Orbitrap Fusion Lumos Tribrid MS 的特點：新型高靈敏度 API 接口將高容量離子轉移管和電動離子漏斗結合，旨在提高離子通量，降低檢測限先進的主動離子束傳輸組件可防止中性粒子和高速離子簇進入分離離子的四極桿中先進的四極桿技術結合高靈敏度和離子傳輸效率，使選中離子從分離窗口中心穿過先進的真空技術提高了向 Orbitrap 分析儀傳輸高分子量離子的速度全新的 ETD HD—高動態(tài)范圍 ETD ***提升了碎片離子覆蓋范圍高級峰值測定 (APD) - 一種用于改進數據依賴實驗中母離子測定的新算法，大幅增加了獨特肽段的識別數量和實驗通量Tribrid 結構包括四極桿濾質器、線性離子阱以及 Orbitrap 質量分析器，用于盡可能提高由各項儀器操作高度并行化導致的占空比上海禹重實業(yè)有限公司為您提供質譜儀，歡迎您的來電！張家港ICPMS質譜儀

使用電感耦合等離子體源對樣品進行霧化的質譜儀。等離子體源使樣品原子離子化，以便儀器的質譜儀能夠檢測到這些原子。

在結構生物學和生物制藥研究中執(zhí)行較高質量的非變性、完整質量和自上而下的分析。Thermo Scientific? Q Exactive? UHMR（超高質量范圍）組合型四極桿 Orbitrap? 質譜儀 (MS) 是較先在單一平臺中融合超高靈敏度和質量分辨率（在高 m/z 下）、MS2 和準 MS3 能力的 UHMR MS。通過增加電荷檢測功能，Thermo Scientific? Direct Mass Technology? 模式可解析復雜樣品并提供關于復雜大分子的深刻見解。 張家港ICPMS質譜儀質譜儀，就選上海禹重實業(yè)有限公司，有需要可以聯系我司哦！

    在使用質譜儀器的過程中，經常會出現各種各樣的故障，影響實驗的正常進行，如何迅速、準確地判斷故障原因，及時地予以排除，是儀器操作人員經常面臨和急需解決的問題。咱們就對質譜儀常見的故障現象、產生故障的可能原因及故障排除方法進行了總結和歸納，供儀器操作人員參考。1、質譜不出峰的可能原因（1）進樣系統(tǒng)與離子源沒連接或有漏液（2）六通閥漏液（3）霧化氣沒開（4）噴霧電壓沒有（5）離子進入分析器的離子通道堵塞（6）噴霧毛細管堵塞2、如何根據樣品選擇離子源可根據分子量的大小、極性。APCI適合小分子，極性小的化合物；ESI適合分析的分子量范圍較大、分子要求帶有一定極性。一般先考慮用ESI分析，如果極性實在太小，才想到用APCI。

 質譜儀的真空度不能過低。過低會導致：1)大量氧會燒壞離子源的燈絲；2)引起額外的離子-分子反應，使質譜解析復雜化；3)可能會引起分析系統(tǒng)內的電極之間放電；4)會使本底增高。2.該質譜儀自身帶有磁場，且對外來磁場較敏感，故維修時不要帶入磁場，也不要移動，特別是對磁體不要有任何碰撞。3.因電離室對真空要求較高，除機械真空泵工作外，該質譜儀還設計有分子泵，故在非工作時間，須將該機械真空泵保持工作狀態(tài)。4.質譜儀對工作環(huán)境有較高要求，所以室內必須有空調，并保持室內通風。5.為保證機器正常，載氣(He)的純度須達99.99%以上。6.更換燈絲前必須關掉機械真空泵，待恢復常壓時拆機，如遇市電停供，須將機械真空泵開機至正常狀態(tài)，并達24小時以上，才能進行正常的檢測工作。上海禹重實業(yè)有限公司是一家專業(yè)提供質譜儀的公司，有想法的不要錯過哦！

電感耦合等離子體ICP源的用途主要有四種：用于等離子體光譜診斷：通過分析ICP源的光譜來分析等離子體原子組分，參見電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜（ICP-AES）；電感耦合等離子質譜分析技術：作為質譜分析的離子源，分析組分（ICP-MS）；用于反應離子刻蝕：通過ICP源產生低溫等離子體，刻蝕材料表面，改變材料的物理與化學性質(ICP-RIE)；氣相沉積薄膜技術（rf-ICP）。是利用通過高頻電感耦合產生等離子體放電的光源來進行原子發(fā)射光譜分析的方法。它是一種火焰溫度范圍為6000至10000K的火焰技術。該發(fā)射強度表示樣品中元素的濃度。為一種新型激發(fā)光源，性能優(yōu)異，應用 。質譜儀，就選上海禹重實業(yè)有限公司，用戶的信賴之選，有想法的不要錯過哦！諸暨ICPMS質譜儀報價

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質譜分析法的特點是測試速度快，結果精確。 用于地質學、礦物學、地球化學、核工業(yè)、材料科學、環(huán)境科學、醫(yī)學衛(wèi)生、食品化學、石油化工等領域以及空間技術和公安工作等特種分析方面。同位素質譜儀同位素質譜分析法的特點是測試速度快，結果精確，樣品用量 少（微克量級）。能精確測定元素的同位素比值。 用于核科學，地質年代測定，同位素稀釋質譜分析，同位素示蹤分析。離子探針離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區(qū)質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限以下的微量元素，研究其局部分布和偏析?？梢宰鳛橥凰胤治?。張家港ICPMS質譜儀