當(dāng)芯片需要進(jìn)行高溫加熱時(shí),可以先將多個(gè)待測(cè)試芯片移動(dòng)至預(yù)加熱工作臺(tái)95的多個(gè)預(yù)加熱工位96進(jìn)行預(yù)加熱,在測(cè)試的時(shí)候,可以減少高溫加熱頭71的加熱時(shí)間,提高測(cè)試效率。當(dāng)自動(dòng)上料裝置40上的來(lái)料芯片的放置方向與測(cè)試裝置30測(cè)試時(shí)需要放置的芯片的方向不一致時(shí),需要首先對(duì)待測(cè)試芯片進(jìn)行預(yù)定位,故本實(shí)施例在機(jī)架10上還設(shè)置有預(yù)定位裝置100。預(yù)定位裝置100包括預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101、預(yù)定位底座102及轉(zhuǎn)向定位底座103,預(yù)定位底座102與預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101相連,預(yù)定位底座102位于預(yù)定位旋轉(zhuǎn)氣缸101與轉(zhuǎn)向定位底座103之間,轉(zhuǎn)向定位底座103上開(kāi)設(shè)有凹陷的預(yù)定位槽104。在 IC 設(shè)計(jì)階段時(shí),將各個(gè)不同的 IC 放在一起制作成一張光罩,整合在一顆芯片中。濟(jì)南MINI芯片測(cè)試機(jī)行價(jià)
下面對(duì)本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)或原理進(jìn)行說(shuō)明:使用本發(fā)明的芯片測(cè)試機(jī)進(jìn)行芯片測(cè)試時(shí),首先在自動(dòng)上料裝置上放置多個(gè)tray盤(pán),每一個(gè)tray盤(pán)上均放滿(mǎn)或放置多個(gè)待測(cè)試芯片,同時(shí)在自動(dòng)下料裝置和不良品放置臺(tái)上分別放置空的tray盤(pán)。測(cè)試機(jī)啟動(dòng)后,由移載裝置從自動(dòng)上料裝置的tray盤(pán)中吸取待測(cè)試芯片移載至測(cè)試裝置進(jìn)行測(cè)試,芯片測(cè)試完成后,移載裝置將測(cè)試合格的芯片移載至自動(dòng)下料裝置的空tray盤(pán)中,將不良品移載至不良品放置臺(tái)的空tray盤(pán)中放置。當(dāng)自動(dòng)上料裝置的一個(gè)tray盤(pán)中的芯片全部完成測(cè)試,且自動(dòng)下料裝置的空tray盤(pán)中全部裝滿(mǎn)測(cè)試后的芯片后,移載裝置將自動(dòng)上料裝置的空tray盤(pán)移載至自動(dòng)下料裝置。本發(fā)明的芯片測(cè)試機(jī)的結(jié)構(gòu)緊湊,體積較小,占地面積只為一平米左右,可滿(mǎn)足小批量的芯片測(cè)試需求。濟(jì)南MINI芯片測(cè)試機(jī)行價(jià)如果能得到更多的有意義的測(cè)試數(shù)據(jù),也能反過(guò)來(lái)提供給設(shè)計(jì)和制造端有用的信息,就是測(cè)試。
盡管每款獨(dú)特的電路設(shè)計(jì)要求的功能測(cè)試條件都不一樣,但很多時(shí)候我們還是能找到他們的相同之處,比如一些可以通過(guò)功能測(cè)試去驗(yàn)證的參數(shù),我們就可以總結(jié)出一些標(biāo)準(zhǔn)的方法。開(kāi)短路測(cè)試原理(通俗叫O/S),開(kāi)短路測(cè)試,是基于產(chǎn)品本身管腳的ESD防靜電保護(hù)二極管的正向?qū)▔航档脑磉M(jìn)行測(cè)試。 進(jìn)行開(kāi)短路測(cè)試的器件管腳,對(duì)地或者對(duì)電源端,或者對(duì)地和對(duì)電源,都有ESD保護(hù)二極管,利用二極管正向?qū)ǖ脑?,就可以判別該管腳的通斷情況。
自動(dòng)上料機(jī)構(gòu)42上料時(shí),將放滿(mǎn)待測(cè)芯片的多個(gè)tray盤(pán)上下疊放在頭一料倉(cāng)41的第二移動(dòng)底板47上,且位于較上層的tray盤(pán)位于頭一料倉(cāng)41的開(kāi)口部。移載裝置20首先吸取位于較上層的tray盤(pán)中的芯片進(jìn)行測(cè)試,當(dāng)位于較上層的tray盤(pán)中的芯片測(cè)試完成后,將空的tray盤(pán)移載至自動(dòng)下料機(jī)構(gòu)52。然后伺服電機(jī)43驅(qū)動(dòng)滾珠絲桿45轉(zhuǎn)動(dòng),滾珠絲桿45通過(guò)頭一移動(dòng)底板46帶動(dòng)第二移動(dòng)底板47向上移動(dòng),帶動(dòng)位于下方的tray盤(pán)向上移動(dòng),直至所有的tray盤(pán)中的芯片全部測(cè)試完成。測(cè)試本身就是設(shè)計(jì),這個(gè)是需要在起初就設(shè)計(jì)好,對(duì)于設(shè)計(jì)公司來(lái)說(shuō),測(cè)試至關(guān)重要,不亞于電路設(shè)計(jì)本身。
設(shè)備軟件:1.中英文軟件界面,三級(jí)操作權(quán)限,各級(jí)操作權(quán)限可自由設(shè)定力值單位Kg、g、N,可根據(jù)測(cè)試需要進(jìn)行選擇。2.軟件可實(shí)時(shí)輸出測(cè)試結(jié)果的直方圖、力值曲線,測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)保存與導(dǎo)出功能,測(cè)試數(shù)據(jù)并可實(shí)時(shí)連接MES系統(tǒng)軟件可設(shè)置標(biāo)準(zhǔn)值并直接輸出測(cè)試結(jié)果并自動(dòng)對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行判定。3.SPC數(shù)據(jù)導(dǎo)出自帶當(dāng)前導(dǎo)出數(shù)據(jù)值、較小值、平均值及CPK計(jì)算。傳感器精度:傳感器精度±0.003%;綜合測(cè)試精度±0.25%測(cè)試傳感器量程自動(dòng)切換。測(cè)試精度:多點(diǎn)位線性精度校正,并用標(biāo)準(zhǔn)法碼進(jìn)行重復(fù)性測(cè)試,保證傳感器測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。軟件參數(shù)設(shè)置:根據(jù)各級(jí)權(quán)限可對(duì)合格力值、剪切高度、測(cè)試速度等參數(shù)進(jìn)行調(diào)節(jié)。測(cè)試平臺(tái):真空360度自由旋轉(zhuǎn)測(cè)試平臺(tái),適應(yīng)于各種材料測(cè)試需求,只需要更換相應(yīng)的治具或壓板,即可輕松實(shí)現(xiàn)多種材料的測(cè)試需求。ATE自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備,是一個(gè)高性能計(jì)算機(jī)控制的設(shè)備的集成,可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的測(cè)試。南京MINILED芯片測(cè)試機(jī)價(jià)位
芯片設(shè)計(jì)是行業(yè)的頂端,包含電路設(shè)計(jì)、版圖設(shè)計(jì)和光罩制作,主要環(huán)節(jié)是電路設(shè)計(jì),涉及多元知識(shí)結(jié)構(gòu)。濟(jì)南MINI芯片測(cè)試機(jī)行價(jià)
如果輸出結(jié)果符合標(biāo)準(zhǔn),則表示芯片的性能符合要求;如果輸出結(jié)果不符合標(biāo)準(zhǔn),則表示芯片的性能存在問(wèn)題。推拉力測(cè)試機(jī)的原理基于力學(xué)原理,即力與位移之間的關(guān)系。推拉力測(cè)試機(jī)通過(guò)施加推力或拉力于測(cè)試樣品,并測(cè)量該力對(duì)樣品造成的位移,從而確定樣品的強(qiáng)度和耐久性。推拉力測(cè)試機(jī)的工作原理主要由以下幾部分組成:1、傳動(dòng)機(jī)構(gòu):用于生成施加在樣品上的推力或拉力。2、傳感器:用于測(cè)量樣品產(chǎn)生的位移。3、控制系統(tǒng):負(fù)責(zé)設(shè)置測(cè)試參數(shù),控制測(cè)試過(guò)程,并記錄和分析數(shù)據(jù)。4、數(shù)據(jù)處理系統(tǒng):負(fù)責(zé)處理和分析測(cè)試數(shù)據(jù),以評(píng)估樣品的強(qiáng)度和性能。濟(jì)南MINI芯片測(cè)試機(jī)行價(jià)