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XPS對于測量CEI膜的厚度有一定的局限性，因為它是一種表面敏感的技術(shù)，通常只能探測到幾個納米深度的信息。不過，通過對比不同循環(huán)次數(shù)后正極表面的XPS信號強度，可以間接推斷CEI膜的生長情況。循環(huán)前后對比：對比電池在循環(huán)前和循環(huán)后的XPS譜圖，可以觀察到由于C...

TEM測試支撐方式及柵網(wǎng)的選擇通常自支撐樣品是通過塊體材料的減薄來制取的，往往一種材料也可以是復(fù)合材料經(jīng)過加工，形成3.05 mm的圓片，適合分析的地方一般是樣品Z薄的地方，而其他樣品則是放在微柵或者銅環(huán)上。關(guān)于減薄科學(xué)指南針將在FIB一節(jié)講解，首先討論不同類...

鋰電池在使用過程中可能會出現(xiàn)性能衰減、容量下降等問題，這些失效現(xiàn)象往往與材料微觀結(jié)構(gòu)的變化有關(guān)。通過TEM技術(shù)，可以觀察和分析鋰電池在充放電循環(huán)、高溫、過充等條件下的微觀結(jié)構(gòu)變化，揭示失效機制，為鋰電池的改進和優(yōu)化提供指導(dǎo)。科學(xué)指南針的專業(yè)團隊由經(jīng)驗豐富的材料...

電池材料的摻雜改性是提高其性能的有效途徑之一。通過向材料中添加少量其他元素或化合物，可以改變材料的晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)等性質(zhì)，從而提高其電化學(xué)性能。在摻雜改性研究中，X射線光電子能譜（XPS）技術(shù)因其獨特的優(yōu)勢而備受關(guān)注。通過XPS技術(shù)，可以分析摻雜元素在材料表...

此外，XPS還可用于研究表面吸附、脫附和表面反應(yīng)動力學(xué)等過程，為表面化學(xué)的研究提供重要參考。隨著納米技術(shù)的快速發(fā)展，對納米材料的研究需求日益迫切。XPS作為一種表面分析技術(shù)，對于納米材料的表征具有重要意義。它能夠測量納米材料表面的元素分布、化學(xué)鍵合狀態(tài)和電子結(jié)...

XPS 的樣品一般是 5mm*5mm*3mm, 也可以更小些。XPS 分析室的真空度可以達(dá)到

透射電鏡（TEM）是一種高分辨率的顯微鏡，可以觀察到材料的微觀結(jié)構(gòu)和化學(xué)成分。在鋰電池的正負(fù)極材料中，TEM可以用來觀察納米級別的粒子和晶格結(jié)構(gòu)，以及確定材料中某些元素的分布情況。這對于理解材料的性能、優(yōu)化材料的組成和結(jié)構(gòu)具有重要意義。鋰電解液是鋰離子電池的重...

通過XPS技術(shù)，可以分析正極材料表面的元素組成和化學(xué)狀態(tài)，了解其在充放電過程中的變化，從而優(yōu)化正極材料的性能；XPS技術(shù)可以揭示負(fù)極材料表面的化學(xué)狀態(tài)，如鋰離子的嵌入和脫出過程，為改進負(fù)極材料的性能提供理論依據(jù)；利用XPS技術(shù)，可以分析電極材料與電解液之間的界...

合金是一項強大的技術(shù)，使各種半導(dǎo)體能夠用于可調(diào)諧光學(xué)和電子器件陣列。XPS在一般合金中的作用是分析表面金屬元素，都存在零價態(tài)證明其以合金形式存在，氧化態(tài)證明合金表面部分氧化。而Birol Ozturk等人一開始將VI族元素（O）可調(diào)地結(jié)合到蜂窩狀sp2型2D-...

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。193...

原位實驗是指在保持樣品原始狀態(tài)的情況下進行觀察和測試的實驗方法。當(dāng)TEM透射電鏡用于原位實驗時，可以實時觀察樣品在特定條件下的結(jié)構(gòu)和性能變化，為化學(xué)反應(yīng)、相變過程等研究提供直觀的證據(jù)。盡管TEM透射電鏡具有許多優(yōu)點，但也存在一些局限性。例如，它只能觀察樣品的二...

在鋰電池負(fù)極材料的研究中，XPS技術(shù)主要用于分析材料的表面元素組成、化學(xué)狀態(tài)以及電子結(jié)構(gòu)。通過對負(fù)極材料表面的深入分析，研究人員可以更準(zhǔn)確地了解材料與電解液之間的相互作用，以及材料在充放電過程中的電化學(xué)行為。固體電解質(zhì)界面（SEI）膜是鋰電池負(fù)極在一開始充放電...

鋰離子電池負(fù)極材料的顆粒性質(zhì)對LIBs的初次效率、循環(huán)性能等有重重要影響,通常會使用SEM掃描電鏡觀察負(fù)極材料的顆粒尺寸、粒徑、形貌等特征。目前負(fù)極材料主要包括碳負(fù)極材料、金屬氧化物、合金材料和硅基材料。碳材料是目前常用的負(fù)極材料,包括石墨、軟碳、硬碳和一...

圖像XPS技術(shù)的發(fā)展,很大促進了XPS在新材料研究上的應(yīng)用。在譜儀的能量分析檢測器方面,也從傳統(tǒng)的單通道電子倍增器檢測器發(fā)展到位置靈敏檢測器和多通道檢測器,使得檢測靈敏度獲得了大幅度的提高。計算機系統(tǒng)的大范圍地采用,使得采樣速度和譜圖的解析能力也有了很大的提高...

X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內(nèi)層電子或價電子受激發(fā)射出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子，可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標(biāo)，相對強度(脈沖/s...

SEM掃描電鏡可以提供電池材料的表面形貌圖像，幫助技術(shù)人員更好地了解材料的表面微觀結(jié)構(gòu)、顆粒大小、分布情況等信息，從而實現(xiàn)對材料性能的初步評估；配備的能譜儀EDS等附件可以實現(xiàn)對電池材料中元素成分的分析，幫助了解材料的基本成分和元素分布情況，為進一步研究材...

XPS對于測量CEI膜的厚度有一定的局限性，因為它是一種表面敏感的技術(shù)，通常只能探測到幾個納米深度的信息。不過，通過對比不同循環(huán)次數(shù)后正極表面的XPS信號強度，可以間接推斷CEI膜的生長情況。循環(huán)前后對比：對比電池在循環(huán)前和循環(huán)后的XPS譜圖，可以觀察到由于C...

通過XPS技術(shù)，可以分析正極材料表面的元素組成和化學(xué)狀態(tài)，了解其在充放電過程中的變化，從而優(yōu)化正極材料的性能；XPS技術(shù)可以揭示負(fù)極材料表面的化學(xué)狀態(tài)，如鋰離子的嵌入和脫出過程，為改進負(fù)極材料的性能提供理論依據(jù)；利用XPS技術(shù)，可以分析電極材料與電解液之間的界...

通過測試充電到不同電壓后儲存一周的材料表面XPS信息，發(fā)現(xiàn)在高脫鋰態(tài)下儲存的電極表面的XPS信息中C-O和C=O基團的含量增多，說明Li2CO3的含量提高。其中的F1s，P2p對應(yīng)的峰面積變化不大。從XPS元素分析可以得出，材料表面的SEI膜主要組成為：PEC...

XPS 樣品的安裝一般是把粉末樣品粘在雙面膠帶上或壓入銦箔（或金屬網(wǎng)）內(nèi)，塊狀樣品可直接夾在樣品托上或用導(dǎo)電膠帶粘在樣品托上進行測定。其它方法：1.壓片法：對疏松軟散的樣品可用此法。2.溶解法：將樣品溶解于易揮發(fā)的有機溶劑中，然后將其滴在樣品托上讓其晾干或吹干...

XPS的表面敏感性及其對超高壓的要求使其應(yīng)用于電極/電解質(zhì)界面相當(dāng)復(fù)雜；液體電解質(zhì)顯然與真空條件不兼容，這使得真正的原位測量變得困難。非原位電化學(xué)XPS是指將所研究的材料從原始電化學(xué)電池中取出并轉(zhuǎn)移到真空室的研究，通常這將涉及在手套箱中拆卸并使用合適的惰性轉(zhuǎn)移...

XPS 的樣品一般是 5mm*5mm*3mm, 也可以更小些。XPS 分析室的真空度可以達(dá)到

化學(xué)梯度是基板表面兩點之間的化學(xué)變化的區(qū)域,在單實驗中探測不同表面化學(xué)性質(zhì)的影響時十分有用。XPS和角度分辨XPS可用于表征表面存在化學(xué)梯度的超薄共聚物，以1,7-辛二烯和丙烯酸共聚物為例，此類共聚物以等離子體沉積的方法制備，隨基板的運動，兩種揮發(fā)性的單體比例...

通過XPS技術(shù)，可以分析正極材料表面的元素組成和化學(xué)狀態(tài)，了解其在充放電過程中的變化，從而優(yōu)化正極材料的性能；XPS技術(shù)可以揭示負(fù)極材料表面的化學(xué)狀態(tài)，如鋰離子的嵌入和脫出過程，為改進負(fù)極材料的性能提供理論依據(jù)；利用XPS技術(shù)，可以分析電極材料與電解液之間的界...

圖像XPS技術(shù)的發(fā)展,很大促進了XPS在新材料研究上的應(yīng)用。在譜儀的能量分析檢測器方面,也從傳統(tǒng)的單通道電子倍增器檢測器發(fā)展到位置靈敏檢測器和多通道檢測器,使得檢測靈敏度獲得了大幅度的提高。計算機系統(tǒng)的大范圍地采用,使得采樣速度和譜圖的解析能力也有了很大的提高...

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學(xué)顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細(xì)微結(jié)構(gòu)，這些結(jié)構(gòu)稱為亞顯微結(jié)構(gòu)或超微結(jié)構(gòu)。要想看清這些結(jié)構(gòu)，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率。193...

晶體結(jié)構(gòu)可以通過高分辨率透射電子顯微鏡來研究，這種技術(shù)也被稱為相襯顯微技術(shù)。當(dāng)使用場發(fā)射電子源的時候，觀測圖像通過由電子與樣品相互作用導(dǎo)致的電子波相位的差別重構(gòu)得出。然而由于圖像還依賴于射在屏幕上的電子的數(shù)量，對相襯圖像的識別更加復(fù)雜。非晶樣品透射電子顯微圖象...

常規(guī)材料TEM樣品主要有粉末、纖維、薄膜、塊材幾種。良好的TEM樣品必須是均勻減薄的，具有良好的導(dǎo)電性且不帶磁性，這樣才能保證足夠多的電子透過樣品，足夠程度的延長TEM儀器的使用壽命。 （1）直接滴取：適合大多數(shù)粉末樣品。制備出的粉末樣品可以直接使用中性溶液分...

TEM系統(tǒng)由以下幾部分組成：電子槍：發(fā)射電子。由陰極，柵極和陽極組成。陰極管發(fā)射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經(jīng)陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速和加壓的作用。聚光鏡：將電子束聚集得到平行光源。樣品桿：裝載需觀察的樣品。物鏡：聚焦成像，一次放大。中...