光伏電站的收益好壞，取決于光伏組件的發(fā)電效率，而影響光伏組件發(fā)電效率的因素可通過EL檢測分析出來并加以改善。EL英文全稱ElectroLuminescence，即電致發(fā)光，也可以叫電子發(fā)光檢測。是根據(jù)半導(dǎo)體輻射復(fù)合釋放光子的特點(diǎn)，對(duì)組件施加正向電壓注入非平衡載流子，并通過光子探測器接收非平衡載流子輻射復(fù)合釋放的光子，非平衡載流子濃度越高（正常區(qū)域）釋放的光子越多，EL顯示圖像越亮；非平衡載流子濃度越低（缺點(diǎn)區(qū)域）釋放的光子越少，EL圖像越暗，通過圖像明暗關(guān)系即可反應(yīng)組件內(nèi)部電池缺點(diǎn)情況。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司致力于提供檢測，竭誠為您服務(wù)。廣東組件檢測儀器

倉庫內(nèi)或者室內(nèi)檢測：白天，如無強(qiáng)烈太陽光照射，可直接將紅外相機(jī)放置在三腳架上，對(duì)著組件進(jìn)行內(nèi)部缺陷的檢測。如有強(qiáng)烈太陽能光照射則需要搭建防簡易帳篷組件紅外暗室，在暗室內(nèi)將組件抬進(jìn)去EL檢測。夜晚，也是直接使用紅外相機(jī)防止三腳架上進(jìn)行檢測，無需暗室(該EL檢測儀不受月光的干擾)。此相機(jī)已經(jīng)經(jīng)過濾光處理，月光，燈光對(duì)于測試無任何影響。檢測有問題的組件取出來退換。電站現(xiàn)場室外戶外檢測：白天，陽光下檢測需搭建防紅外暗室?guī)づ瘢Х沤M件進(jìn)暗室進(jìn)行EL內(nèi)部缺陷檢測。夜晚，組件檢測直接使用紅外相機(jī)三腳架進(jìn)行檢測，設(shè)備自帶移動(dòng)電源以便戶外上電使用。此過程中檢測問題的組件可直接進(jìn)行支架上安裝。廣東組件檢測儀器上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司致力于提供檢測，有需要可以聯(lián)系我司哦！

輸入的直流功率取決逆變器工作在光伏陣列的電流-電壓曲線上的哪一個(gè)點(diǎn)上。理想狀態(tài)下，逆變器應(yīng)工作在太陽能光伏陣列的最大功率峰值上。最大功率峰值在內(nèi)是不同的，主要是由于環(huán)境的作用，如太陽光的輻射和溫度，但逆變器通過一個(gè)具有最大功率峰值的運(yùn)算器來直接與光伏陣列相連，達(dá)到能量轉(zhuǎn)移的比較大化。最大功率峰值的比較大效率可以定義為在定義的一段時(shí)間內(nèi)逆變器從太陽能陣列獲得的能量與理想狀態(tài)下的最大功率峰值從太陽能陣列獲得的能量的比率。許多最大功率峰值的運(yùn)算法是建立在不同的基礎(chǔ)上的，其參數(shù)有增量電導(dǎo)、寄生電容、恒定電壓、電壓的溫度修正和模糊邏輯控制等。盡管如此，這種運(yùn)算還是有些局限的地方，這將使最大功率峰值的效率在某些特定條件下有所降低。在非常低的太陽光輻射下，功率曲線變得非常平滑，找到最大功率峰值變得非常困難。

光伏組件性能的檢測光伏電站運(yùn)行一段時(shí)間后，需要進(jìn)行檢測，來確定光伏電站的性能。涉及光伏組件的，主要包含以下項(xiàng)目。1、功率衰減測試光伏組件運(yùn)行1年和25年后的衰減率到底有多少？25年太久，現(xiàn)在可能還沒有運(yùn)行這么長時(shí)間的電站。按國家標(biāo)準(zhǔn)，晶硅電池2年的衰減率應(yīng)該在3.2%以內(nèi)。但目前這個(gè)數(shù)據(jù)還真的很難說，原因有三：1）光伏組件出場功率是用實(shí)驗(yàn)室標(biāo)準(zhǔn)光源和測試環(huán)境標(biāo)定的，但似乎國內(nèi)不同廠家的標(biāo)準(zhǔn)光源是存在一定的差異的。那在A廠標(biāo)定的250W的組件，到了B廠，可能就是245W的組件的。2）現(xiàn)場檢測所用的儀器精確度較差，據(jù)說5%以內(nèi)的誤差都是可以接受的。用誤差5%的儀器，測2%（1年）的衰減，難度有些大，結(jié)果也令人懷疑。上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司致力于提供檢測，歡迎您的來電哦！

電位誘發(fā)衰減效應(yīng)是電池組件長期在高電壓作用下，使玻璃、封裝材料之間存在漏電流，大量電荷狙擊在電池片表面，使得電池表面的鈍化效果惡化，導(dǎo)致組件性能低于設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)。PID現(xiàn)象嚴(yán)重時(shí)，會(huì)引起一塊組件功率衰減50%以上，從而影響整個(gè)組串的功率輸出。一是系統(tǒng)設(shè)計(jì)原因：光伏電站的防雷接地是通過將方陣邊緣的組件邊框接地實(shí)現(xiàn)的，這就造成在單個(gè)組件和邊框之間形成偏壓，組件所處偏壓越高則發(fā)生PID現(xiàn)象越嚴(yán)重。對(duì)于P型晶硅組件，通過有變壓器的逆變器負(fù)極接地，消除組件邊框相對(duì)于電池片的正向偏壓會(huì)有效的預(yù)防PID現(xiàn)象的發(fā)生，但逆變器負(fù)極接地會(huì)增加相應(yīng)的系統(tǒng)建設(shè)成本;二是光伏組件原因：高溫、高濕的外界環(huán)境使得電池片和接地邊框之間形成漏電流，封裝材料、背板、玻璃和邊框之間形成了漏電流通道。通過使用改變絕緣膠膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是實(shí)現(xiàn)組件抗PID的方式之一，在使用不同EVA封裝膠膜條件下，組件的抗PID性能會(huì)存在差異。三是電池片原因：電池片方塊電阻的均勻性、減反射層的厚度和折射率等對(duì)PID性能都有著不同的影響。上述引起PID現(xiàn)象的三方面中，由在光伏系統(tǒng)中的組件邊框與組件內(nèi)部的電勢差而引起的組件PID現(xiàn)象被行業(yè)所公認(rèn)。檢測，就選上海歐普泰科技創(chuàng)業(yè)股份有限公司，讓您滿意，歡迎新老客戶來電！浙江產(chǎn)品瑕疵檢測設(shè)備

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EL（Electroluminescence，電致發(fā)光）是簡單有效的檢測隱裂的方法。其檢測原理如下。電池片的部分是半導(dǎo)體PN結(jié)，在沒有其它激勵(lì)（例如光照、電壓、溫度）的條件下，其內(nèi)部處于一個(gè)動(dòng)態(tài)平衡狀態(tài)，電子和空穴的數(shù)量相對(duì)保持穩(wěn)定。如果施加電壓，半導(dǎo)體中的內(nèi)部電場將被削弱，N區(qū)的電子將會(huì)被推向P區(qū)，與P區(qū)的空穴復(fù)合（也可理解為P區(qū)的空穴被推向N區(qū)，與N區(qū)的電子復(fù)合），復(fù)合之后以光的形式輔射出去，即電致發(fā)光。當(dāng)被施加正向偏壓之后，晶體硅電池就會(huì)發(fā)光，波長1100nm左右，屬于紅外波段，肉眼觀測不到。因此，在進(jìn)行EL測試時(shí)，需利用CCD相機(jī)輔助捕捉這些光子，然后通過計(jì)算機(jī)處理后以圖像的形式顯示出來。給晶硅組件施加電壓后，所激發(fā)出的電子和空穴復(fù)合的數(shù)量越多，其發(fā)射出的光子也就越多，所測得的EL圖像也就越亮；如果有的區(qū)域EL圖像比較暗，說明該處產(chǎn)生的電子和空穴數(shù)量較少，該處存在缺點(diǎn)；如果有的區(qū)域完全是暗的，該處沒有發(fā)生電子和空穴的復(fù)合，也或者是所發(fā)光被其它障礙所遮擋，無法檢測到信號(hào)。廣東組件檢測儀器