功能系統(tǒng)測(cè)試原理：FST是function system test的簡(jiǎn)稱(chēng)，功能系統(tǒng)測(cè)試可以測(cè)試一個(gè)PCBA的單板系統(tǒng)能否實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)，它將線路板上的被測(cè)單元作為一個(gè)功能體，對(duì)其提供輸入信號(hào)，按照功能體的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)輸出信號(hào)。功能系統(tǒng)測(cè)試中的激勵(lì)信號(hào)源可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn)，如任意波形發(fā)生器，任意函數(shù)發(fā)生器，邏輯信號(hào)發(fā)生器等，也可以使用自己設(shè)計(jì)的硬件系統(tǒng)來(lái)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)，采用前者相對(duì)成本較高。功能系統(tǒng)測(cè)試中的輸出信號(hào)的檢測(cè)可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn)，如示波器，頻譜分析儀等，也可以使用定制的數(shù)據(jù)采集和分析模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)。輸出信號(hào)的分析和測(cè)試結(jié)果的保存往往要用計(jì)算機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)，所以就引出了計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)硬件的數(shù)據(jù)傳輸和控制的問(wèn)題。計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)常用的通信方式有GPIB總線、PCI總線、RS232串口、USB等，通信方式的選擇需要根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的硬件選擇和測(cè)試對(duì)于數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俣刃枨鬀Q定。集成功能測(cè)試系統(tǒng)可同時(shí)測(cè)試多個(gè)功能。上海小型測(cè)試系統(tǒng)有什么用

ICT測(cè)試要做到故障定位準(zhǔn)、測(cè)試穩(wěn)定，與電路和PCB設(shè)計(jì)有很大關(guān)系。原則上我們要求每一個(gè)電路網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)都有測(cè)試點(diǎn)。電路設(shè)計(jì)要做到各個(gè)器件的狀態(tài)進(jìn)行隔離后，可互不影響。對(duì)邊界掃描、Nand-Tree的設(shè)計(jì)要安裝可測(cè)性要求。為了確保對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能測(cè)試，就必須強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)器件的邏輯電平，各腳驅(qū)動(dòng)器必須能夠吸收或輸出足夠的電流。根據(jù)國(guó)際防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)文件（00-53/1）所推薦的后驅(qū)動(dòng)安全標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試儀的較大驅(qū)動(dòng)電流被設(shè)計(jì)為240mA，測(cè)試時(shí)間在200ms以?xún)?nèi)。通過(guò)實(shí)驗(yàn)，基本能夠較好地對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行隔離，同時(shí)也確保了被測(cè)器件的安全性。上海小型測(cè)試系統(tǒng)有什么用環(huán)保型測(cè)試：功能測(cè)試系統(tǒng)在保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí)，降低能源消耗和環(huán)境污染。

PCBA通用型自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)ETE-A100，是針對(duì)滯后的手工測(cè)試以及為了滿(mǎn)足PCBA測(cè)試在操作簡(jiǎn)便性上的需求而誕生的 。由于測(cè)試系統(tǒng)的強(qiáng)大，可對(duì)各種PCBA進(jìn)行測(cè)試，成為通用化測(cè)試系統(tǒng)。檢測(cè)原理人性化：通過(guò)對(duì)樣板的參數(shù)采集，設(shè)定誤差范圍，與被測(cè)板進(jìn)行比較并判斷是否合格。測(cè)試操作簡(jiǎn)易化：只需手動(dòng)將針床壓合，系統(tǒng)就會(huì)自動(dòng)化處理，并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果，免去人為判斷因素，其速度是手動(dòng)測(cè)試無(wú)法比擬的。系統(tǒng)由采集、控制板卡及測(cè)試軟件組成，外接可編程AC/DC電源和直流負(fù)載，高采樣率產(chǎn)品可選配外接示波器。

嵌入式MCU的特點(diǎn)是執(zhí)行速度快、操作簡(jiǎn)單，但這種實(shí)現(xiàn)方式的專(zhuān)門(mén)使用性較強(qiáng)不容易擴(kuò)展?；赑LC的控制方式，其重點(diǎn)在于控制部分，測(cè)量功能相對(duì)較弱，比較適合以控制為主的場(chǎng)合?；赑C的控制方式使用較為普遍，它具有PC機(jī)價(jià)格低廉、數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大、測(cè)試程序開(kāi)發(fā)工具豐富等優(yōu)點(diǎn)。由于UUT的輸入輸出管腳數(shù)量較多，信號(hào)種類(lèi)復(fù)雜，為滿(mǎn)足自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的通用性，在ITA設(shè)計(jì)時(shí)， 必須采用多通道開(kāi)關(guān)，(1)是對(duì)PCB的信號(hào)通道進(jìn)行自動(dòng)切換；(2)是對(duì)PCB的信號(hào)進(jìn)行調(diào)理，使調(diào)理后的信號(hào)能夠滿(mǎn)足測(cè)試儀器的量程范圍；(3)是對(duì)PCB和測(cè)試儀器的保護(hù)，避免操作失誤或外界干擾而對(duì)PCBA和測(cè)試設(shè)備造成損壞。功能測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展將不斷推動(dòng)電子行業(yè)的進(jìn)步與發(fā)展。

驅(qū)動(dòng)控制電路主要完成測(cè)試過(guò)程中TTL、CMOS測(cè)試門(mén)限的控制，選用4重SPST（單刀單擲）DG211模擬開(kāi)關(guān)，開(kāi)關(guān)控制由譯碼電路及74LS373鎖存器完了成。為保證DG211開(kāi)機(jī)時(shí)處于常開(kāi)（OFF）狀態(tài)，控制線增加上拉電阻（10kΩ）。測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路為被測(cè)芯片施加測(cè)試輸入信號(hào)，采用微型繼電器進(jìn)行輸入信號(hào)控制，測(cè)試信號(hào)由數(shù)據(jù)緩沖器74ACT244產(chǎn)生。為保證輸入電流達(dá)到設(shè)計(jì)要求，采用4路并聯(lián)方式。為防止損壞器件，增加LC網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行大電流緩沖，并設(shè)計(jì)二極管保護(hù)電路。現(xiàn)代化的測(cè)試手段：功能測(cè)試系統(tǒng)融合了現(xiàn)代科技，為電子設(shè)備提供更為精確、快速的檢測(cè)。常州現(xiàn)代測(cè)試系統(tǒng)有什么用

電池功能測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)電池性能和容量。上海小型測(cè)試系統(tǒng)有什么用

示例，提供了分別對(duì)應(yīng)ICT和FCT的硬件及軟件模塊，可以測(cè)試空調(diào)、冰箱等家電控制板，使電路板的ICT和FCT 測(cè)試可以在同一個(gè)針床和同一道工序上完成。而且即使客戶(hù)需要更高的吞吐量、更寬的產(chǎn)品種類(lèi)、更自動(dòng)的流水線方式，都依然可以通過(guò)這種低成本方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。這些特點(diǎn)為本身具有更高測(cè)試需求同時(shí)不希望增加測(cè)試成本的客戶(hù)提供了較好的解決方案。良品/不良品分揀功能：通過(guò)對(duì)HD-1000進(jìn)行輕松編程，可以根據(jù)電路板的OK/NG測(cè)試結(jié)果，自動(dòng)使NG的不良品組件流入收納箱或暫存軌道，使OK的良品組件流入正常的下一道工序。上海小型測(cè)試系統(tǒng)有什么用