phoenix nanotom m

-----------顧客利益

***的樣品范圍的獨(dú)特的空間和對(duì)比分辨率-從小的材料到中等大小的包含3個(gè)數(shù)量級(jí)(0.25毫米到250毫米樣品尺寸與3千克/6.6磅樣品重量）的塑料樣品

***佳三維測(cè)量包用于穩(wěn)定的獲取條件、幾分鐘之內(nèi)的快速重建和可重復(fù)的測(cè)量結(jié)果；

***佳易用性源于系統(tǒng)設(shè)計(jì)與***的phoenixdatos|x2.0CT軟件；

菱形|窗口可達(dá)到極高焦點(diǎn)穩(wěn)定性并以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集；

用于三維測(cè)量應(yīng)用的測(cè)量束包括：    溫度穩(wěn)定的機(jī)柜；高***度直接測(cè)量系統(tǒng)；操作器的防振；菱形|窗口；2個(gè)校準(zhǔn)目標(biāo)；phoenixdatos|x2.0軟件包“點(diǎn)擊&測(cè)量CT”與三維“測(cè)量"。

合金內(nèi)部不同缺陷類型的形貌展示。華東強(qiáng)穿透工業(yè)CT機(jī)器

phoenix v|tome|x m

——計(jì)量

帶X射線的重現(xiàn)性三維計(jì)量是***的可對(duì)復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的技術(shù)。通過(guò)與傳統(tǒng)的觸覺(jué)坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)進(jìn)行對(duì)比，對(duì)目標(biāo)物進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描可獲得所有曲面點(diǎn)，包括使用其他測(cè)量方法無(wú)法無(wú)損進(jìn)入的所有隱蔽形體，如底切。 v|tome|x L 300有一個(gè)特殊的三維計(jì)量包，包含空間測(cè)量所需的所有工具，從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的***大精度，可再現(xiàn)且具有親和力。 除了二維壁厚測(cè)量，CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較，例如，分析***組件，以確保其符合所有的規(guī)定尺寸，如缸蓋的三維計(jì)量。

北京原裝進(jìn)口工業(yè)CT植入物關(guān)節(jié)尺寸測(cè)量，植入物關(guān)節(jié)缺陷檢測(cè)。

v|tome|x L 240

—— 應(yīng)用：材料科學(xué)

高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro

ct 與 nano ct)用于檢測(cè)材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷，但也用來(lái)對(duì)地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。

材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

鑄件與焊接

射線無(wú)損檢測(cè)用于檢測(cè)鑄件和焊縫缺陷。 微焦點(diǎn)X射線技術(shù)和工業(yè)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(mico

ct)的結(jié)合，使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測(cè)成為可能，并提供低對(duì)比度缺陷的三維圖像。

鑄鋁活塞的CT圖像顯示被檢測(cè)對(duì)象的隱藏的輪廓和內(nèi)表面，包括一些空洞，可自動(dòng)計(jì)算其尺寸和位置。

層析圖像是三維測(cè)量的基礎(chǔ)（表面重構(gòu)和標(biāo)準(zhǔn)實(shí)際值比較）

玻璃纖維增強(qiáng)塑料制成的物體的nanoCT： 玻璃纖維和礦物填料（紫色）的凝聚體的方位和分布都清晰可見(jiàn)。 纖維寬度大約為 10 μm.

Seifert x|blade：

是一種易于使用的無(wú)損 (NDT) X 射線檢測(cè)系統(tǒng)，適用于鑄件，具有獨(dú)特的超高成像質(zhì)量和大體積通過(guò)能力。它將對(duì)待測(cè)部件的機(jī)器人***、成像鏈（可對(duì)成像鏈進(jìn)行定制以滿足特定需求）與符合 DICONDE要求的影像審查、共享和存檔系統(tǒng)融于一體，從而提供快速、靈活的檢測(cè)及快速審查。Seifert x|blade 系統(tǒng)是 GE 旗下檢測(cè)科技業(yè)務(wù)部門(mén)的產(chǎn)品之一，用于幫助客戶從膠片式的***成像技術(shù)過(guò)渡到數(shù)字化的***成像技術(shù)。

主要特性和優(yōu)點(diǎn)：

可定制的成像鏈，使用基本空間分辨率和焦點(diǎn)尺寸組合進(jìn)行了優(yōu)化，以滿足影像質(zhì)量要求或***大程度地減少***次數(shù)

配有機(jī)器人***的自動(dòng)化檢測(cè)計(jì)劃，無(wú)需人機(jī)交互即可實(shí)現(xiàn)多次觀測(cè)

E持久閃爍器技術(shù)，可消除探測(cè)器的拖影和滯后

成套系統(tǒng)的占地空間小，且***大程度地利用了已發(fā)布的平臺(tái)的組件和概念

符合 DICONDE 要求的解決方案，配有用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和保留的數(shù)種選件，利用查詢功能可查詢所有帶 DICONDE 標(biāo)記的字段 對(duì)于常規(guī)和非常規(guī)巖心掃描，獲得空間分辨率和圖像質(zhì)量的參考掃描參數(shù)。

phoenix nanome|x

—— 超高分辨率的納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于檢測(cè)半導(dǎo)體及SMT行業(yè)的***的組件和互連

該系統(tǒng)具有***的性能和多功能性，可用于二維X射線檢測(cè)，以及全三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(nano ct)。有了新的 x|act 軟件包， phoenix nanome|x是可選的系統(tǒng)，用以確保滿足目前和未來(lái)的零缺陷要求。

顧客利益：

組合的二維 /三維CT操作

通過(guò)***的雙向檢波器技術(shù)（數(shù)字圖像鏈與有效的溫度穩(wěn)定的30幀每秒的數(shù)字探測(cè)器）獲取的清晰的活動(dòng)影像

檢測(cè)步驟的自動(dòng)化是可能的

***的易用性 航空葉片三維CT壁厚測(cè)量，得到樣品的壁厚參數(shù)，不同顏色表示不同壁厚尺寸。華東微米級(jí)工業(yè)CT測(cè)量

CT技術(shù)之 – 三維尺寸測(cè)量。華東強(qiáng)穿透工業(yè)CT機(jī)器

v|tome|x L 450

—— 多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng)，用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無(wú)損X射線檢測(cè)

花崗巖底座，可以處理大樣本，并具有***高精度。該系統(tǒng)是用于無(wú)效和缺陷檢測(cè)和鑄件的三維測(cè)量（如首件檢測(cè)）的***佳解決方案?？蛇x的第二種X射線管可使 v|tome|x L 450 適應(yīng)任何種類的工業(yè)和科學(xué)CT應(yīng)用。

顧客利益：

測(cè)量包用于空間測(cè)量，具有極高精度，再現(xiàn)性和親和力

使用***的軟件模塊以確保***高的CT質(zhì)量且便于使用，例如

 通過(guò)點(diǎn)擊并測(cè)量|CT使用datos|x 2.0進(jìn)行高度可重現(xiàn)的三維測(cè)量： 全自動(dòng)化執(zhí)行的CT掃描，重建和分析過(guò)程

 通過(guò) VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)（取決于體積大小）完成更快的三維CT重建

英華檢測(cè)（上海）有限公司是一家檢測(cè)設(shè)備、儀器儀表、機(jī)械設(shè)備、機(jī)電設(shè)備及其零部件、電子產(chǎn)品、五金交電、汽車配件的研發(fā)、制造、加工、銷售，工業(yè)設(shè)計(jì)，從事貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù)，檢測(cè)服務(wù)，自有設(shè)備租賃，工業(yè)檢測(cè)設(shè)備的維修及安裝，會(huì)務(wù)服務(wù)，商務(wù)咨詢，從事計(jì)算機(jī)科技、檢測(cè)技術(shù)、汽車科技、勘探技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開(kāi)發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓。的公司，是一家集研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司。英華檢測(cè)深耕行業(yè)多年，始終以客戶的需求為向?qū)?，為客戶提?**的工業(yè)CT，工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù)。英華檢測(cè)始終以本分踏實(shí)的精神和必勝的信念，影響并帶動(dòng)團(tuán)隊(duì)取得成功。英華檢測(cè)始終關(guān)注自身，在風(fēng)云變化的時(shí)代，對(duì)自身的建設(shè)毫不懈怠，高度的專注與執(zhí)著使英華檢測(cè)在行業(yè)的從容而自信。