芯片的工作原理是將電路制造在半導(dǎo)體芯片表面上從而進(jìn)行運(yùn)算與處理的。晶體管有開(kāi)和關(guān)兩種狀態(tài),分別用1和0表示,多個(gè)晶體管能夠產(chǎn)生多個(gè)1和0信號(hào),這種信號(hào)被設(shè)定為特定的功能來(lái)處理這些字母和圖形等。在加電后,芯片會(huì)產(chǎn)生一個(gè)啟動(dòng)指令,之后芯片就會(huì)開(kāi)始啟動(dòng),接著就會(huì)不斷的被接受新的數(shù)據(jù)和指令來(lái)不斷完成。芯片是一種集成電路,由大量的晶體管構(gòu)成。不同的芯片有不同的集成規(guī)模,大到幾億;小到幾十、幾百個(gè)晶體管。晶體管有兩種狀態(tài),開(kāi)和關(guān),用1、0來(lái)表示。芯片測(cè)試機(jī)還可以進(jìn)行閂鎖掃描測(cè)試和邊緣掃描測(cè)試。深圳CSP芯片測(cè)試機(jī)廠商
一般packagetest的設(shè)備也是各個(gè)廠商自己開(kāi)發(fā)或定制的,通常包含測(cè)試各種電子或光學(xué)參數(shù)的傳感器,但通常不使用探針探入芯片內(nèi)部(多數(shù)芯片封裝后也無(wú)法探入),而是直接從管腳連線進(jìn)行測(cè)試。由于packagetest無(wú)法使用探針測(cè)試芯片內(nèi)部,因此其測(cè)試范圍受到限制,有很多指標(biāo)無(wú)法在這一環(huán)節(jié)進(jìn)行測(cè)試。但packagetest是Z終產(chǎn)品的測(cè)試,因此其測(cè)試合格即為Z終合格產(chǎn)品。IC的測(cè)試是一個(gè)相當(dāng)復(fù)雜的系統(tǒng)工程,無(wú)法簡(jiǎn)單地告訴你怎樣判定是合格還是不合格。深圳CSP芯片測(cè)試機(jī)廠商芯片測(cè)試機(jī)提供了可靠的測(cè)試跟蹤,幫助工程師快速定位測(cè)試問(wèn)題。
芯片在測(cè)試過(guò)程中,會(huì)有不良品出現(xiàn),不良品會(huì)被放置到不良品放置臺(tái)60,從而導(dǎo)致自動(dòng)上料裝置40上的一個(gè)tray盤(pán)全部測(cè)試完成后,而自動(dòng)下料裝置50的tray盤(pán)中沒(méi)有放滿芯片。如圖1所示,為了保障自動(dòng)下料裝置50的tray盤(pán)中放滿芯片后,自動(dòng)上料裝置40的tray盤(pán)才移動(dòng)至自動(dòng)下料裝置50,本實(shí)施例在機(jī)架10上還設(shè)置有中轉(zhuǎn)裝置60。中轉(zhuǎn)裝置60位于自動(dòng)上料裝置40及自動(dòng)下料裝置50的一側(cè)。如圖5所示,中轉(zhuǎn)裝置60包括氣缸墊塊61、中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62及tray盤(pán)中轉(zhuǎn)臺(tái)63,其中,氣缸墊塊61固定于支撐板12上,中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62固定于氣缸墊塊61上,tray盤(pán)中轉(zhuǎn)臺(tái)63與中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62相連,中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62可以帶動(dòng)tray盤(pán)中轉(zhuǎn)臺(tái)63旋轉(zhuǎn)。
做一款芯片較基本的環(huán)節(jié)是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試,芯片成本構(gòu)成一般為人力成本20%,流片40%,封裝35%,測(cè)試5% 測(cè)試其實(shí)是芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中較“便宜”的一步,在這個(gè)每家公司都喊著“Cost Down”的激烈市場(chǎng)中,人力成本逐年攀升,晶圓廠和封裝廠都在乙方市場(chǎng)中“叱咤風(fēng)云”,唯獨(dú)只有測(cè)試顯得不那么難啃,Cost Down的算盤(pán)落到了測(cè)試的頭上。但仔細(xì)算算,測(cè)試省50%,總成本也只省2.5%,流片或封裝省15%,測(cè)試就相當(dāng)于不收費(fèi)了。但測(cè)試是產(chǎn)品質(zhì)量然后一關(guān),若沒(méi)有良好的測(cè)試,產(chǎn)品PPM過(guò)高,退回或者賠償都遠(yuǎn)遠(yuǎn)不是5%的成本能表示的。芯片測(cè)試機(jī)提供了靈活的接口,適用于不同廠商的芯片測(cè)試。
對(duì)于芯片來(lái)說(shuō),有兩種類型的測(cè)試,抽樣測(cè)試和生產(chǎn)全測(cè)。抽樣測(cè)試,比如設(shè)計(jì)過(guò)程中的驗(yàn)證測(cè)試,芯片可靠性測(cè)試,芯片特性測(cè)試等等,這些都是抽測(cè),主要目的是為了驗(yàn)證芯片是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo),比如驗(yàn)證測(cè)試就是從功能方面來(lái)驗(yàn)證是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo),可靠性測(cè)試是確認(rèn)較終芯片的壽命以及是否對(duì)環(huán)境有一定的魯棒性,而特性測(cè)試測(cè)試驗(yàn)證設(shè)計(jì)的冗余度。這里我們主要想跟大家分享一下生產(chǎn)全測(cè)的測(cè)試,這種是需要100%全測(cè)的,這種測(cè)試就是把缺陷挑出來(lái),分離壞品和好品的過(guò)程。這種測(cè)試在芯片的價(jià)值鏈中按照不同階段又分成晶圓測(cè)試和較終測(cè)試(FT,也叫封裝測(cè)試或者成品測(cè)試),就是上面圖(1)中的紅色部分。芯片測(cè)試機(jī)能夠進(jìn)行噪聲測(cè)試,測(cè)試電路在噪聲環(huán)境中的穩(wěn)定性。深圳平移式芯片測(cè)試機(jī)設(shè)備
芯片測(cè)試機(jī)可對(duì)芯片的上市時(shí)間作出評(píng)估。深圳CSP芯片測(cè)試機(jī)廠商
如何進(jìn)行一個(gè)產(chǎn)品的測(cè)試開(kāi)發(fā),各種規(guī)格書(shū):通常有三種規(guī)格書(shū),設(shè)計(jì)規(guī)格書(shū)、測(cè)試規(guī)格書(shū)、產(chǎn)品規(guī)格書(shū)。設(shè)計(jì)規(guī)格書(shū),是一種包含新電路設(shè)計(jì)的預(yù)期功能和性能特性的定義的文檔,這個(gè)需要在設(shè)計(jì)項(xiàng)目啟動(dòng)階段就要完成,通常由市場(chǎng)和設(shè)計(jì)人員共同完成,較終設(shè)計(jì)出來(lái)的產(chǎn)品的實(shí)際功能和性能需要和設(shè)計(jì)規(guī)格書(shū)的規(guī)定進(jìn)行比較,以確認(rèn)本次設(shè)計(jì)項(xiàng)目的完成度。測(cè)試規(guī)格書(shū),其中包含詳細(xì)的逐步測(cè)試程序、條件、方法,以充分測(cè)試電路,通常由設(shè)計(jì)人員和產(chǎn)品驗(yàn)證工程師在設(shè)計(jì)過(guò)程中完成。產(chǎn)品規(guī)格書(shū),通常就是叫做datasheet,由設(shè)計(jì)公司對(duì)外發(fā)布的,包含了各種詳細(xì)的規(guī)格、電壓、電流、時(shí)序等信息。深圳CSP芯片測(cè)試機(jī)廠商
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