隨著自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的人工測(cè)試正在逐漸被自動(dòng)測(cè)試所取代。GPIB和PXI等標(biāo)準(zhǔn)總線(xiàn)的出現(xiàn)較大程度上簡(jiǎn)化了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)復(fù)雜度，構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)變成了組合各種儀器模塊。但是UUT的類(lèi)型還是復(fù)雜多樣的，尤其信號(hào)類(lèi)型也千變?nèi)f化；因此，設(shè)計(jì)一個(gè)良好的連接UUT和測(cè)試資源TR的測(cè)試接口ITA，是簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)復(fù)雜度的關(guān)鍵。每個(gè)被測(cè)對(duì)象(UUT)具有不同的信號(hào)激勵(lì)點(diǎn)和信號(hào)獲取點(diǎn)，這些都需要一個(gè)接口以實(shí)現(xiàn)UUT 和TE的信號(hào)連接，此接口即測(cè)試接口適配器ITA。ITA負(fù)責(zé)完成UUT 和TE 的機(jī)械與電氣連接，為T(mén)E各個(gè)信號(hào)點(diǎn)和UUT各個(gè)信號(hào)點(diǎn)指定路由路徑。無(wú)線(xiàn)綜合測(cè)試：針對(duì)無(wú)線(xiàn)通信設(shè)備，實(shí)現(xiàn)信號(hào)質(zhì)量、傳輸速率等全方面測(cè)試。嘉興離線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

電路類(lèi)型主要包括：差分測(cè)量電流，在差分測(cè)量系統(tǒng)中，信號(hào)輸入端的兩極分別與兩個(gè)不同的模擬輸入(簡(jiǎn)稱(chēng)模入)端相連接，并通過(guò)多路開(kāi)關(guān)(MUX)分別連接到儀用放大(簡(jiǎn)稱(chēng)儀放)的正負(fù)極上。一個(gè)8通道的差分測(cè)量系統(tǒng)如圖1所示，其中儀用放大器通過(guò)多路開(kāi)關(guān)進(jìn)行通道轉(zhuǎn)換。標(biāo)有AIGND(模擬輸入地)的引腳為測(cè)量系統(tǒng)的地。參考地單端測(cè)量電流，在參考地單端RSE(Referenced Single Ended)測(cè)量系統(tǒng)中，被測(cè)量信號(hào)一端接模擬輸入通道，另一端接系統(tǒng)地(AIGND)。無(wú)參考地單端測(cè)量電路，無(wú)參考地單端測(cè)量系統(tǒng)(NRSE)中一端接模擬輸入通道，另一端接公用參考端，但這個(gè)參考端電壓相對(duì)于測(cè)量系統(tǒng)的地來(lái)說(shuō)是不斷變化的。常州單元測(cè)試系統(tǒng)定制方案各種功能測(cè)試系統(tǒng)：涵蓋各類(lèi)電子設(shè)備，為不同領(lǐng)域提供專(zhuān)業(yè)測(cè)試解決方案。

測(cè)試儀主要功能，測(cè)試儀采用電路在線(xiàn)測(cè)試技術(shù)，可以用來(lái)在線(xiàn)或離線(xiàn)測(cè)試分析各種中小規(guī)模集成電路芯片的常見(jiàn)故障，測(cè)試模擬、數(shù)字器件的V/I特性。數(shù)字芯片的功能測(cè)試測(cè)試的基本原理是檢測(cè)并記錄芯片的輸入/輸出狀態(tài)，將其記錄的狀態(tài)與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)真值表進(jìn)行比較，從而判斷被測(cè)芯片功能是否正確。數(shù)字芯片的狀態(tài)測(cè)試電路板上每個(gè)數(shù)字器件，在加電后都有三種狀態(tài)特征：各管腳的邏輯狀態(tài)（電源、地、高阻、信號(hào)等）、管腳之間的連接關(guān)系、輸入輸出之間的邏輯關(guān)系。當(dāng)器件發(fā)生故障后，其狀態(tài)特征一般都要發(fā)生變化。

PCBA通用型自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)對(duì)PCBA多信號(hào)可同步測(cè)試，人性化的操作界面、模塊化的編程環(huán)境以及機(jī)種（Model）的方便轉(zhuǎn)換，為企業(yè)節(jié)省人力物力，提高生產(chǎn)效率，從而給企業(yè)帶來(lái)經(jīng)濟(jì)效益?；贚abVIEW開(kāi)發(fā)的編程環(huán)境。自動(dòng)多項(xiàng)目集中測(cè)試和多測(cè)試點(diǎn)同步測(cè)試，減少工位和工時(shí)。應(yīng)用本公司自校準(zhǔn)技術(shù)，轉(zhuǎn)機(jī)種不需要高素質(zhì)工程人員。統(tǒng)一治具結(jié)構(gòu)；利于管理和控制成本。自動(dòng)準(zhǔn)確判斷每個(gè)細(xì)節(jié)，不產(chǎn)生遺漏和誤判，結(jié)果更為可靠。用戶(hù)界面友好，容易實(shí)現(xiàn)新機(jī)種自動(dòng)測(cè)試編程和調(diào)試。信號(hào)采樣PC分析得出PASS或FAIL。員工不需思考判斷是否達(dá)標(biāo)，PC代替完成。基于LabVIEW2010開(kāi)發(fā)的編譯平臺(tái)，客戶(hù)在編譯平臺(tái)下進(jìn)行二次編程，簡(jiǎn)單、方便、快捷，直接填寫(xiě)檢測(cè)內(nèi)容。員工不需思考判斷是否達(dá)標(biāo)，PC代替完成并顯示測(cè)試結(jié)果。統(tǒng)計(jì)報(bào)表功能隨時(shí)查閱產(chǎn)量及品質(zhì)狀況。人工智能在功能測(cè)試中的應(yīng)用：利用人工智能技術(shù)，實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程的自動(dòng)化和智能化。

功能系統(tǒng)測(cè)試原理：FST是function system test的簡(jiǎn)稱(chēng)，功能系統(tǒng)測(cè)試可以測(cè)試一個(gè)PCBA的單板系統(tǒng)能否實(shí)現(xiàn)設(shè)計(jì)目標(biāo)，它將線(xiàn)路板上的被測(cè)單元作為一個(gè)功能體，對(duì)其提供輸入信號(hào)，按照功能體的設(shè)計(jì)要求檢測(cè)輸出信號(hào)。功能系統(tǒng)測(cè)試中的激勵(lì)信號(hào)源可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn)，如任意波形發(fā)生器，任意函數(shù)發(fā)生器，邏輯信號(hào)發(fā)生器等，也可以使用自己設(shè)計(jì)的硬件系統(tǒng)來(lái)產(chǎn)生激勵(lì)信號(hào)，采用前者相對(duì)成本較高。功能系統(tǒng)測(cè)試中的輸出信號(hào)的檢測(cè)可以使用一些通用的儀器來(lái)實(shí)現(xiàn)，如示波器，頻譜分析儀等，也可以使用定制的數(shù)據(jù)采集和分析模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)。輸出信號(hào)的分析和測(cè)試結(jié)果的保存往往要用計(jì)算機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)，所以就引出了計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)硬件的數(shù)據(jù)傳輸和控制的問(wèn)題。計(jì)算機(jī)和測(cè)試系統(tǒng)常用的通信方式有GPIB總線(xiàn)、PCI總線(xiàn)、RS232串口、USB等，通信方式的選擇需要根據(jù)測(cè)試系統(tǒng)的硬件選擇和測(cè)試對(duì)于數(shù)據(jù)傳輸?shù)乃俣刃枨鬀Q定。功能測(cè)試與生產(chǎn)過(guò)程的融合：將功能測(cè)試與生產(chǎn)過(guò)程緊密結(jié)合，實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品質(zhì)量的實(shí)時(shí)監(jiān)控。臺(tái)州電池測(cè)試系統(tǒng)專(zhuān)業(yè)技術(shù)服務(wù)

模塊化設(shè)計(jì)：功能測(cè)試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì)，方便用戶(hù)根據(jù)需求進(jìn)行組合和升級(jí)。嘉興離線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商

80年代由全球令西方頭疼的電子電腦假貨來(lái)源地逐漸成為電子代工制造重要基地，于上世紀(jì)80年代后期，90年代初期，***開(kāi)始完全仿制TESCON測(cè)試儀，并推出眾多品牌的壓床式ICT，其價(jià)格更加低廉，迫使曾全球頭一市占率的日本TESCON淡出市場(chǎng)，并因電子代工業(yè)大發(fā)展而大幅提高市占率。從上世紀(jì)70年代開(kāi)始，國(guó)內(nèi)即有開(kāi)發(fā)類(lèi)似的靜態(tài)測(cè)試儀，1993年，中國(guó)本土品牌更先進(jìn)日本韓國(guó)***及香港開(kāi)發(fā)出全亞洲頭一臺(tái)windows版的ICT。時(shí)至這里，美國(guó)泰瑞達(dá)和安捷倫仍是先進(jìn)品牌，成為事實(shí)上的此類(lèi)技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)! 優(yōu)點(diǎn)嘉興離線(xiàn)測(cè)試系統(tǒng)供應(yīng)商