承片臺(tái)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，根據(jù)工藝要求，承片臺(tái)在繼承現(xiàn)有抬升機(jī)構(gòu) 穩(wěn)定性、可靠性的同時(shí)，還應(yīng)具有高低溫控特性、低電磁吸收率、抗酸堿腐蝕等特性。設(shè)備要求溫度 范圍為-65～+200 ℃，這就要求承片盤溫度在此范圍內(nèi)程控可調(diào)。制冷機(jī)構(gòu)和加熱機(jī)構(gòu)必須和承 片盤非常接近，能夠更大限度地減少能量浪費(fèi)，以 快速達(dá)到所需測(cè)試溫度。制冷機(jī)構(gòu)和制熱機(jī)構(gòu)的 合理設(shè)計(jì)，可以更好地避免由于溫度傳導(dǎo)作用引 起其它零部件的溫度大幅的變化。腔體內(nèi)填充一 定濃度的特種氣體進(jìn)行測(cè)試，承片臺(tái)的承片盤及 其他機(jī)械構(gòu)件必須具有耐腐蝕，在承片臺(tái)結(jié)構(gòu)設(shè) 計(jì)時(shí)，需要在特種環(huán)境下對(duì)選用的加工件材料和 外購(gòu)件進(jìn)行可靠性實(shí)驗(yàn)，保證長(zhǎng)時(shí)間在特種環(huán)境 下的有效性。探針臺(tái)的建設(shè)需要克服地球環(huán)境和宇宙環(huán)境的技術(shù)差距。山東電學(xué)溫控探針臺(tái)

除探針臺(tái)外，晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)還需要使用測(cè)試儀/機(jī)，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接，通過探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用，可以對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。 在封裝之前對(duì)單個(gè)芯片進(jìn)行測(cè)試可以將有缺陷的器件從流通中移除，確保只封裝功能器件。探針臺(tái)在整個(gè)研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析中都有很大的用途，工程師需要靈活而精確的工具來對(duì)設(shè)備的不同區(qū)域進(jìn)行一系列測(cè)試。上海高精度探針臺(tái)工作原理探針臺(tái)的科研成果有助于人類更有效地保護(hù)地球和地球上的所有生命。

探針臺(tái)分類，探針臺(tái)從操作上來區(qū)分有:手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)，從功能上來區(qū)分有:溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)(較低溫探針臺(tái))，RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)。經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型，根據(jù)客戶需求定制：chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選)；X-Y移動(dòng)行程:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選)；chuck Z軸方向升降10mm(選項(xiàng))方便探針與樣品快速分離；顯微鏡:金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)；顯微鏡移動(dòng)方式:立柱環(huán)繞型、移動(dòng)平臺(tái)型、龍門結(jié)構(gòu)型(可選)；探針座:有0.7um、2um、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開關(guān)；可搭配Probe card測(cè)試；適用領(lǐng)域:晶圓廠、研究所、高校等。

探針臺(tái)的作用是什么？探針臺(tái)可以將電探針、光學(xué)探針或射頻探針放置在硅晶片上，從而可以與測(cè)試儀器/半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)配合來測(cè)試芯片/半導(dǎo)體器件。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以很復(fù)雜，包括微電路的完整功能測(cè)試。可以在將晶圓鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測(cè)試芯片器件，這可以提供有關(guān)哪些工藝步驟將缺陷引入較終產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯，這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。探針臺(tái)還可以用于研發(fā)、產(chǎn)品開發(fā)和故障分析應(yīng)用。探針臺(tái)的建設(shè)需要尊重自然和秉持可持續(xù)發(fā)展理念。

配置您的探針臺(tái)，從這些探針臺(tái)基礎(chǔ)知識(shí)開始，您應(yīng)該就您的測(cè)試要求提出一些問題，這些問題將允許您指定您的探針臺(tái)所需的選項(xiàng)：您需要什么級(jí)別的自動(dòng)化？您的測(cè)試將如何影響所選探針？您是否需要控制設(shè)備周圍的溫度和當(dāng)?shù)丨h(huán)境？您需要光刺激還是磁刺激？您正在探測(cè)什么尺寸的特征？您將如何聯(lián)系被測(cè)設(shè)備？探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。 普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。探針臺(tái)是人類智慧的結(jié)晶和太空探索的橋梁。浙江小型探針臺(tái)生產(chǎn)廠家

探針臺(tái)提供了探索宇宙的有效途徑。山東電學(xué)溫控探針臺(tái)

四探針測(cè)試技術(shù)，是用4根等間距配置的探針扎在半導(dǎo)體表面上，由恒流源給外側(cè)的兩根探針提供一個(gè)適當(dāng)小的電流I，然后測(cè)量出中間兩根探針之間的電壓V，就可以求出半導(dǎo)體的電阻率。對(duì)于厚度為W（遠(yuǎn)小于長(zhǎng)和寬）的薄半導(dǎo)體片，得到電阻率為ρ=ηW(V/I)，式中η是修正系數(shù)。特別，對(duì)于直徑比探針間距大得多的薄半導(dǎo)體圓片，得到電阻率為ρ= (π/ln2)W(V/I)= 4.532 W(V/I) [Ω-cm]，其中W用cm作單位。探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。 普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。山東電學(xué)溫控探針臺(tái)

深圳市泰克光電科技有限公司發(fā)展規(guī)模團(tuán)隊(duì)不斷壯大，現(xiàn)有一支專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)，各種專業(yè)設(shè)備齊全。致力于創(chuàng)造***的產(chǎn)品與服務(wù)，以誠(chéng)信、敬業(yè)、進(jìn)取為宗旨，以建TEC-PHO,SHIBUYA,Oh'TEC產(chǎn)品為目標(biāo)，努力打造成為同行業(yè)中具有影響力的企業(yè)。公司以用心服務(wù)為重點(diǎn)價(jià)值，希望通過我們的專業(yè)水平和不懈努力，將半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備，半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料的研發(fā)與銷售，半導(dǎo)體器件檢測(cè)儀器的軟件開發(fā)及銷售；國(guó)內(nèi)貿(mào)易、貨物及技術(shù)進(jìn)出口。（法律、行政法規(guī)決定禁止的項(xiàng)目除外，限制的項(xiàng)目須取得許可后方可經(jīng)營(yíng)）半導(dǎo)體器件及LED發(fā)光二極管及生產(chǎn)設(shè)備，半導(dǎo)體及LED發(fā)光二極管的封裝材料，半導(dǎo)體器件檢測(cè)儀器的軟件生產(chǎn)。等業(yè)務(wù)進(jìn)行到底。自公司成立以來，一直秉承“以質(zhì)量求生存，以信譽(yù)求發(fā)展”的經(jīng)營(yíng)理念，始終堅(jiān)持以客戶的需求和滿意為重點(diǎn)，為客戶提供良好的探針臺(tái)，芯片測(cè)試機(jī)，藍(lán)膜編帶機(jī)，分光編帶機(jī)，從而使公司不斷發(fā)展壯大。