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無(wú)錫無(wú)線(xiàn)綜合測(cè)試系統(tǒng)方法

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2024-10-13

操作系統(tǒng),可供電路板測(cè)試選擇的操作系統(tǒng)很多,例如UNIX、OS、Windows、Solaris等,選擇操作系統(tǒng)時(shí)受限于硬件設(shè)備的支持、程序人員的技術(shù)水平、操作系統(tǒng)的普及程度和操作系統(tǒng)本身特點(diǎn)等諸多因素,趨于采用廣為普及的Windows操作系統(tǒng)??偩€(xiàn)技術(shù),電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展與儀器控制總線(xiàn)的發(fā)展永遠(yuǎn)是密切相關(guān)的,儀器控制總線(xiàn)的每一次更新都促進(jìn)電路板測(cè)試技術(shù)的更新。儀器控制總線(xiàn)有GPIB總線(xiàn)、VXI總線(xiàn)和PXI總線(xiàn)三種,它們是發(fā)展過(guò)程中依次出現(xiàn)的總線(xiàn)技術(shù),表示著電路板測(cè)試技術(shù)的發(fā)展歷程。GPIB總線(xiàn)是早期出現(xiàn)的儀器接口控制總線(xiàn),多用于常見(jiàn)的臺(tái)式儀器上,采用該總線(xiàn)集成的系統(tǒng)體積大、數(shù)據(jù)傳輸速率低(較大數(shù)據(jù)傳輸速率為1MB/s)且同一系統(tǒng)總線(xiàn)上較多可連15臺(tái)儀器。集成測(cè)試:將各個(gè)單元集成后進(jìn)行全方面測(cè)試,確保整體性能達(dá)標(biāo)。無(wú)錫無(wú)線(xiàn)綜合測(cè)試系統(tǒng)方法

無(wú)錫無(wú)線(xiàn)綜合測(cè)試系統(tǒng)方法,測(cè)試系統(tǒng)

電路,測(cè)試電路主要包括傳感器和變換器、信號(hào)調(diào)理裝置、數(shù)據(jù)采集設(shè)備、負(fù)載模擬器等,傳感器和變換器測(cè)量不同的物理量,并將它們變換為電信號(hào);信號(hào)調(diào)理主要對(duì)電信號(hào)進(jìn)行加工,使其符合采集設(shè)備的要求;模擬器仿真UUT的真實(shí)負(fù)載,為其提供工作環(huán)境。傳感器和變換器的種類(lèi)很多,它們直接與各種物理量相關(guān)聯(lián),并將這些物理量轉(zhuǎn)換為采集設(shè)備可以采集的電信號(hào)。在設(shè)計(jì)測(cè)試電路前必須對(duì)被測(cè)對(duì)象和測(cè)量需求做詳細(xì)分析,正確選擇相應(yīng)的傳感器和變換器。信號(hào)調(diào)理設(shè)備對(duì)傳感器和變換器送來(lái)的信號(hào)采取放大、濾波、隔離等措施,將它們轉(zhuǎn)化為采集設(shè)備易于讀取的信號(hào)。無(wú)錫通用功能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試步驟電機(jī)功能測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)電機(jī)的性能和轉(zhuǎn)速。

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零點(diǎn)漂移自校正:測(cè)量中較常見(jiàn)的問(wèn)題就是長(zhǎng)期工作時(shí)的不穩(wěn)定性和零點(diǎn)漂移。這主要是由于傳感器和放人器的零漂造成的。在智能儀器中,利用計(jì)算機(jī)對(duì)由于這種零漂而造成的誤差進(jìn)行自動(dòng)補(bǔ)償和修正,或?qū)Ψ糯笃鞯脑鲆孢M(jìn)行自動(dòng)調(diào)整。從而可在不采用高成本的電子元器件的情況上解決零點(diǎn)漂移問(wèn)題。提高信噪比:利用計(jì)算機(jī)強(qiáng)大的計(jì)算和數(shù)據(jù)處理功能,用軟件的方法去除噪聲??刂茰y(cè)量過(guò)程及對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的自動(dòng)和實(shí)時(shí)的處理和分析:通過(guò)在智能儀器上的計(jì)算機(jī)來(lái)實(shí)現(xiàn)。

嵌入式MCU的特點(diǎn)是執(zhí)行速度快、操作簡(jiǎn)單,但這種實(shí)現(xiàn)方式的專(zhuān)門(mén)使用性較強(qiáng)不容易擴(kuò)展?;赑LC的控制方式,其重點(diǎn)在于控制部分,測(cè)量功能相對(duì)較弱,比較適合以控制為主的場(chǎng)合?;赑C的控制方式使用較為普遍,它具有PC機(jī)價(jià)格低廉、數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大、測(cè)試程序開(kāi)發(fā)工具豐富等優(yōu)點(diǎn)。由于UUT的輸入輸出管腳數(shù)量較多,信號(hào)種類(lèi)復(fù)雜,為滿(mǎn)足自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的通用性,在ITA設(shè)計(jì)時(shí), 必須采用多通道開(kāi)關(guān),(1)是對(duì)PCB的信號(hào)通道進(jìn)行自動(dòng)切換;(2)是對(duì)PCB的信號(hào)進(jìn)行調(diào)理,使調(diào)理后的信號(hào)能夠滿(mǎn)足測(cè)試儀器的量程范圍;(3)是對(duì)PCB和測(cè)試儀器的保護(hù),避免操作失誤或外界干擾而對(duì)PCBA和測(cè)試設(shè)備造成損壞。單元測(cè)試:針對(duì)軟件中的較小可測(cè)試單元進(jìn)行測(cè)試,保證軟件質(zhì)量。

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驅(qū)動(dòng)控制電路主要完成測(cè)試過(guò)程中TTL、CMOS測(cè)試門(mén)限的控制,選用4重SPST(單刀單擲)DG211模擬開(kāi)關(guān),開(kāi)關(guān)控制由譯碼電路及74LS373鎖存器完了成。為保證DG211開(kāi)機(jī)時(shí)處于常開(kāi)(OFF)狀態(tài),控制線(xiàn)增加上拉電阻(10kΩ)。測(cè)試驅(qū)動(dòng)電路為被測(cè)芯片施加測(cè)試輸入信號(hào),采用微型繼電器進(jìn)行輸入信號(hào)控制,測(cè)試信號(hào)由數(shù)據(jù)緩沖器74ACT244產(chǎn)生。為保證輸入電流達(dá)到設(shè)計(jì)要求,采用4路并聯(lián)方式。為防止損壞器件,增加LC網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行大電流緩沖,并設(shè)計(jì)二極管保護(hù)電路。功能測(cè)試系統(tǒng)有利于產(chǎn)品上市前的全方面驗(yàn)收。無(wú)錫通用功能測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試步驟

無(wú)線(xiàn)綜合測(cè)試:針對(duì)無(wú)線(xiàn)通信設(shè)備,實(shí)現(xiàn)信號(hào)質(zhì)量、傳輸速率等全方面測(cè)試。無(wú)錫無(wú)線(xiàn)綜合測(cè)試系統(tǒng)方法

治具材料選擇,常用治具材料有防靜電膠木板、有機(jī)玻璃板、高密度環(huán)氧樹(shù)脂板等。有機(jī)玻璃板為透明的,容易檢查問(wèn)題,但是鉆孔時(shí)容易斷鉆頭,一般應(yīng)用在鉆孔密度不高而且孔徑較大的情況。高密度環(huán)氧樹(shù)脂板相對(duì)的成本略高,但鉆頭不容易折斷,加工時(shí)沒(méi)有脹縮,鉆孔精度較高。如果zhen孔的精度要求較高,鉆孔不精確會(huì)造成探針套管與zhen孔之間隙較大而產(chǎn)生晃動(dòng);而且探zhen孔的孔徑較小,鉆孔數(shù)量較多;所以針板一般是采用高密度環(huán)氧樹(shù)脂板,而對(duì)于載板則使用成本較低的有機(jī)玻璃板、防靜電膠木板等。無(wú)錫無(wú)線(xiàn)綜合測(cè)試系統(tǒng)方法