太陽(yáng)能產(chǎn)業(yè)探針臺(tái)(Solar Cell 量測(cè)系統(tǒng))；量測(cè)軟體:I-V /C-V Curve, Isc, Voc,Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor,Power Convert Efficiency采用KEITHLEY Source Meter可加配任意品牌之太陽(yáng)光模擬器。x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)，無(wú)論是全自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)還是自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)，x-y向工作臺(tái)都是其較主要的部分。有數(shù)據(jù)表明探針測(cè)試臺(tái)的故障中有半數(shù)以上是x-y工作臺(tái)的故障，而工作臺(tái)故障有許多是對(duì)其維護(hù)保養(yǎng)不當(dāng)或盲目調(diào)整造成的，所以對(duì)工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)就顯得尤為重要。本文只對(duì)自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的維護(hù)與保養(yǎng)作一介紹。探針臺(tái)的研究成果對(duì)人類(lèi)探索宇宙和了解宇宙具有重要意義。北京X8M探針臺(tái)

GBITEST+MPI 半自動(dòng)探針臺(tái)。半導(dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類(lèi)：驗(yàn)證測(cè)試、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè)。晶圓檢測(cè)環(huán)節(jié)需要使用測(cè)試儀和探針臺(tái)，測(cè)試儀/機(jī)用于檢測(cè)芯片功能和性能，探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)被測(cè)芯片與測(cè)試機(jī)的連接，通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)的配合使用對(duì)晶圓上的裸芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試或射頻測(cè)試，可以對(duì)芯片的良品、不良品的進(jìn)行篩選。探針臺(tái)的分類(lèi)探針臺(tái)可以按照使用類(lèi)型與功能來(lái)劃分，也可以按照操作方式來(lái)劃分成：手動(dòng)探針臺(tái)、半自動(dòng)探針臺(tái)、全自動(dòng)探針臺(tái)。河南雙層位移探針臺(tái)公司探針臺(tái)是推進(jìn)太空探索和航天事業(yè)的重要一環(huán)。

自動(dòng)探針臺(tái)主要功能：1. TTL專(zhuān)門(mén)使用測(cè)試儀接口；GPIB/RS232/網(wǎng)絡(luò)接口（選配）；與測(cè)試機(jī)連接方便；2. Windows風(fēng)格界面，動(dòng)態(tài)顯示測(cè)試過(guò)程，MAP圖實(shí)時(shí)顯示、存儲(chǔ)；3. Map導(dǎo)航功能，map編輯（可編輯標(biāo)注DIE屬性、測(cè)試區(qū)域）；4. 自動(dòng)測(cè)試方式有矩陣、圓形方式、Map方式；5. 圖像對(duì)準(zhǔn)功能，自動(dòng)掃描，自動(dòng)首點(diǎn)對(duì)準(zhǔn)；6. 不良品噴墨打點(diǎn)標(biāo)記，墨點(diǎn)尺寸?0.5mm；7. 分級(jí)權(quán)限管理；8. 控制打印機(jī)打印測(cè)試結(jié)果；9. 配合上位機(jī)，上傳并記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。

探針臺(tái)用途，探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測(cè)試。ADVANCED儀準(zhǔn)科技研發(fā)高性價(jià)比手動(dòng)探針臺(tái)，普遍應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。芯片制造結(jié)束后即可在線測(cè)試，從源頭即可監(jiān)控。探針臺(tái)用于對(duì)集成電路、三極管、二極管及光電探測(cè)器的IV/CV參數(shù)等性能測(cè)試與表征，是研究中不可缺少的基本設(shè)備。探針臺(tái)系統(tǒng)性能指標(biāo)，可以實(shí)現(xiàn)通過(guò)軟件對(duì)晶片載臺(tái)X，Y，Z，探針臺(tái)可搭載光纖，未來(lái)可升級(jí)滿足光電測(cè)試。載物臺(tái)在XY方向：±1pm(0.04mls)分辨率、小于2μm(0.08mls)重復(fù)精度、大于50mm/sec的移動(dòng)速度；在Z方向:5mm(0.19in)的移動(dòng)范圍、1pm(0.04mls)分辨率、小于1pmmls)重復(fù)精度.探針臺(tái)的科研成果對(duì)推動(dòng)人類(lèi)文明的發(fā)展有著重要的作用。

手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)顧名思義是手動(dòng)控制的，這意味著晶圓載物臺(tái)、顯微鏡以及定位器/操縱器都是由使用者手動(dòng)移動(dòng)的。因此一般是在沒(méi)有很多待測(cè)器件需要測(cè)量或數(shù)據(jù)需要收集的情況下使用手動(dòng)探針臺(tái)。該類(lèi)探針臺(tái)的優(yōu)點(diǎn)之一是只需要較少的培訓(xùn)，易于配置環(huán)境和轉(zhuǎn)換測(cè)試環(huán)境，并且不需要涉及額外培訓(xùn)和設(shè)置時(shí)間的電子設(shè)備、PC或軟件。由于其靈活和可變性高的特點(diǎn)，非常適合研發(fā)人員使用。全自動(dòng)探針臺(tái)相比上述兩種添加了晶圓材料處理搬運(yùn)單元（MHU）和模式識(shí)別（自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)）。負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測(cè)試?？梢?4小時(shí)連續(xù)工作，通常用于芯片量產(chǎn)或有一些特殊要求如處理薄晶圓、封裝基板等。全自動(dòng)探針臺(tái)價(jià)格也是遠(yuǎn)比手動(dòng)/半自動(dòng)探針臺(tái)要昂貴。探針臺(tái)能夠捕捉到宇宙中不同能量和波長(zhǎng)的輻射線，并運(yùn)用檔次高技術(shù)解析這些信息。廣東高精度探針臺(tái)怎么樣

探針臺(tái)的建設(shè)需要科學(xué)家們共同匯聚自己的智慧。北京X8M探針臺(tái)

探針測(cè)試臺(tái)x-y工作臺(tái)的分類(lèi)，縱觀國(guó)內(nèi)外的自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)在功能及組成上大同小異，即主要由x-y向工作臺(tái)，可編程承片臺(tái)、探卡/探卡支架、打點(diǎn)器、探邊器、操作手柄等組成，并配有與測(cè)試儀（TESTER）相連的通訊接口。但如果按其x-y工作臺(tái)結(jié)構(gòu)的不同可為兩大類(lèi)，即：以美國(guó)EG公司為表示的平面電機(jī)型x-y工作臺(tái)（又叫磁性氣浮工作臺(tái)）自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)和以日本及歐洲國(guó)家生產(chǎn)的采用精密滾珠絲杠副和直線導(dǎo)軌結(jié)構(gòu)的x-y工作臺(tái)型自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)。由于x-y工作臺(tái)的結(jié)構(gòu)差別很大，所以其使用維護(hù)保養(yǎng)不可一概而論，應(yīng)區(qū)別對(duì)待。北京X8M探針臺(tái)