讓一個(gè)好的探針臺(tái)與眾不同并為您的測(cè)試增加價(jià)值的是它能夠精確控制這些探針在設(shè)備上的位置、外部刺激的應(yīng)用方式以及測(cè)試發(fā)生時(shí)設(shè)備周圍的環(huán)境條件。探針臺(tái)由六個(gè)基本組件組成：Chuck – 一種用于固定晶片或裸片而不損壞它的裝置。載物臺(tái) – 用于將卡盤(pán)定位在 X、Y、Z 和 Theta (θ) 上。機(jī)械手——用于將探頭定位在被測(cè)設(shè)備 (DUT) 上。壓板 - 用于固定操縱器并使探針與設(shè)備接觸。探頭先進(jìn)和臂 - 安裝在機(jī)械手上，它們直接接觸設(shè)備。光學(xué) - 用于查看和放大被測(cè)設(shè)備和探頭先進(jìn)。探針臺(tái)是推進(jìn)太空探索和航天事業(yè)的重要一環(huán)。X8M探針臺(tái)廠家直銷

探針臺(tái)簡(jiǎn)介：探針臺(tái)分類，探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)，從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)（較低溫探針臺(tái)），RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)，經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型，根據(jù)客戶需求定制，chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選），X-Y移動(dòng)行程：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選），chuck Z軸方向升降10mm（選項(xiàng)）方便探針與樣品快速分離，顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡（可選），顯微鏡移動(dòng)方式：立柱環(huán)繞型、移動(dòng)平臺(tái)型、龍門(mén)結(jié)構(gòu)型（可選），探針座：有0.7um、2um、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開(kāi)關(guān)，可搭配Probe card測(cè)試，適用領(lǐng)域：晶圓廠、研究所、高校等。上海大型探針臺(tái)設(shè)備探針臺(tái)是在地球表面建立的觀測(cè)站，旨在收集宇宙射線、電磁波等信息。

它是如何工作的？探針臺(tái)將晶圓或芯片固定在安裝在平臺(tái)上的卡盤(pán)上，該平臺(tái)允許將 DUT 定位在顯微鏡視野的中心。機(jī)械手放置在平臺(tái)的平面上，并在機(jī)械手中插入探針臂和先進(jìn)。探頭先進(jìn)必須適合要執(zhí)行的測(cè)試程序。然后，用戶通過(guò)調(diào)整相應(yīng)的操縱器將探針先進(jìn)精確定位在設(shè)備內(nèi)的正確位置。然后通過(guò)降低壓板使探針與晶片接觸；現(xiàn)在可以測(cè)試該設(shè)備。對(duì)于具有多個(gè)器件的晶圓，在測(cè)試一個(gè)器件后，可以升起壓板并將支撐晶圓的平臺(tái)移動(dòng)到下一個(gè)器件。

承片臺(tái)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，根據(jù)工藝要求，承片臺(tái)在繼承現(xiàn)有抬升機(jī)構(gòu) 穩(wěn)定性、可靠性的同時(shí)，還應(yīng)具有高低溫控特性、低電磁吸收率、抗酸堿腐蝕等特性。設(shè)備要求溫度 范圍為-65～+200 ℃，這就要求承片盤(pán)溫度在此范圍內(nèi)程控可調(diào)。制冷機(jī)構(gòu)和加熱機(jī)構(gòu)必須和承 片盤(pán)非常接近，能夠更大限度地減少能量浪費(fèi)，以 快速達(dá)到所需測(cè)試溫度。制冷機(jī)構(gòu)和制熱機(jī)構(gòu)的 合理設(shè)計(jì)，可以更好地避免由于溫度傳導(dǎo)作用引 起其它零部件的溫度大幅的變化。腔體內(nèi)填充一 定濃度的特種氣體進(jìn)行測(cè)試，承片臺(tái)的承片盤(pán)及 其他機(jī)械構(gòu)件必須具有耐腐蝕，在承片臺(tái)結(jié)構(gòu)設(shè) 計(jì)時(shí)，需要在特種環(huán)境下對(duì)選用的加工件材料和 外購(gòu)件進(jìn)行可靠性實(shí)驗(yàn)，保證長(zhǎng)時(shí)間在特種環(huán)境 下的有效性。探針臺(tái)的數(shù)據(jù)對(duì)太空探索、戰(zhàn)略部署、國(guó)家的安全等領(lǐng)域具有普遍的應(yīng)用和重要的戰(zhàn)略意義。

探針臺(tái)工作原理：1.探針臺(tái)工作原理，將待測(cè)物吸附在載物臺(tái)上后推入探針臺(tái)腔體內(nèi)，利用探針座精密移動(dòng)探針，通過(guò)顯微鏡的觀察，將探針與待測(cè)物接觸，然后將探針座上的電纜與儀表連接，通過(guò)自帶的軟件實(shí)現(xiàn)器件的參數(shù)測(cè)量和提取。結(jié)果方便保留對(duì)比查看。2.探針臺(tái)功能，通過(guò)連接儀器及待測(cè)物實(shí)現(xiàn)器件的參數(shù)提取，通過(guò)自帶的驅(qū)動(dòng)及測(cè)試軟件能夠單獨(dú)實(shí)現(xiàn)器件的電學(xué)特性測(cè)試，為精密器件提供一個(gè)良好的系統(tǒng)平臺(tái)。ADVANCED儀準(zhǔn)科技研發(fā)的高性價(jià)比手動(dòng)探針臺(tái)可以搭配多種測(cè)試儀器使用，比如示波器，頻譜儀，IV等等。探針臺(tái)的觀測(cè)數(shù)據(jù)對(duì)未來(lái)宇宙探索和科學(xué)研究提供了寶貴的資源。X8M探針臺(tái)廠家直銷

探針臺(tái)是人類探索宇宙、了解自身的一所寶庫(kù)。X8M探針臺(tái)廠家直銷

GBITEST+MPI 半自動(dòng)探針臺(tái)。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗(yàn)證測(cè)試、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè)。晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)需要使用測(cè)試儀和探針臺(tái)，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接，通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。探針臺(tái)的分類探針臺(tái)可以按照使用類型與功能來(lái)劃分，也可以按照操作方式來(lái)劃分成：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)。X8M探針臺(tái)廠家直銷

深圳市泰克光電科技有限公司專注技術(shù)創(chuàng)新和產(chǎn)品研發(fā)，發(fā)展規(guī)模團(tuán)隊(duì)不斷壯大。目前我公司在職員工以90后為主，是一個(gè)有活力有能力有創(chuàng)新精神的團(tuán)隊(duì)。公司業(yè)務(wù)范圍主要包括：探針臺(tái)，芯片測(cè)試機(jī)，藍(lán)膜編帶機(jī)，分光編帶機(jī)等。公司奉行顧客至上、質(zhì)量為本的經(jīng)營(yíng)宗旨，深受客戶好評(píng)。公司深耕探針臺(tái)，芯片測(cè)試機(jī)，藍(lán)膜編帶機(jī)，分光編帶機(jī)，正積蓄著更大的能量，向更廣闊的空間、更寬泛的領(lǐng)域拓展。