通常,參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點,到達被測器件,并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意,問題可能是由測量儀器或軟件所致,也可能是其它原因造成。在檢測虛焊和斷路的時候,探針卡用戶經(jīng)常需要為路徑電阻指定一個標稱值。信號路徑電阻是從焊點到測試儀的總電阻,即接觸電阻、探針電阻、焊接電阻、trace電阻、以及彈簧針互連電阻的總和。但是,接觸電阻是信號路徑電阻的重要組成部分。隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層,接觸電阻減小而電流流動迅速開始。連云港大規(guī)模探針廠家供應
探針臺是由針頭、內(nèi)管和彈簧三部分組成的。因為探針在應用中十分注重它的導電性、持久性和硬度等特性的強弱,所以在安裝時也是有一定的講究的。在安裝前,要對這些部分做特殊的電鍍處理,這樣的探針才可以說是合乎規(guī)范可以應用的探針。一般用于優(yōu)化接觸效果,穩(wěn)定性好和壽命長。汽車線束測試測試探針專業(yè)用于汽車線束通斷檢測,直徑在1.0--3.5mm之間,電流在3----50A除以上類型外還有溫度探針,Kelvin探針等。電子探針可以對試樣中微小區(qū)域(微米級)的化學組成進行定性或定量分析??梢赃M行點、線掃描(得到層成分分布信息)、面掃描分析(得到成分面分布圖像)。還能全自動進行批量(預置9999測試點)定量分析。比較少用。高電流探針:探針直徑在2.54mm-4.75mm之間。大的測試電流可達39amps?;窗仓悄芴结樐募液迷陔娮訙y試中,探針有彈片微針模組和Pogopin探針模組兩種類型。
探針對測試結(jié)果的影響:通常,參數(shù)測試系統(tǒng)將電流或電壓輸入被測器件(DUT),然后測量該器件對于此輸入信號的響應。這些信號的路徑為:從測試儀通過電纜束至測試頭,再通過測試頭至探針卡,然后通過探針至芯片上的焊點,到達被測器件,并然后沿原路徑返回測試儀器。如果獲得的結(jié)果不盡如人意,問題可能是由測量儀器或軟件所致,也可能是其它原因造成。通常情況下,測量儀器引進一些噪聲或測量誤差。而更可能導致誤差的原因是系統(tǒng)的其它部件,其中之一可能是,它會受探針參數(shù)的影響,如探針的材料、針尖的直徑與形狀、焊接的材質(zhì)、觸點壓力、以及探針臺的平整度。此外,探針尖磨損和污染也會對測試結(jié)果造成極大的負面影響。
鎢針可分為純鎢針、稀土鎢針、摻雜鎢針。鎢針主要用于制作強度高氣體放電燈電弧管用電極。由于鎢的特性,使得它比較適合用于tiG焊接以及其它類似這種工作的電極材料。在金屬鎢中添加稀土氧化物來刺激它的電子逸出功,使得鎢電極的焊接性能得以改善:電極的起弧性能更好,弧柱的穩(wěn)定性更高,電極燒損率更小??筛鶕?jù)要求定制尖部形狀,有鋒利極銳尖、平臺和圓弧等形狀。我們的針尖范圍從微米級到納米級,針尖曲率半徑Min可控為50納米,包裝前逐根檢測。探針材質(zhì)、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。
觸點壓力的定義為探針頂端(測量單位為密耳或微米)施加到接觸區(qū)域的壓力(測量單位為克)。觸點壓力過高會損傷焊點。觸點壓力過低可能無法通過氧化層,因此產(chǎn)生不可靠的測試結(jié)果。頂端壓力主要由探針臺的驅(qū)動器件控制,額外的Z運動(垂直行程)會令其直線上升。此外,探針材質(zhì)、探針直徑、光束長度、和尖錐長度都在決定頂端壓力時起重要的作用。從本質(zhì)上來說,隨著探針開始接觸并逐漸深入焊點氧化物和污染物的表層,接觸電阻減小而電流流動迅速開始。隨著探針接觸到焊點金屬的亞表層,這些效應將增加。盡管隨著探針壓力的增強,接觸電阻逐漸降低,終它會達到兩金屬的標稱接觸電阻值。探針具有導電薄膜的電阻率、面電阻、型號及擊穿電壓等多種功能。好的探針有哪些
探針具有的功能:用于測量半導體材料、功能材料。連云港大規(guī)模探針廠家供應
掃描隧道顯微鏡是一種利用具有原子級分辨率的新型探測工具,已在物理、化學、生物學、材料科學以及微電子科學等領域得到了應用。微結(jié)構氣體探測器是一種氣體粒子探測器,已在X射線、γ射線以及中子成像、天體物理、固體物理、生物醫(yī)學以及核醫(yī)學等比較多領域得到了的應用。鎢探針具有高硬度、高彈性模量等特點。合金探針檢測時無傷原器件,已批量應用于LED芯片檢測領域。其導電率、彈性模量、耐用性、光輸出性、可靠性和機械穩(wěn)定性可滿足客戶定制要求。連云港大規(guī)模探針廠家供應
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