一般說來，是根據(jù)設(shè)計要求進(jìn)行測試，不符合設(shè)計要求的就是不合格。而設(shè)計要求，因產(chǎn)品不同而各不相同，有的IC需要測試大量的參數(shù)，有的則只需要測試很少的參數(shù)。事實上，一個具體的IC，并不一定要經(jīng)歷上面提到的全部測試，而經(jīng)歷多道測試工序的IC，具體在哪個工序測試哪些參數(shù)，也是有很多種變化的，這是一個復(fù)雜的系統(tǒng)工程。例如對于芯片面積大、良率高、封裝成本低的芯片，通?？梢圆贿M(jìn)行wafertest，而芯片面積小、良率低、封裝成本高的芯片，Z好將很多測試放在wafertest環(huán)節(jié)，及早發(fā)現(xiàn)不良品，避免不良品混入封裝環(huán)節(jié)，無謂地增加封裝成本。芯片測試機(jī)具有穩(wěn)定性和可重復(fù)性，適用于大量測試。浙江CPU芯片測試機(jī)

存儲器，芯片往往集成著各種類型的存儲器（例如ROM/RAM/Flash），為了測試存儲器讀寫和存儲功能，通常在設(shè)計時提前加入BIST（Built-In SelfTest）邏輯，用于存儲器自測。芯片通過特殊的管腳配置進(jìn)入各類BIST功能，完成自測試后BIST模塊將測試結(jié)果反饋給Tester。ROM（Read-Only Memory）通過讀取數(shù)據(jù)進(jìn)行CRC校驗來檢測存儲內(nèi)容是否正確。RAM（Random-Access Memory）通過除檢測讀寫和存儲功能外，有些測試還覆蓋DeepSleep的Retention功能和Margin Write/Read等等。Embedded Flash除了正常讀寫和存儲功能外，還要測試擦除功能。Wafer還需要經(jīng)過Baking烘烤和Stress加壓來檢測Flash的Retention是否正常。還有Margin Write/Read、Punch Through測試等等。浙江CPU芯片測試機(jī)芯片測試機(jī)可以提供精確的數(shù)據(jù)，幫助工程師快速理解芯片性能。

總體而言，芯片測試機(jī)在芯片設(shè)計和生產(chǎn)中扮演著重要角色。的芯片測試機(jī)能夠為生產(chǎn)提供更高的生產(chǎn)性、更深入的測試和更高的測試效率，從而使整個芯片生產(chǎn)流程更加高效化、智能化。一顆芯片較終做到終端產(chǎn)品上，一般需要經(jīng)過芯片設(shè)計、晶圓制造、晶圓測試、封裝、成品測試、板級封裝等這些環(huán)節(jié)。在整個價值鏈中，芯片公司需要主導(dǎo)的環(huán)節(jié)主要是芯片設(shè)計和測試，其余的環(huán)節(jié)都可以由相應(yīng)的partner來主導(dǎo)或者完成。所以，測試本身就是設(shè)計，這個是需要在較初就設(shè)計好了的，對于設(shè)計公司來說，測試至關(guān)重要，不亞于電路設(shè)計本身。

這些電路的小尺寸使得與板級集成相比，有更高速度，更低功耗（參見低功耗設(shè)計）并降低了制造成本。這些數(shù)字IC，以微處理器、數(shù)字信號處理器和微控制器為表示，工作中使用二進(jìn)制，處理1和0信號。擴(kuò)展資料：在使用自動測試設(shè)備（ATE）包裝前，每個設(shè)備都要進(jìn)行測試。測試過程稱為晶圓測試或晶圓探通。晶圓被切割成矩形塊，每個被稱為晶片（“die”）。每個好的die被焊在“pads”上的鋁線或金線，連接到封裝內(nèi)，pads通常在die的邊上。芯片測試機(jī)可以進(jìn)行反相測試，用于測試反相運算器和逆變器。

對于芯片來說，有兩種類型的測試，抽樣測試和生產(chǎn)全測。抽樣測試，比如設(shè)計過程中的驗證測試，芯片可靠性測試，芯片特性測試等等，這些都是抽測，主要目的是為了驗證芯片是否符合設(shè)計目標(biāo)，比如驗證測試就是從功能方面來驗證是否符合設(shè)計目標(biāo)，可靠性測試是確認(rèn)較終芯片的壽命以及是否對環(huán)境有一定的魯棒性，而特性測試測試驗證設(shè)計的冗余度。這里我們主要想跟大家分享一下生產(chǎn)全測的測試，這種是需要100%全測的，這種測試就是把缺陷挑出來，分離壞品和好品的過程。這種測試在芯片的價值鏈中按照不同階段又分成晶圓測試和較終測試（FT，也叫封裝測試或者成品測試），就是上面圖（1）中的紅色部分。芯片測試機(jī)可以檢測芯片的性能和缺陷。天津多功能芯片測試機(jī)公司

芯片測試機(jī)是一種用于測試集成電路的機(jī)器。浙江CPU芯片測試機(jī)

芯片在測試過程中，會有不良品出現(xiàn)，不良品會被放置到不良品放置臺60，從而導(dǎo)致自動上料裝置40上的一個tray盤全部測試完成后，而自動下料裝置50的tray盤中沒有放滿芯片。如圖1所示，為了保障自動下料裝置50的tray盤中放滿芯片后，自動上料裝置40的tray盤才移動至自動下料裝置50，本實施例在機(jī)架10上還設(shè)置有中轉(zhuǎn)裝置60。中轉(zhuǎn)裝置60位于自動上料裝置40及自動下料裝置50的一側(cè)。如圖5所示，中轉(zhuǎn)裝置60包括氣缸墊塊61、中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62及tray盤中轉(zhuǎn)臺63，其中，氣缸墊塊61固定于支撐板12上，中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62固定于氣缸墊塊61上，tray盤中轉(zhuǎn)臺63與中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62相連，中轉(zhuǎn)旋轉(zhuǎn)氣缸62可以帶動tray盤中轉(zhuǎn)臺63旋轉(zhuǎn)。浙江CPU芯片測試機(jī)