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v|tome|x L 450
——三維計(jì)算機(jī)斷層掃描
工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對(duì)金屬和塑料鑄件的檢測(cè)和三維測(cè)量。
然而, phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開(kāi)辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。
材料科學(xué)-
玻璃纖維復(fù)合材料的nanoCT: 纖維氈(藍(lán)色)的纖維方向和基質(zhì)樹(shù)脂(橙色)會(huì)顯示出來(lái)。右邊: 樹(shù)脂內(nèi)的空洞會(huì)以暗腔出現(xiàn)。左邊: 樹(shù)脂已淡出,以更好地使纖維氈可視化。 氈內(nèi)的單根纖維是可見(jiàn)的。
渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿(mǎn)足***高質(zhì)量和安全性的要求。 CT可進(jìn)行故障分析以及***的三維測(cè)量(如壁厚) 古生物頭骨經(jīng)過(guò)CT掃描之后的效果圖,對(duì)整體頭骨內(nèi)部不同結(jié)構(gòu)的密度差進(jìn)行區(qū)分。華中進(jìn)口工業(yè)CT測(cè)量
v|tome|x L 300
——phoenix v|tome|x L 300是多功能高分辨率微焦點(diǎn)系統(tǒng),用于二維和三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)和二維無(wú)損X射線檢測(cè)
此設(shè)備配有***個(gè)單極300千伏/ 500 瓦的微聚焦源,確保了300千伏的***好的放大倍率。其基于花崗巖的操作可處理多達(dá)50千克,長(zhǎng)600 毫米/ 直徑500毫米的大樣本且具有極高的精度。該系統(tǒng)是一個(gè)用于無(wú)效和缺陷檢測(cè)和復(fù)合材料、鑄件和精密零件如***噴口或渦輪葉片的三維測(cè)量(如首件檢測(cè))的***的解決方案。 可選的高功率納米焦距X射線管可使 phoenix v|tome|x L 300適應(yīng)任何種類(lèi)的工業(yè)和科學(xué)高分辨率CT應(yīng)用。
華東測(cè)量版工業(yè)CT維修航空葉片二維X射線檢測(cè),識(shí)別葉片內(nèi)部夾雜缺陷。v|tome|x L 300
——應(yīng)用:
傳感器和電氣工程
在傳感器和電子元件的檢測(cè)中,高分辨率X射線技術(shù)主要用于檢測(cè)和評(píng)估接觸點(diǎn)、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。
它甚至可以檢測(cè)半導(dǎo)體元件和電子設(shè)備(焊點(diǎn)),而無(wú)需拆卸設(shè)備。
鑄件與焊接
射線無(wú)損檢測(cè)用于檢測(cè)鑄件和焊縫缺陷。微焦點(diǎn)X射線技術(shù)和工業(yè)X射線計(jì)算機(jī)斷層掃描(mico ct)的結(jié)合,使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測(cè)成為可能,并提供低對(duì)比度缺陷的三維圖像。
鋁鑄件的三維微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct)含有一些空隙率。
一個(gè)表達(dá)式探針(連接器端視圖)的微焦點(diǎn)計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro
ct)圖像顯示鉻鎳鐵合金保護(hù)套(***),包括激光焊接的接縫,壓接連接(藍(lán)色)和陶瓷的氧傳感器的觸點(diǎn)(藍(lán)/紅)。
Seifert x|blade:
是一種易于使用的無(wú)損 (NDT) X 射線檢測(cè)系統(tǒng),適用于鑄件,具有獨(dú)特的超高成像質(zhì)量和大體積通過(guò)能力。它將對(duì)待測(cè)部件的機(jī)器人***、成像鏈(可對(duì)成像鏈進(jìn)行定制以滿(mǎn)足特定需求)與符合 DICONDE要求的影像審查、共享和存檔系統(tǒng)融于一體,從而提供快速、靈活的檢測(cè)及快速審查。Seifert x|blade 系統(tǒng)是 GE 旗下檢測(cè)科技業(yè)務(wù)部門(mén)的產(chǎn)品之一,用于幫助客戶(hù)從膠片式的***成像技術(shù)過(guò)渡到數(shù)字化的***成像技術(shù)。
主要特性和優(yōu)點(diǎn):
可定制的成像鏈,使用基本空間分辨率和焦點(diǎn)尺寸組合進(jìn)行了優(yōu)化,以滿(mǎn)足影像質(zhì)量要求或***大程度地減少***次數(shù)
配有機(jī)器人***的自動(dòng)化檢測(cè)計(jì)劃,無(wú)需人機(jī)交互即可實(shí)現(xiàn)多次觀測(cè)
E持久閃爍器技術(shù),可消除探測(cè)器的拖影和滯后
成套系統(tǒng)的占地空間小,且***大程度地利用了已發(fā)布的平臺(tái)的組件和概念
符合 DICONDE 要求的解決方案,配有用于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和保留的數(shù)種選件,利用查詢(xún)功能可查詢(xún)所有帶 DICONDE 標(biāo)記的字段 裂紋提?。簩?duì)于煤層氣及存在原生裂紋的樣品,通過(guò)對(duì)裂縫進(jìn)行三維數(shù)據(jù)的分析,輔助判斷巖樣的連通性。
v|tome|x L 450
——測(cè)量
用X射線進(jìn)行的三維測(cè)量是***的可對(duì)復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無(wú)損測(cè)量的技術(shù)。 通過(guò)與傳統(tǒng)的觸覺(jué)坐標(biāo)測(cè)量技術(shù)的對(duì)比,對(duì)一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲面點(diǎn) - 包括所有無(wú)法使用其他測(cè)量方法無(wú)損進(jìn)入的隱蔽形體,如底切。v|tome|x s 有一個(gè)特殊的三維測(cè)量包,其中包含空間測(cè)量所需的所有工具,從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的***大精度,可再現(xiàn)且具有親和力。除了二維壁厚測(cè)量,CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。 CT技術(shù)之 – 數(shù)模比對(duì)。華中工業(yè)CT掃描
對(duì)于常規(guī)和非常規(guī)巖心掃描,獲得空間分辨率和圖像質(zhì)量的參考掃描參數(shù)。華中進(jìn)口工業(yè)CT測(cè)量
phoenix
v|tome|x m
—— 多功能的X射線微聚焦CT系統(tǒng),用于三維計(jì)量和分析,高達(dá)300kV/500W
在phoenix v|tome|x m中,GE公司獨(dú)特的300千伏微焦點(diǎn)X射線管是***安裝于緊湊的CT系統(tǒng),用于工業(yè)過(guò)程控制和科研應(yīng)用。 該系統(tǒng)可以進(jìn)行向下1米內(nèi)的詳細(xì)探測(cè),提供300千伏下業(yè)內(nèi)***的放大倍率,并以其GE的高動(dòng)態(tài)DXR數(shù)字探測(cè)器陣列和點(diǎn)擊與測(cè)量| CT(click & measure | CT)自動(dòng)化功能成為工業(yè)檢測(cè)和科研的有效的三維工具。
該系統(tǒng)具備雙|管配置,可以為各種樣本范圍提供詳細(xì)的三維信息: 從低吸收樣品的高分辨率 nanoCT®到渦輪葉片檢驗(yàn)等的高功率CT應(yīng)用。 華中進(jìn)口工業(yè)CT測(cè)量
英華檢測(cè)(上海)有限公司主要經(jīng)營(yíng)范圍是儀器儀表,擁有一支專(zhuān)業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)和良好的市場(chǎng)口碑。英華檢測(cè)致力于為客戶(hù)提供良好的工業(yè)CT,工業(yè)CT檢測(cè)服務(wù),一切以用戶(hù)需求為中心,深受廣大客戶(hù)的歡迎。公司從事儀器儀表多年,有著創(chuàng)新的設(shè)計(jì)、強(qiáng)大的技術(shù),還有一批**的專(zhuān)業(yè)化的隊(duì)伍,確保為客戶(hù)提供良好的產(chǎn)品及服務(wù)。英華檢測(cè)秉承“客戶(hù)為尊、服務(wù)為榮、創(chuàng)意為先、技術(shù)為實(shí)”的經(jīng)營(yíng)理念,全力打造公司的重點(diǎn)競(jìng)爭(zhēng)力。