在新興無線通信技術和電子技術不斷涌現(xiàn)的現(xiàn)在，射頻測試行業(yè)正呈現(xiàn)出兩個比較重要的趨勢：模塊化和軟件定義。電子技術的快速發(fā)展對測試儀器提出了更高的要求，包括更多功能、更易操作、更高吞吐量和更具成本效益等。面對如此綜合的測試對象和復雜的測試需求，必須要有一個很綜合的系統(tǒng)去進行測試，而模塊化儀器就是這樣的系統(tǒng)。模塊化測試平臺提供了更快的測試時間和更低的投入成本。使用基于PXI(面向儀器系統(tǒng)的PCI 擴展)的模塊化儀器系統(tǒng)，用戶可以根據(jù)需要先選擇各種模塊，繼而通過軟件配置它們，終完成特定的測量任務。射頻即Radio Frequency，通常縮寫為RF。射頻測試是射頻電流，它是一種高頻交流變化電磁波的簡稱。常州射頻芯片測試

什么是射頻？射頻，英文名簡稱為RF，全稱是RadioFrequency。RadioFrequency是無線電頻率的意思。通常來講，射頻是指頻率范圍在300KHz~300GHz的高頻電磁波。那什么是射頻信號？通常來講，電流通過導體，會形成磁場，交變電流通過導體，會形成電磁場，產(chǎn)生電磁波。頻率低于100kHz的電磁波會被地表吸收，不能形成有效的傳輸。頻率高于100kHz的電磁波可以在空氣中傳播，并經(jīng)大氣層外緣的電離層反射，具有遠距離的傳輸能力，這種具有遠距離傳輸能力的高頻電磁波，我們稱之為射頻信號。南京RF射頻靈敏度測試射頻前端是手機的關鍵器件，直接影響著手機的信號收發(fā)。

射頻測試的發(fā)展方向頻譜趨勢無線通信的市場需求持續(xù)加速，同時伴隨著向數(shù)據(jù)應用的轉移，比如短信息、網(wǎng)絡瀏覽和GPS等應用。這些應用需要更高的數(shù)據(jù)傳輸率來實現(xiàn)更佳的用戶體驗，這需要在有限的頻譜上采用新的傳輸方式。一些相當有效率的調制方式和數(shù)字編碼算法得到了采用，與此對應的是不斷提升的信號帶寬——從上世紀90年代的300kHz增長到了現(xiàn)在的40MHz。也許日前無線通信技術的趨勢就是從單輸入單輸出（SISO）架構到復雜的多輸入多輸出（MIMO）架構的轉變?，F(xiàn)今的無線電設備多采用單發(fā)射機和單接收機的SISO架構，信息在一個時間段采用單種數(shù)字符號在單一信道進行傳輸。

射頻測試如何選擇合適的探針？由于待測設備（DUT）的性質和構成非常敏感且通常較為精細，因此射頻電路的測量往往是一項棘手任務。高可靠性射頻測量中困擾多的兩大問題是：頻率太高時，當前測試設備無法進行射頻能量的測量當待測電路對電氣環(huán)境中的微小變化敏感時，測量中要求頻率或幅度不發(fā)生擾動這些問題可通過采用對待測電路的能量擾動盡可能小的測量探針解決，其中，高阻抗探針中的放大器能夠平衡待測電路的受擾能量。?與測試射頻的阻抗匹配在射頻電路系統(tǒng)測試中，探針與測試設備的阻抗匹配對于能否實現(xiàn)有效的功率傳輸而言至關重要。然而，隨著測試頻率越來越高，以及對測試誤差的要求越來越嚴格，上述阻抗匹配變得越來越困難。?接觸測試點、頻率或數(shù)據(jù)速率、探針可用空間以及環(huán)境條件在射頻測試領域中，射頻測試探針分為多種不同類型，如何選擇合適的探針取決于對待接觸測試點、頻率或數(shù)據(jù)速率、探針可用空間以及環(huán)境條件的考量。將來，射頻探針需要具有測試更小焊盤及多個信道的設計能力，以及同時覆蓋多種毫米波、射頻、邏輯和功率信道測量范圍的能力。射頻測試中的常見指標：接收靈敏度、信噪比、發(fā)射功率等等。

藍牙射頻測試系統(tǒng)特點中文界面，操作簡單易用支持BasicRate、EDR、BLE的所有測試項目測試快速穩(wěn)定，推薦配置（輸出功率、頻率偏置、靈敏度）8–12s即可完成測試可以配置不同產(chǎn)品模板，快速切換生產(chǎn)測試數(shù)據(jù)EXCEL表格保存，結果分析追溯簡便支持MES系統(tǒng)對接，生產(chǎn)質量實時可追溯可控兼容N4010A、MT8852A/B、R&S®CMW500、R&S®CMW270、R&S®CMW100、IQXEL等，完全自主開發(fā)，提供定制化服務，如研發(fā)測試實際靈敏度，長時間誤碼率測試等研發(fā)測試只需更換治具即可快速切換PCBA、成品測試支持高通/CSR、瑞昱、絡達、恒玄BES、中星微、原相、博通、中科藍訊、杰理等方案。RF射頻測試座是幾個部分構成，首先是測試座外殼+測試座常規(guī)探針+RF射頻同軸連接器。蘇州WIFI射頻靈敏度測試

射頻測試探針通常由適合探針針型的波導或同軸連接器組成。常州射頻芯片測試

一個傳統(tǒng)的射頻測試探針包括了以下幾個部分：測試儀器接口（同軸或是波導）從測試接口到微同軸電纜的轉接微同軸電纜到平面波導（CPW/MS等）轉接共面接口到DUT部分即針尖。其他一些相關的概念Probepitch：指的是針尖(ProbeTips)之間的間距，一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應用，針尖間距一般都比較小。Probeskate:當你在Z軸方向往下“按壓”探針時，當探針接觸到DUT，它將在ZY平面彎曲移動。通常，這也是我們判斷針是否扎上的一個現(xiàn)象。De-embeding:去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術，之前經(jīng)常用在一些標準的分立的夾具測試中。常州射頻芯片測試

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