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國(guó)產(chǎn)光譜共焦找誰

來源: 發(fā)布時(shí)間:2024-08-30

光譜共焦位移傳感器可以嵌入2D掃描系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)量,提供有關(guān)負(fù)載表面形貌的2D和高度測(cè)量數(shù)據(jù)。它的創(chuàng)新原理使傳感器能夠直接透過透明工件的前后表面進(jìn)行厚度測(cè)量,并且只需要使用一個(gè)傳感器從工件的一側(cè)進(jìn)行測(cè)量。相較于三角反射原理的激光位移傳感器,因采用同軸光,所以光譜共焦位移傳感器可以更有效地測(cè)量弧形工件的厚度。該傳感器采樣頻率高,體積小,且?guī)в斜憬莸臄?shù)據(jù)接口,因此很容易集成到在線生產(chǎn)和檢測(cè)設(shè)備中 實(shí)現(xiàn)線上檢測(cè)。由于采用超高的采樣頻率和超高的精度,該傳感器可以對(duì)震動(dòng)物體進(jìn)行測(cè)量,同時(shí)采用無觸碰設(shè)計(jì),避免了測(cè)量過程中對(duì)震動(dòng)物體的干擾,也可以對(duì)復(fù)雜區(qū)域進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)量和分析 。光譜共集技術(shù)可以在不同領(lǐng)域的科學(xué)研究中發(fā)揮重要作用。國(guó)產(chǎn)光譜共焦找誰

差動(dòng)共焦拉曼光譜測(cè)試方法是一種通過激光激發(fā)樣品產(chǎn)生拉曼散射信號(hào),并利用差動(dòng)共焦顯微鏡提高空間分辨率、抑制激光背景和表面散射等干擾信號(hào)的非接觸式拉曼光譜測(cè)試方法。該方法將樣品放置于差動(dòng)共焦顯微鏡中,利用兩束激光在焦平面聚焦下的共焦點(diǎn)對(duì)樣品進(jìn)行局部激發(fā),產(chǎn)生拉曼散射信號(hào)。其中一束激光在焦平面發(fā)生微小振動(dòng),通過檢測(cè)二者之間的光路差異,可以抑制激光背景和表面散射等干擾信號(hào)。該方法具有高空間分辨率和高信噪比等特點(diǎn),可以實(shí)現(xiàn)微區(qū)域的化學(xué)組成分析和表征。該方法可用于單個(gè)納米顆粒、生物組織、納米線、nanofilm等微型樣品的表征,以及材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域的研究。需要注意的是,在差動(dòng)共焦拉曼光譜測(cè)試中,樣品的濃度、表面性質(zhì)、對(duì)激光的散射能力等都會(huì)影響測(cè)試結(jié)果,因此需要對(duì)不同樣品進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚砗蛢?yōu)化 。國(guó)內(nèi)光譜共焦市場(chǎng)光譜共焦位移傳感器在微機(jī)電系統(tǒng)、生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用。

光譜共焦技術(shù)是在共焦顯微術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展而來,其無需軸向掃描,直接由波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)軸向距離信息,從而大幅提高測(cè)量速度。而基于光譜共焦技術(shù)的傳感器是近年來出現(xiàn)的一種高精度、非接觸式的新型傳感器,精度理論上可達(dá) nm 量級(jí)。由于光譜共焦傳感器對(duì)被測(cè)表面狀況要求低,允許被測(cè)表面有更大的傾斜角 ,測(cè)量速度快,實(shí)時(shí)性高,迅速成為工業(yè)測(cè)量的熱門傳感器,大量應(yīng)用于精密定位、薄膜厚度測(cè)量、微觀輪廓精密測(cè)量等領(lǐng)域。本文在論述光譜共焦技術(shù)原理的基礎(chǔ)上,列舉了光譜共焦傳感器在幾何量計(jì)量測(cè)試中的典型應(yīng)用,探討共焦技術(shù)在未來精密測(cè)量的進(jìn)一步應(yīng)用,展望其發(fā)展前景。

由于每一個(gè)波長(zhǎng)都可以固定一個(gè)距離值,因此,通過將光譜山線峰值波長(zhǎng)確定下來,就可以將精確的距離值推算出來。假設(shè)傳感器與物體表面存在相對(duì)移動(dòng),此時(shí)物體表面的中心點(diǎn)恰好處在單色光(A1)的像點(diǎn)處,可以作出光譜儀探測(cè)到的光譜曲線。通過測(cè)量得到不同的波長(zhǎng)值,可以將物體表面不同點(diǎn)之間的相對(duì)位移值計(jì)算出來。如果配上精細(xì)的掃描機(jī)構(gòu),就可以對(duì)整體的二維表面輪廓及形貌進(jìn)行精確的測(cè)量。相比其他傳統(tǒng)的位移傳感器 ,光譜共焦傳感器憑借獨(dú)特的測(cè)量原理,具有測(cè)量效率高、精度高、體積小、非接觸等特點(diǎn),在各個(gè)領(lǐng)域都得到了大量的應(yīng)用。激光位移傳感器的應(yīng)用主要是用于非標(biāo)的特定檢測(cè)設(shè)備中。

背景技術(shù):光學(xué)測(cè)量與成像技術(shù),通過光源、被測(cè)物體和探測(cè)器三點(diǎn)共,去除焦點(diǎn)以外的雜散光,得到比傳統(tǒng)寬場(chǎng)顯微鏡更高的橫向分辨率,同時(shí)由于引入圓孔探測(cè)具有了軸向深度層析能力,通過焦平面的上下平移從而得到物體的微觀三維空間結(jié)構(gòu)信息。這種三維成像能力使得共焦三維顯微成像技背景技術(shù):光學(xué)測(cè)量與成像技術(shù),通過光源、被測(cè)物體和探測(cè)器三點(diǎn)共,去除焦點(diǎn)以外的雜散光,得到比傳統(tǒng)寬場(chǎng)顯微鏡更高的橫向分辨率,同時(shí)由于引入圓孔探測(cè)具有了軸向深度層析能力,通過焦平面的上下平移從而得到物體的微觀三維空間結(jié)構(gòu)信息。這種三維成像能力使得共焦三維顯微成像技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、材料分析、工業(yè)探測(cè)及計(jì)量等各種不同的領(lǐng)域之中。現(xiàn)有的光學(xué)測(cè)量術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)、材料分析、工業(yè)探測(cè)及計(jì)量等各種不同的領(lǐng)域之中。現(xiàn)有的光學(xué)測(cè)量與成像技術(shù)主要激光成像,其功耗大、成本高,而且精度較差,難以勝任復(fù)雜異形表面(如曲面、弧面、凸凹溝槽等)的高精度、穩(wěn)定檢測(cè)或者成像的光譜共焦成像技術(shù)比激光成像具有更高的精度,而且能夠降低功耗和成本但現(xiàn)有的光譜共焦檢測(cè)設(shè)備大都是靜態(tài)檢測(cè),檢測(cè)效率低,而且難以勝任復(fù)雜異形表面 。光譜共焦技術(shù)的發(fā)展將促進(jìn)相關(guān)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。自動(dòng)測(cè)量?jī)?nèi)徑光譜共焦檢測(cè)

光譜共焦技術(shù)在電子制造領(lǐng)域可以用于電子元件的精度檢測(cè)和測(cè)量。國(guó)產(chǎn)光譜共焦找誰

在塑料薄膜及透明材料薄厚測(cè)量層面,朱萬彬等闡述了光譜共焦傳感器在測(cè)量全透明平板電腦的平整度時(shí),由全透明平板電腦的折光率不同而引進(jìn)的測(cè)量誤差并進(jìn)行補(bǔ)償;曹太騰等基千三維數(shù)據(jù) 測(cè)量的機(jī)器視覺技術(shù),利用光譜共焦傳感器對(duì)透明材料薄厚及弧形玻璃曲面薄厚進(jìn)行檢測(cè)。在外表粗糙度測(cè)量層面,沈雪琴等闡述了不一樣 方式測(cè)量外表粗糙度時(shí)優(yōu)缺點(diǎn) ,選擇了根據(jù)光譜共焦傳感器的測(cè)量方式并進(jìn)行了有關(guān)試驗(yàn),為外表粗糙度的高精密測(cè)量提供了一種新方法;林杰俊等利用光譜共焦法測(cè)量外表粗糙度樣塊的表面粗糙度,并闡述了其 測(cè)量不確定度。文中利用 小二乘法測(cè)算校準(zhǔn)誤差并進(jìn)行了離散系統(tǒng)誤差測(cè)算,減少光譜共焦傳感器校準(zhǔn)后的誤差,并在不同精密度標(biāo)準(zhǔn)器下,探尋光譜共焦傳感器的校準(zhǔn)誤差的變化情況 ,對(duì)今后對(duì)光譜共焦傳感器的應(yīng)用及科學(xué)研究擁有重要意義。國(guó)產(chǎn)光譜共焦找誰