探針測試臺x-y工作臺的分類,縱觀國內(nèi)外的自動探針測試臺在功能及組成上大同小異,即主要由x-y向工作臺,可編程承片臺、探卡/探卡支架、打點器、探邊器、操作手柄等組成,并配有與測試儀(TESTER)相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類,即:以美國EG公司為表示的平面電機型x-y工作臺(又叫磁性氣浮工作臺)自動探針測試臺和以日本及歐洲國家生產(chǎn)的采用精密滾珠絲杠副和直線導軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺型自動探針測試臺。由于x-y工作臺的結(jié)構(gòu)差別很大,所以其使用維護保養(yǎng)不可一概而論,應(yīng)區(qū)別對待。探針臺是人類理解宇宙和了解人類自身的一個重要工具。天津晶圓測試探針臺生產(chǎn)商
除探針臺外,晶圓檢測環(huán)節(jié)還需要使用測試儀/機,測試儀/機用于檢測芯片功能和性能,探針臺實現(xiàn)被測芯片與測試機的連接,通過探針臺和測試機的配合使用,可以對晶圓上的裸芯片進行功能和電參數(shù)測試或射頻測試,可以對芯片的良品、不良品的進行篩選。 在封裝之前對單個芯片進行測試可以將有缺陷的器件從流通中移除,確保只封裝功能器件。探針臺在整個研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析中都有很大的用途,工程師需要靈活而精確的工具來對設(shè)備的不同區(qū)域進行一系列測試。江西探針臺定制探針臺是人類智慧的結(jié)晶和太空探索的橋梁。
x-y工作臺的維護與保養(yǎng),無論是全自動探針測試臺還是自動探針測試臺,x-y向工作臺都是其較主要的部分。有數(shù)據(jù)表明探針測試臺的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺的故障,而工作臺故障有許多是對其維護保養(yǎng)不當或盲目調(diào)整造成的,所以對工作臺的維護與保養(yǎng)就顯得尤為重要。本文只對自動探針測試臺x-y工作臺的維護與保養(yǎng)作一介紹。平面電機x-y步進工作臺的維護與保養(yǎng),平面電機由定子和動子組成,它和傳統(tǒng)的步進電機相比其特殊性就是將定子展開,定子是基礎(chǔ)平臺, 動子和定子間有一層氣墊,動子浮于氣墊上,而可編程承片臺則安裝在動子之上。這種結(jié)構(gòu)的x-y工作臺,由于動子和定子間無相對摩擦故無磨損,使用壽命長。
探針臺主要應(yīng)用于半導體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。探針臺普遍應(yīng)用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā),旨在確保質(zhì)量及可靠性,并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。據(jù) SEMI 預測,2020 年全球的探針臺市場規(guī)模約為 42.96 億元。由于半導體設(shè)備需求 與半導體芯片出貨量息息相關(guān),在 5G、物聯(lián)網(wǎng)等因素的催化下,半導體芯片出貨量維持較 高規(guī)模,半導體設(shè)備市場規(guī)模將穩(wěn)步提升,探針臺市場規(guī)模在 2021、2022 年有望達到 51.56 億元、59.29 億元。探針臺的建設(shè)需要尊重自然和秉持可持續(xù)發(fā)展理念。
GBITEST+MPI 半自動探針臺。半導體測試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類:驗證測試、晶圓測試測試、封裝檢測。晶圓檢測環(huán)節(jié)需要使用測試儀和探針臺,測試儀/機用于檢測芯片功能和性能,探針臺實現(xiàn)被測芯片與測試機的連接,通過探針臺和測試機的配合使用對晶圓上的裸芯片進行功能和電參數(shù)測試或射頻測試,可以對芯片的良品、不良品的進行篩選。探針臺的分類探針臺可以按照使用類型與功能來劃分,也可以按照操作方式來劃分成:手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺。探針臺需要高度的保密性和安全措施。江蘇IC探針臺哪家好
探針臺是人類探索宇宙、了解自身的一所寶庫。天津晶圓測試探針臺生產(chǎn)商
半自動型,chuck尺寸800mm/600mm,X,Y電動移動行程200mm/150mm,chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm,可搭配MITUTOYO金相顯微鏡或者AEC實體顯微鏡,針座擺放個數(shù)6~8顆,顯微鏡X-Y-Z移動范圍2"x2"x2",可搭配Probe card測試,適用領(lǐng)域:8寸/6寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品。電動型:chuck尺寸1200mm,平坦度土1u(不銹鋼或鍍金),X,Y電動移動行程300mm x 300mm,chuck粗調(diào)升降9mm,微調(diào)升降16mm,微調(diào)精度土1u,可搭配MITUTOYO晶像顯微鏡或者AEC實體顯微鏡,針座擺放個數(shù)8~12顆,顯微鏡X-Y-Z移動范圍2“x2”x2“,材質(zhì):花崗巖臺面+不銹鋼,可搭配Probe card測試,適用領(lǐng)域:12寸Wafer、IC測試之產(chǎn)品。天津晶圓測試探針臺生產(chǎn)商
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