Probe Card---乃是Tester與wafer上的DUT之間其中一個連接介面，目的在連接Tester Channel 與待測DUT。大部分為鎢銅或鈹銅，也有鈀等其他材質；材質的選擇需要強度高、導電性及不易氧化等特性，樣子如下面所示。當 probe card 的探針正確接觸wafer內(nèi)一顆 die的每個bond pads后, 送出start信號通過Interface給tester開始測試, tester完成測試送回分類訊號 ( End of test) 給Prober, 量產(chǎn)時必須 tester 與 prober 做連接(docking) 才能測試。較終測試(FT,或者封裝測試)：就是在圖（3）中的Package Device上進行測試.下圖就是一個完整的FT的測試系統(tǒng)。對比wafer test，其中硬件部分，prober換成了handler，其作用是一樣的，handler的主要作用是機械手臂，抓取DUT，放在測試區(qū)域，由tester對其進行測試，然后handler再根據(jù)tester的測試結果，抓取DUT放到相應的區(qū)域，比如好品區(qū)，比如壞品1類區(qū)，壞品2類區(qū)等。芯片測試機還可以進行邏輯測試以測試操作錯誤。深圳CSP芯片測試機行價

芯片測試機是一種專門用來檢測芯片的工具。它可以在生產(chǎn)中測試集成電路芯片的功能和性能，來確保芯片質量符合設計要求。芯片測試機的主要作用是對芯片的電學參數(shù)和邏輯特性進行測量，然后按照預定規(guī)則進行對比，從而對測試結果進行評估。芯片測試機常見的用途是測試運行紋理陣列器（FPGA）和應用特定集成電路（ASIC）。FPGA作為可編程芯片，通常是初步設計，測試和驗證過程中關鍵的部分。ASIC則是根據(jù)設定的電路、電子設備和/或存儲器進行硬件配置的特定集成電路。北京推拉力芯片測試機哪家好芯片測試機可以進行鐘控測試，用于測量邏輯門延時。

芯片測試設備漏電流測試是指測試模擬或數(shù)字芯片高阻輸入管腳電流，或者是把輸出管腳設置為高阻狀態(tài)，再測量輸出管腳上的電流。盡管芯片不同，漏電大小會不同，但在通常情況下，漏電流應該小于 1uA。測試芯片每個電源管腳消耗的電流是發(fā)現(xiàn)芯片是否存在災難性缺陷的比較快的方法之一。每個電源管腳被設置為預定的電壓，接下來用自動測試設備的參數(shù)測量單元測量這些電源管腳上的電流。這些測試一般在測試程序的開始進行，以快速有效地選出那些完全失效的芯片。電源測試也用于保證芯片的功耗能滿足終端應用的要求。

芯片測試設備結果及配件：1、電源測試儀。電源測試儀能夠對芯片進行電源供應的測試。一般來說，電源測試儀包括直流電源和交流電源兩種類型。直流電源一般用于芯片測試中，控制電路使用。而交流電源則常用于通信協(xié)議的測試。2、 邏輯分析儀。邏輯分析儀是一種常用的數(shù)字電路測試工具。通過連接到芯片的引腳，邏輯分析儀可以捕捉芯片輸出的數(shù)字信號，并將其轉換成可視化的波形。這可以幫助測試人員判斷芯片是否工作正常，并排查故障。3. 聲學顯微鏡，聲學顯微鏡可以用來檢測芯片中的缺陷。聲學顯微鏡會將聲音轉換為光信號，這樣測試人員可以通過觀察芯片表面上的光反射來檢測芯片中的缺陷。芯片測試機既可以進行數(shù)字測試，也可以進行模擬測試。

芯片測試設備利用基于數(shù)字信號處理（DSP）的測試技術來測試混合信號芯片與傳統(tǒng)的測試技術相比有許多優(yōu)勢。芯片測試設備由于能并行地進行參數(shù)測試，所以能減少測試時間；由于能把各個頻率的信號分量區(qū)分開來（也就是能把噪聲和失真從測試頻率或者其它頻率分量中分離出來），所以能增加測試的精度和可重復性。由于擁有很多陣列處理函數(shù)，比如說求平均數(shù)等，這對混合信號測試非常有用。芯片測試設備運行原理如上所示，為了測試大規(guī)模的芯片以及集成電路，用戶需要對芯片測試設備的運行原理了解清楚更有利于芯片測試設備的選擇。芯片測試機支持多種測試模式。深圳CSP芯片測試機行價

芯片測試機可以進行結構測試，用于測量芯片的延遲和功耗等參數(shù)。深圳CSP芯片測試機行價

芯片在測試過程中，會有不良品出現(xiàn)，不良品會被放置到不良品放置臺60，從而導致自動上料裝置40上的一個tray盤全部測試完成后，而自動下料裝置50的tray盤中沒有放滿芯片。如圖1所示，為了保障自動下料裝置50的tray盤中放滿芯片后，自動上料裝置40的tray盤才移動至自動下料裝置50，本實施例在機架10上還設置有中轉裝置60。中轉裝置60位于自動上料裝置40及自動下料裝置50的一側。如圖5所示，中轉裝置60包括氣缸墊塊61、中轉旋轉氣缸62及tray盤中轉臺63，其中，氣缸墊塊61固定于支撐板12上，中轉旋轉氣缸62固定于氣缸墊塊61上，tray盤中轉臺63與中轉旋轉氣缸62相連，中轉旋轉氣缸62可以帶動tray盤中轉臺63旋轉。深圳CSP芯片測試機行價