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蘇州智能手表射頻儀器

來源: 發(fā)布時間:2023-05-23

射頻測試也面臨著很多挑戰(zhàn)。在現(xiàn)在的無線設(shè)備中越來越多樣的移動通信標(biāo)準(zhǔn)得到采用,或者制造商可能會采用不同的標(biāo)準(zhǔn)生產(chǎn)各種設(shè)備。因此,測試儀器需要適用多種主流的移動通信標(biāo)準(zhǔn)(如GSM、GPRS、EDGE、WCDMA、CDMAOne 和CDMA2000等)。測試儀器必須有能力對每個標(biāo)準(zhǔn)做出精確的測量,比如需要保證較小的誤差向量幅度即EVM(EVM在EDGE系統(tǒng)中相當(dāng)重要)。而因?yàn)樾碌囊苿油ㄐ艠?biāo)準(zhǔn)被制造商采用,測試儀器也面臨更新的問題。理想來說,制造商希望能用簡單和成本比較低的方式(比如改變軟件)來更新測試儀器,以應(yīng)對新的移動通信和調(diào)制標(biāo)準(zhǔn)。射頻前端是手機(jī)的關(guān)鍵器件,直接影響著手機(jī)的信號收發(fā)。蘇州智能手表射頻儀器

為什么要進(jìn)行射頻測試?監(jiān)管機(jī)構(gòu)要求進(jìn)行射頻測試,以確保現(xiàn)有設(shè)備不會受到新設(shè)備的干擾,并證明新設(shè)備對現(xiàn)有射頻環(huán)境具有抵抗力。此外,RF測試有助于評估產(chǎn)品發(fā)出的輻射,這些輻射也必須在可接受的范圍內(nèi)才能獲得監(jiān)管合規(guī)性。什么是射頻(RF)?射頻或"RF" 能量是電磁能的一種形式,被定義為由發(fā)射天線發(fā)射的電能和磁能(無線電波)在空間中一起移動的波。射頻(RF)測試模擬無線電和電信設(shè)備的功能和性能,以確保設(shè)備不僅會干擾無線電頻譜的其他用戶,還會驗(yàn)證無線電設(shè)備是否有效地使用無線電頻譜。通常還需要其他測試來驗(yàn)證您的設(shè)備是否符合當(dāng)?shù)仃P(guān)于電磁兼容性(EMC)、電氣安全和射頻暴露的法規(guī)。惠州自動化射頻硬件測試射頻測試性能包括發(fā)射/帶內(nèi)功率、調(diào)制一致性、帶內(nèi)雜散、發(fā)送頻譜密度以及相位噪聲等。

從架構(gòu)上來看,一套完整的射頻系統(tǒng)包括射頻收發(fā)器、射頻前端、天線三個部分。射頻前端又包括功率放大器、包絡(luò)追蹤器、低噪聲放大器、濾波器、天線開關(guān)、天線調(diào)諧器等多個組件。射頻前端各個組件的作用并不復(fù)雜。例如,放大器,就是把信號放大,讓信號傳得更遠(yuǎn);濾波器,是把雜波去掉,讓信號更 “純凈”;天線開關(guān),用于控制天線的啟用與關(guān)閉;天線調(diào)諧器,主要作用是“擺弄”天線,獲得比較好的收發(fā)效果…數(shù)量眾多的射頻組件,相互配合,分工協(xié)作,就是為了完成“臨門一腳”,把基帶打包好的數(shù)據(jù)發(fā)射出去。

射頻測試中射頻探針的基本要求和工作原理:1)探針的50-Ω平面?zhèn)鬏斁€應(yīng)當(dāng)直接與DUT壓點(diǎn)相接觸而不用接觸導(dǎo)線。對于微帶線和隨后的共面探針設(shè)計(jì),探針的接觸是用小的金屬球來實(shí)現(xiàn)的,這個金屬球要足夠大以保證可靠且可重復(fù)性的接觸。2)為了能同時接觸到DUT的信號壓點(diǎn)和接地壓點(diǎn),需要將探針傾斜。這個過程被稱為“探針的平面化”。3)探針的接觸重復(fù)性比同軸連接器的可重復(fù)性要好得多。便于進(jìn)行探針極尖和在片標(biāo)準(zhǔn)及專門校準(zhǔn)方法的開發(fā)。4)具有很高重復(fù)性的接觸可以進(jìn)行探針的準(zhǔn)確校準(zhǔn)并將測量參考平面移向其極尖處。來自探針線和到同軸連接器的過渡所產(chǎn)生的探針的損耗及反射是通過由射頻電纜和連接器的誤差相類似的方式而抵消的。5)由于其很小的幾何尺寸,人們可以假設(shè)平面標(biāo)準(zhǔn)件的等效模型純粹是集總式的。此外,人們可以從標(biāo)準(zhǔn)件的幾何尺寸來很容易地預(yù)測模型參數(shù)。LTE 終端射頻測試項(xiàng)目分為4 大部分,即發(fā)射機(jī)指標(biāo)、接收機(jī)指標(biāo)、性能要求、信道狀態(tài)信息上報。

一個傳統(tǒng)的射頻測試探針包括了以下幾個部分:測試儀器接口(同軸或是波導(dǎo))從測試接口到微同軸電纜的轉(zhuǎn)接微同軸電纜到平面波導(dǎo)(CPW/MS等)轉(zhuǎn)接共面接口到DUT部分即針尖。其他一些相關(guān)的概念Probepitch:指的是針尖(ProbeTips)之間的間距,一般在50-1000um之間不等。對于毫米波頻率的應(yīng)用,針尖間距一般都比較小。Probeskate:當(dāng)你在Z軸方向往下“按壓”探針時,當(dāng)探針接觸到DUT,它將在ZY平面彎曲移動。通常,這也是我們判斷針是否扎上的一個現(xiàn)象。De-embeding:去嵌是在探針出現(xiàn)之前就有的技術(shù),之前經(jīng)常用在一些標(biāo)準(zhǔn)的分立的夾具測試中。射頻器件是收發(fā)無線信號中的關(guān)鍵部件,遍布于各種通信場景,5G又進(jìn)一步推動了射頻器件性能進(jìn)化?;葜葑詣踊漕l硬件測試

射頻測試儀市場格局高度集中,大多數(shù)的測試產(chǎn)品和技術(shù)掌握在國外廠商中,國產(chǎn)廠商仍處于相對落后的局面。蘇州智能手表射頻儀器

射頻測試也會對成本比較敏感。如今的無線設(shè)備變得越來越復(fù)雜,競爭壓力日趨增大,利潤率被壓的很低。同時,測試越來越難,單位成本面臨增大的壓力。面對縮小的利潤,制造商想盡一切辦法來降低成本,這就包括降低測試儀器以及測試的成本。這不僅體現(xiàn)在生產(chǎn)過程中,同樣體現(xiàn)在研發(fā)過程中,在這兩種環(huán)境下,對于更多功能、更高吞吐量和更簡單操作的測試設(shè)備需求越來越強(qiáng)烈。對于多空間流的WLAN、LTE和WiMAX系統(tǒng)的測試,首要目標(biāo)就是在不性能的前提下保持每信道流測試成本的降低。然而,測試儀器的成本,特別是在WiMAX系統(tǒng)中,往往會成倍的增加。比如,為了得到N輸入和M輸出,每個輸入-輸出需要一個的發(fā)射機(jī)和一個接收機(jī),或者說一個信號發(fā)生器和一個信號分析儀。更加先進(jìn)的測試儀器的設(shè)計(jì)考慮了以上所談到的這些因素。蘇州智能手表射頻儀器

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