測(cè)試儀主要功能，測(cè)試儀采用電路在線測(cè)試技術(shù)，可以用來(lái)在線或離線測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見(jiàn)故障，測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。數(shù)字芯片的功能測(cè)試測(cè)試的基本原理是檢測(cè)并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測(cè)芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測(cè)試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。電子產(chǎn)品的質(zhì)量保障：功能測(cè)試系統(tǒng)是電子產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，確保產(chǎn)品在出廠前達(dá)到預(yù)期性能。湖州自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

非向量測(cè)試隨著現(xiàn)代制造技術(shù)的發(fā)展，超大規(guī)模集成電路的使用，編寫器件的向量測(cè)試程序常?；ㄙM(fèi)大量的時(shí)間，如80386的測(cè)試程序需花費(fèi)一位熟練編程人員近半年的時(shí)間。SMT器件的大量應(yīng)用，使器件引腳開(kāi)路的故障現(xiàn)象變得更加突出。為此各公司非向量測(cè)試技術(shù)，Teradyne推出MultiScan；GenRad推出的Xpress非向量測(cè)試技術(shù)。DeltaScan模擬結(jié)測(cè)試技術(shù) DeltaScan利用幾乎所有數(shù)字器件管腳和絕大多數(shù)混合信號(hào)器件引腳都有的靜電放電保護(hù)或寄生二極管，對(duì)被測(cè)器件的單獨(dú)引腳對(duì)進(jìn)行簡(jiǎn)單的直流電流測(cè)試。常州電源測(cè)試系統(tǒng)有什么用軟件功能測(cè)試系統(tǒng)用于驗(yàn)證軟件的功能性。

相對(duì)于傳統(tǒng)的測(cè)試方法，該系統(tǒng)具有以下無(wú)可比擬的優(yōu)勢(shì)：1、減少測(cè)試上人為因素帶來(lái)的偏差。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，由于測(cè)試人員的操作習(xí)慣和讀數(shù)習(xí)慣往往會(huì)給測(cè)試結(jié)果帶來(lái)人為因素上的偏差。本產(chǎn)品采用計(jì)算機(jī)自動(dòng)分析，并得出產(chǎn)品好壞結(jié)果，徹底杜絕了人為誤差的產(chǎn)生。2、較大程度上縮減測(cè)試設(shè)備費(fèi)用。在傳統(tǒng)的測(cè)試中，企業(yè)往往需要購(gòu)置一大堆測(cè)試/分析儀器，如萬(wàn)用表，示波器，邏輯分析儀，頻譜儀等，費(fèi)用高昂。本系統(tǒng)將上述儀器的功能全部集中到一起，較大程度上縮減了測(cè)試設(shè)備購(gòu)置費(fèi)用。3、各種PCBA測(cè)試的通用性。本系統(tǒng)的較大的特點(diǎn)是能夠通用，設(shè)備配置的板卡與軟件靈活地結(jié)合在一起能夠?qū)崿F(xiàn)各種動(dòng)靜態(tài)參數(shù)的采集，并進(jìn)行比對(duì)分析。電子產(chǎn)品在不斷地更新?lián)Q代，測(cè)試流程和測(cè)試內(nèi)容上也在變更，本系統(tǒng)提供簡(jiǎn)單明了的用戶界面，對(duì)于不同類型的電子產(chǎn)品，用戶可自行設(shè)置相應(yīng)的測(cè)試流程，只需更換測(cè)試治具即可進(jìn)行測(cè)試。

電路在線測(cè)試技術(shù)，1、在線測(cè)試原理：在線測(cè)試的基本原理是測(cè)試儀為印制電路板上的被測(cè)芯片提供輸入激勵(lì)，同時(shí)在計(jì)算機(jī)控制下自動(dòng)采集記錄被測(cè)芯片的輸出響應(yīng)和狀態(tài)值，通過(guò)計(jì)算機(jī)將其記錄的所有狀態(tài)值與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表比較，從而判斷被測(cè)對(duì)象的故障情況。2、后驅(qū)動(dòng)測(cè)試技術(shù)：后驅(qū)動(dòng)測(cè)試技術(shù)主要用于數(shù)字電路的在線測(cè)試。其實(shí)質(zhì)是在被測(cè)器件的輸入級(jí)（前級(jí)驅(qū)動(dòng)芯片的輸出級(jí)）灌入或拉出瞬態(tài)大電流，迫使其電位按要求變高或變低，達(dá)到對(duì)被測(cè)器件在線施加測(cè)試激勵(lì)的目的。PCB測(cè)試：對(duì)印刷電路板（PCB）進(jìn)行電氣性能、可靠性等方面的檢測(cè)。

電路中采用負(fù)載電阻及差分放大電路LM343對(duì)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行電壓跟隨，將測(cè)試點(diǎn)的電流值轉(zhuǎn)換為A/D變換電路可以處理的電壓量。選用AD7574八位逐次比較式高速A/D變換電路。轉(zhuǎn)換時(shí)間為15μS，單+5V電源供電。參考電壓選用VREF=-8V。輸入電壓范圍為0~+|VREF|。程序控制芯片RD端產(chǎn)生一個(gè)負(fù)脈沖就可啟動(dòng)A/D轉(zhuǎn)換。軟件模塊：測(cè)試儀由便攜式主控計(jì)算機(jī)通過(guò)串行口進(jìn)行控制，單片機(jī)測(cè)試平臺(tái)的完成激勵(lì)控制、數(shù)據(jù)采集等工作，所有數(shù)據(jù)分析處理及命令控制由便攜式主計(jì)算機(jī)完成。整套測(cè)試軟件由主控軟件、數(shù)據(jù)通信軟件、離線測(cè)試軟件、在線功能測(cè)試軟件、在線狀態(tài)測(cè)試軟件、VI特性測(cè)試軟件、節(jié)點(diǎn)電壓測(cè)試軟件、電子手冊(cè)、測(cè)試開(kāi)發(fā)軟件、系統(tǒng)自檢軟件等幾個(gè)主要模塊組成。軟件測(cè)試：針對(duì)軟件系統(tǒng)進(jìn)行功能、性能、兼容性等多方面測(cè)試。常州電源測(cè)試系統(tǒng)有什么用

功能測(cè)試系統(tǒng)普遍用于電子產(chǎn)品的功能性驗(yàn)證。湖州自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格

ICT（In-Circuit Test System），中文慣用名為在線測(cè)試儀，主要用于組裝電路板（PCBA）的測(cè)試。 ICT（In-Circuit Test System），中文慣用名為在線測(cè)試儀（本手冊(cè)特指組裝電路板在線測(cè)試儀），主要用于組裝電路板（PCBA）的測(cè)試。這里的“在線”是“In-Circuit”的直譯，主要指電子元器件在線路上（或者說(shuō)在電路上）。在線測(cè)試是一種不斷開(kāi)電路，不拆下元器件管腳的測(cè)試技術(shù)，“在線”反映了ICT重在通過(guò)對(duì)在線路上的元器件或開(kāi)短路狀態(tài)的測(cè)試來(lái)檢測(cè)電路板的組裝問(wèn)題。湖州自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格