半導體工程師，半導體經驗分享，半導體成果交流，半導體信息發(fā)布。半導體行業(yè)動態(tài)，半導體從業(yè)者職業(yè)規(guī)劃，芯片工程師成長歷程。芯片測試是極其重要的一環(huán)，有缺陷的芯片能發(fā)現(xiàn)的越早越好。在芯片領域有個十倍定律，從設計-->制造-->封裝測試-->系統(tǒng)級應用，每晚發(fā)現(xiàn)一個環(huán)節(jié)，芯片公司付出的成本將增加十倍?。?！所以測試是設計公司尤其注重的，如果把有功能缺陷的芯片賣給客戶，損失是極其慘重的，不只是經濟上的賠償，還有損信譽。因此芯片測試的成本也越來越高！芯片測試機可以進行測試數(shù)據(jù)的剖析和分析，以找到較優(yōu)的測試方案。浙江垂直LED芯片測試機平臺

自動上料機構42上料時，將放滿待測芯片的多個tray盤上下疊放在頭一料倉41的第二移動底板47上，且位于較上層的tray盤位于頭一料倉41的開口部。移載裝置20首先吸取位于較上層的tray盤中的芯片進行測試，當位于較上層的tray盤中的芯片測試完成后，將空的tray盤移載至自動下料機構52。然后伺服電機43驅動滾珠絲桿45轉動，滾珠絲桿45通過頭一移動底板46帶動第二移動底板47向上移動，帶動位于下方的tray盤向上移動，直至所有的tray盤中的芯片全部測試完成。安徽平移式芯片測試機哪家好芯片測試機可以進行周期測試，測試電路在不同電壓和溫度下的表現(xiàn)。

測試相關的各種名詞：ATE-----------Automatic Test Equipment,自動化測試設備，是一個高性能計算機控制的設備的集中，可以實現(xiàn)自動化的測試。Tester---------測試機，是由電子系統(tǒng)組成，這些系統(tǒng)產生信號，建立適當?shù)臏y試模式，正確地按順序設置，然后使用它們來驅動芯片本身，并抓取芯片的輸出反饋，或者進行記錄，或者和測試機中預期的反饋進行比較，從而判斷好品和壞品。Test Program---測試程序，測試機通過執(zhí)行一組稱為測試程序的指令來控制測試硬件。DUT-----------Device Under Test,等待測試的器件，我們統(tǒng)稱已經放在測試系統(tǒng)中，等待測試的器件為DUT。

芯片測試設備采樣用于把信號從連續(xù)信號（模擬信號）轉換到離散信號（數(shù)字信號），重建用于實現(xiàn)相反的過程。芯片測試設備依靠采樣和重建給待測芯片（DUT）施加信號或者測量它們的響應。測試中包含了數(shù)學上的和物理上的采樣和重建。芯片測試設備常見的混合信號芯片有：模擬開關，它的晶體管電阻隨著數(shù)字信號變化；可編程增益放大器，能用數(shù)字信號調節(jié)輸入信號的放大倍數(shù)；數(shù)模轉換電路；模數(shù)轉換電路；鎖相環(huán)電路，常用于生成高頻基準時鐘或者從異步數(shù)據(jù)中恢復同步。芯片測試機可以用于測試各種芯片，包括數(shù)字芯片、模擬芯片和混合信號芯片。

而probe card則換成了load board,其作用是類似的，但是需要注意的是load board上需要加上一個器件—Socket,這個是放置package device用的，每個不同的package種類都需要不同的socket，如下面圖（7）所示，load board上的四個白色的器件就是socket。Handler 必須與 tester 相結合(此動作叫 mount 機)及接上interface才能測試, 動作為handler的手臂將DUT放入socket，然后 contact pusher下壓, 使 DUT的腳正確與 socket 接觸后, 送出start 訊號, 透過 interface 給 tester, 測試完后, tester 送回 binning 及EOT 訊號; handler做分類動作。在芯片測試機上進行的測試可以檢測到芯片的缺陷，如電壓偏移等。浙江正裝LED芯片測試機怎么樣

芯片測試機可對芯片的上市時間作出評估。浙江垂直LED芯片測試機平臺

動態(tài)測試測試方法：準備測試向量如下（以8個pin腳為例）在上面示例的向量運行時，頭一個信號管腳在第2個周期測試，當測試機管腳驅動電路關閉，動態(tài)電流負載單元開始通過VREF將管腳電壓向+3V拉升，如果VDD的保護二極管工作，當電壓升至約+0.65V時它將導通，從而將VREF的電壓鉗制住，同時從可編程電流負載的IOL端吸收越+400uA的電流。這時候進行輸出比較的結果將是pass，因為+0.65V在VOH（+1.5V）和VOL（+0.2V）之間，即屬于“Z態(tài)”。如果短路，輸出比較將檢測到0V；如果開路，輸出端將檢測到+3V，它們都會使整個開短路功能測試結果為fail。注：走Z測試的目的更主要的是檢查是否存在pin-to-pin的短路。浙江垂直LED芯片測試機平臺

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