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不同的顯微鏡，顯微鏡的支架會有所不同，通常有立柱安裝和龍門安裝兩種配置。定位器平臺用于放置定位器（探針座）、形狀和尺寸根據(jù)測試應(yīng)用不同會有不同的設(shè)計形式。樣品臺（載物臺）用于承載待測樣品，通常根據(jù)晶圓尺寸設(shè)計，常用的尺寸從2～12英寸。除了承載樣品的功能，樣品...

真空腔體密封技術(shù)，真空腔體密封技術(shù)是真空探針的關(guān)鍵部分， 真空腔體密封一旦在設(shè)計和加工過程中出現(xiàn)設(shè)計 缺陷、密封效果不好等問題，就會產(chǎn)生氣體泄漏， 對操作人員造成人身傷害、甚至對大氣環(huán)境造成 污染，這些問題在后期將無法彌補，在腔體裝配前 要進行預裝試驗，防止類...

可以利用廠家提供的標準件參數(shù)，一般廠家提供的校準件參數(shù)包括開路電容、短路電感、負載阻抗及寄生電感、直通/延遲線電長度等，根據(jù)這些數(shù)據(jù)，可以在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀中編輯校準件，完成校準。探針夾具及電纜組件：探針夾具用于夾持探針、并將探針連接至測量儀器。電纜組件用于轉(zhuǎn)接...

芯片打點機的作：1. 提高芯片的生產(chǎn)效率，芯片打點機可以在芯片表面打上標記，這些標記可以用來追蹤芯片的制造過程和測試結(jié)果。如果芯片出現(xiàn)問題，制造商可以通過這些標記來定位問題的原因，并采取相應(yīng)的措施來解決問題。這樣可以較大程度上提高芯片的生產(chǎn)效率和降低成本。2....

總的來說，手動探針臺適合研發(fā)人員使用，半自動探針臺適合初學者使用，而全自動探針臺適合具有一定經(jīng)驗的測試人員使用。不同類型的探針臺各有優(yōu)缺點，選擇何種探針臺主要取決于測試的需求和個人的技能水平。全自動探針臺是一種全自動控制的探針臺，可以在沒有很多待測器件需要測量...

芯片的工作原理是將電路制造在半導體芯片表面上從而進行運算與處理的。晶體管有開和關(guān)兩種狀態(tài),分別用1和0表示,多個晶體管能夠產(chǎn)生多個1和0信號,這種信號被設(shè)定為特定的功能來處理這些字母和圖形等。在加電后,芯片會產(chǎn)生一個啟動指令,之后芯片就會開始啟動,接著就會不斷...

總體而言，芯片測試機在芯片設(shè)計和生產(chǎn)中扮演著重要角色。的芯片測試機能夠為生產(chǎn)提供更高的生產(chǎn)性、更深入的測試和更高的測試效率，從而使整個芯片生產(chǎn)流程更加高效化、智能化。一顆芯片較終做到終端產(chǎn)品上，一般需要經(jīng)過芯片設(shè)計、晶圓制造、晶圓測試、封裝、成品測試、板級封裝...

優(yōu)先選擇地，所述機架上還設(shè)置有加熱裝置，所述加熱裝置至少包括高溫加熱機構(gòu)，所述高溫加熱機構(gòu)位于所述測試裝置的上方，所述高溫加熱機構(gòu)包括高溫加熱頭、頭一移動機構(gòu)及下壓機構(gòu)，所述下壓機構(gòu)與所述頭一移動機構(gòu)相連，所述高溫加熱頭與所述下壓機構(gòu)相連。優(yōu)先選擇地，所述加熱...

圖中：集成電路封裝盒本體1、封蓋2、限位卡條3、橡膠層31、緩沖條4、限位銷塊5、銷釘51、撥板52、復位板53、抵觸面54、復位彈簧55、預留槽11。具體實施方式下面將結(jié)合實施例中的附圖，對實施例中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例...

半導體測試是半導體生產(chǎn)過程中的重要環(huán)節(jié)，其測試設(shè)備包括測試機、分選機、探針臺。其中，測試機是檢測芯片功能和性能的專業(yè)設(shè)備，分選機和探針臺是將芯片的引腳與測試機的功能模塊連接起來的專業(yè)設(shè)備，與測試機共同實現(xiàn)批量自動化測試。受益于國內(nèi)封裝測試業(yè)產(chǎn)能擴張，半導體測試...

芯片打點機的作用非常重要，它可以幫助制造商在芯片制造過程中實現(xiàn)以下幾個目標：1. 提高芯片的可靠性，芯片打點機可以在芯片表面打上標記，這些標記可以用來追蹤芯片的制造過程和測試結(jié)果。如果芯片出現(xiàn)問題，制造商可以通過這些標記來定位問題的原因，并采取相應(yīng)的措施來解決...

所述驅(qū)動柱102和所述帶輪106之間還設(shè)有頭一導向柱103和第二導向柱 104，所述頭一導向柱103的一端轉(zhuǎn)動連接在所述承載板101上，所述頭一導向柱103的另一端沿豎直方向朝上，所述第二導向柱104的一端轉(zhuǎn)動連接在所述承載板101上，所述第二導向柱104的另...

探針測試臺x-y工作臺的分類，縱觀國內(nèi)外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺，可編程承片臺、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測試儀（TESTER）相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類，即：...

芯片打點機的優(yōu)勢：1. 高精度，芯片打點機具有高精度的特點，可以在芯片表面上打上微小的點，以實現(xiàn)各種功能。2. 高效率，芯片打點機具有高效率的特點，可以在短時間內(nèi)完成大量的打點工作，提高生產(chǎn)效率。3. 易于操作，芯片打點機具有易于操作的特點，可以通過簡單的操作...

7中任一項的基礎(chǔ)上，所述設(shè)備主體底部設(shè)有若干支撐裝置，所述支撐裝置包括連接支撐部35，所述連接支撐部35的上表面固定在所述設(shè)備本體底部，所述連接支撐部35的下表面固定安裝有連接固定板38，所述連接固定板38套設(shè)在支撐柱43的上端，所述連接固定板38通過固定銷3...

編帶軌道帶動其上的芯片載帶向著膠膜封口裝置9方向移動，當芯片載帶移動到膠封膜口裝置9位置時，膠封膜口裝置9會通過熱壓的方式將膠膜粘連到芯片載帶上，使包裝好的芯片固定到芯片載帶中，然后由收料卷軸裝置10將包裝好芯片的芯片載帶纏繞在空載帶盤13上；載帶位置相機6會...

下面通過附圖和實施例，對本發(fā)明的技術(shù)方案做進一步的詳細描述。提供對本發(fā)明的進一步理解，并且構(gòu)成說明書的一部分，與本發(fā)明的實施例一起用于解釋本發(fā)明，并不構(gòu)成對本發(fā)明的限制。以下結(jié)合附圖對本發(fā)明的優(yōu)先選擇實施例進行說明，應(yīng)當理解，此處所描述的優(yōu)先選擇實施例只用于說...

總體而言，芯片測試機在芯片設(shè)計和生產(chǎn)中扮演著重要角色。的芯片測試機能夠為生產(chǎn)提供更高的生產(chǎn)性、更深入的測試和更高的測試效率，從而使整個芯片生產(chǎn)流程更加高效化、智能化。一顆芯片較終做到終端產(chǎn)品上，一般需要經(jīng)過芯片設(shè)計、晶圓制造、晶圓測試、封裝、成品測試、板級封裝...

所述芯片臺設(shè)置在所述設(shè)備主體上，所述芯片臺上設(shè)有芯片角度糾正裝置，所述芯片角度糾正裝置上放置有藍膜芯片，所述芯片角度糾正裝置上方設(shè)有所述芯片臺定位相機，所述芯片角度糾正裝置下方設(shè)有所述頂針組合；所述芯片臺定位相機與所述芯片角度糾正裝置之間設(shè)有所述擺臂裝置，所述...

第二z軸移動組件24包括轉(zhuǎn)矩電機240、高扭矩時規(guī)皮帶241、兩個同步帶輪242、直線導軌243。轉(zhuǎn)矩電機240固定于吸嘴基板232上，兩個同步帶輪242分別相對設(shè)置于吸嘴基板232的上下兩側(cè)，兩個同步帶輪242通過高扭矩時規(guī)皮帶241相連，轉(zhuǎn)矩電機240與其...

根據(jù)探針測試需要，XY 精密工作臺的技術(shù)要 求為：XY 向行程160 mm；精度±0.008 mm；重復 定位精度±0.003 mm；分辨率0.001 mm。在結(jié)構(gòu) 設(shè)計時，為達到上述精密控制要求選用伺服電機 驅(qū)動，全閉環(huán)運動控制；整個工作臺需要放置于真 空腔...

探針臺-芯片測試必備設(shè)備，芯片測試必備設(shè)備之手動探針臺，集成單筒顯微鏡帶高清1080PCCD相機，較大變焦后可清晰觀看1微米光刻晶圓ID號。配置三維磁吸探針座，1微米移動。加載同軸LED光源，實現(xiàn)高清芯片內(nèi)部電路圖像對比度，可觀察芯片之美。探針針尖可小于1微米...

所述頭一測試探針和第二測試探針分別固定在固定架上。采用本實用新型的優(yōu)點在于本實用新型中，所述打點標記針包括頭一打點標記針和第二打點標記針，所述測試探針包括與頭一打點標記針配合的頭一測試探針和與第二打點標記針配合的第二測試探針，頭一測試探針和第二測試探針位于頭一...

該芯片自動燒錄與打點裝置將芯片打點以及燒錄作業(yè)集成到一個裝置上完成，較大程度上減少了工人在不同模塊間操作的時間，提高了生產(chǎn)效率，利用上料組件與收料組件自動對料盤進行上料與收料工作，較大程度上提升了生產(chǎn)過程的自動化程度。可以理解的是，雖然圖1中給出了一種上料區(qū)3...

探針臺的作用是什么？探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測試儀器/半導體測試系統(tǒng)配合來測試芯片/半導體器件。晶圓檢測是半導體制造中必不可少的步驟，選擇合適的晶圓探針臺和探針來進行晶圓檢測也很重要?？寺逯Z斯較新自主研發(fā)的超精密氣浮運動...

總體而言，芯片測試機在芯片設(shè)計和生產(chǎn)中扮演著重要角色。的芯片測試機能夠為生產(chǎn)提供更高的生產(chǎn)性、更深入的測試和更高的測試效率，從而使整個芯片生產(chǎn)流程更加高效化、智能化。一顆芯片較終做到終端產(chǎn)品上，一般需要經(jīng)過芯片設(shè)計、晶圓制造、晶圓測試、封裝、成品測試、板級封裝...

傳統(tǒng)的芯片測試，一般由測試廠商統(tǒng)一為芯片生產(chǎn)廠商進行測試。隨著越來越多的芯片公司的誕生，芯片測試需求也日益增多。對于成熟的大規(guī)模的芯片廠而言，由于其芯片產(chǎn)量大，往往會在測試廠商的生產(chǎn)計劃中占據(jù)一定的優(yōu)勢。而對于小規(guī)模的芯片廠的小批量芯片而言，其往往在測試廠的測...

在設(shè)定打點坐標文件與打標機20的打點模板時，將打標機20的光標預覽設(shè)定到待打點條狀芯片200的左上角頭一顆芯片201，設(shè)置為打標的頭一顆坐標“(01,01)”，即是，設(shè)定條狀芯片200的左上角為打點坐標原點；再根據(jù)待打點條狀芯片200的芯片單體201行、列排列...

測試系統(tǒng)的基本工作機制：對測試機進行編寫程序，從而使得測試機產(chǎn)生任何類型的信號，多個信號一起組成測試模式或測試向量，在時間軸的某一點上向DUT施加一個測試向量，將DUT產(chǎn)生的輸出反饋輸入測試機的儀器中測量其參數(shù)，把測量結(jié)果與存儲在測試機中的“編程值”進行比較，...

技術(shù)實現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的是提供一種條狀芯片智能打點系統(tǒng)，以能夠?qū)l狀芯片產(chǎn)品中的不良品進行自動識別和打點。本發(fā)明的另一目的是提供一種條狀芯片智能打點方法，以對條狀芯片產(chǎn)品中的不良品進行自動識別和打點。為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明公開了一種條狀芯片智能打點系統(tǒng)，用...