為當(dāng)中基本的組成物質(zhì),對其物理、力學(xué)等性質(zhì)的認(rèn)知是一個(gè)漫長、重要的過程。250萬年前,人類就開始了利用巖石的歷程。從初的石刀,石斧到裝飾、建材,人類的生活已與巖石密不可分。通常,組成巖石的礦物顆粒都很小,人們靠肉眼很難準(zhǔn)確地辨認(rèn)里面的礦物并確定巖石的結(jié)構(gòu),所以很長時(shí)間以來,人們對巖石的認(rèn)識只停留在表面階段。直到1867年,歐洲科學(xué)家把偏光顯微鏡用于鑒定巖石薄片,才為巖石學(xué)研究開拓了新的眼界,這也成為巖石學(xué)發(fā)展史上的一個(gè)轉(zhuǎn)折點(diǎn)。通過使用加熱臺和冷卻臺,可在非環(huán)境條件下檢測樣品,從而評估溫度對樣品微觀結(jié)構(gòu)的影響。山東質(zhì)量顯微CT配件

SKYSCAN 1272 CMOS只需單擊一下,即可自動優(yōu)化放大率、能量、過濾、曝光時(shí)間和背景校正。X射線三維顯微鏡

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標(biāo)簽: XRD衍射儀 顯微CT