探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)。針對(duì)集成電路以及封裝的測(cè)試。 探針臺(tái)廠家生產(chǎn)的探針臺(tái)普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。激光探針臺(tái)，探針臺(tái)應(yīng)用范圍：8寸以內(nèi)Wafer，IC測(cè)試，IC設(shè)計(jì)等；激光探針臺(tái)測(cè)試內(nèi)容：1. 微小連接點(diǎn)信號(hào)引出；2. 失效分析失效確認(rèn)；3. FIB電路修改后電學(xué)特性確認(rèn)；4. 晶圓可靠性驗(yàn)證；5. 激光打標(biāo)；6. 表層修復(fù)線路；7. 驅(qū)除短路點(diǎn)；8. 激光斷線；9. 干擾芯片測(cè)試。探針臺(tái)的科研成果有助于人類更有效地保護(hù)地球和地球上的所有生命。江蘇小型探針臺(tái)參考價(jià)

手動(dòng)探針臺(tái)的工作原理及應(yīng)用范圍。工作原理：手動(dòng)探針臺(tái)是普遍應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的綜合經(jīng)濟(jì)型測(cè)試儀器，主要用于半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)檢測(cè)。手動(dòng)探針臺(tái)是通過(guò)兩根探針以及吸片盤(pán)夠成的回路以及相應(yīng)大型電參數(shù)測(cè)試儀對(duì)芯片中的集成電路進(jìn)行檢測(cè)的。應(yīng)用范圍：手動(dòng)探針臺(tái)主要用于對(duì)生產(chǎn)及科研中的集成電路、三極管、二極管、可控硅及敏感元件管芯的電壓、電流、電阻等參數(shù)進(jìn)行手動(dòng)測(cè)試。晶圓測(cè)試過(guò)程中溫度在低溫和高溫中變換，因?yàn)闊崦浝淇s現(xiàn)象，定位好的探針與器件電極間會(huì)有相對(duì)位移，這時(shí)需要針座的重新定位，針座位于腔體外部。我們也可以選擇使用操作桿控制的自動(dòng)化針座來(lái)調(diào)整探針的位置。北京高精度探針臺(tái)價(jià)位探針臺(tái)可以促進(jìn)人類文明的發(fā)展和太空探索的進(jìn)程。

探針臺(tái)是晶圓輸送與定位任務(wù)的承擔(dān)者，檢測(cè)半導(dǎo)體芯片電、光參數(shù)的關(guān)鍵設(shè)備。CP 測(cè)試環(huán)節(jié)中，探針臺(tái)首先將晶圓移動(dòng)至晶圓相機(jī)下，確定晶圓的坐標(biāo)位置；再將探針相機(jī) 移動(dòng)至探針卡下，確定探針卡的坐標(biāo)位置，當(dāng)確定二者位置后，即通過(guò)載片臺(tái)將晶圓移動(dòng) 至探針卡下實(shí)現(xiàn)對(duì)針。其按不同功能可以分為高/低溫探針臺(tái)、RF 探針臺(tái)、LCD &TEG探針臺(tái)、光電探針臺(tái)等，當(dāng)晶圓依次與探針接觸完成測(cè)試后，探針臺(tái)記錄參數(shù)特性不符合要求的芯片， 并在進(jìn)入后序工序前予以剔除，以保障質(zhì)量與可靠性，降低器件的制造成本。

即使被施加預(yù)壓，也能獲得高精度的旋轉(zhuǎn)。承片臺(tái) 通過(guò)軸承座的連接，使承片臺(tái)與承片盤(pán)成為一體， 并通過(guò)交叉滾柱軸環(huán)自由轉(zhuǎn)動(dòng)。承片臺(tái)的升降結(jié)構(gòu)主要是靠滾珠絲杠帶動(dòng)兩 個(gè)對(duì)稱的線性導(dǎo)軌進(jìn)行上下往復(fù)運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)探針 接觸檢測(cè)。半導(dǎo)體探針臺(tái)是一種成熟的工具，用于測(cè)試硅晶片、裸片和開(kāi)放式微芯片上的電路和設(shè)備——但它是什么以及它是如何工作的？探針臺(tái)允許用戶將電子、光學(xué)或射頻探針?lè)胖迷谠O(shè)備上，然后測(cè)試該設(shè)備對(duì)外部刺激（電子、光學(xué)或射頻）的響應(yīng)。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以更復(fù)雜，涉及復(fù)雜微電路的全功能測(cè)試。探針臺(tái)是人類智慧的結(jié)晶和太空探索的橋梁。

探針臺(tái)簡(jiǎn)介：探針臺(tái)分類，探針臺(tái)從操作上來(lái)區(qū)分有：手動(dòng)，半自動(dòng)，全自動(dòng)，從功能上來(lái)區(qū)分有：溫控探針臺(tái)，真空探針臺(tái)（較低溫探針臺(tái)），RF探針臺(tái)，LCD平板探針臺(tái)，霍爾效應(yīng)探針臺(tái)，表面電阻率探針臺(tái)，經(jīng)濟(jì)手動(dòng)型，根據(jù)客戶需求定制，chuck尺寸：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可選），X-Y移動(dòng)行程：4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可選），chuck Z軸方向升降10mm（選項(xiàng)）方便探針與樣品快速分離，顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡（可選），顯微鏡移動(dòng)方式：立柱環(huán)繞型、移動(dòng)平臺(tái)型、龍門(mén)結(jié)構(gòu)型（可選），探針座：有0.7um、2um、10um精度可選，磁性吸附帶磁力開(kāi)關(guān)，可搭配Probe card測(cè)試，適用領(lǐng)域：晶圓廠、研究所、高校等。探針臺(tái)的科學(xué)研究成果對(duì)推動(dòng)人類的科學(xué)技術(shù)進(jìn)步有著舉足輕重的作用。北京高精度探針臺(tái)價(jià)位

探針臺(tái)是人類探索宇宙的一個(gè)重要基石。江蘇小型探針臺(tái)參考價(jià)

探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的分類，縱觀國(guó)內(nèi)外的自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡/探卡支架、打點(diǎn)器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測(cè)試儀(TESTER)相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺(tái)結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類，即:以美國(guó)EG公司為表示的平面電機(jī)型x-y工作臺(tái)(又叫磁性氣浮工作臺(tái))自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和以日本及歐洲國(guó)家生產(chǎn)的采用精密滾珠絲杠副和直線導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)型自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)。由于x-y工作臺(tái)的結(jié)構(gòu)差別很大，所以其使用維護(hù)保養(yǎng)不可一概而論，應(yīng)區(qū)別對(duì)待。江蘇小型探針臺(tái)參考價(jià)