探針臺(tái)-芯片測(cè)試必備設(shè)備，芯片測(cè)試必備設(shè)備之手動(dòng)探針臺(tái)，集成單筒顯微鏡帶高清1080PCCD相機(jī)，較大變焦后可清晰觀看1微米光刻晶圓ID號(hào)。配置三維磁吸探針座，1微米移動(dòng)。加載同軸LED光源，實(shí)現(xiàn)高清芯片內(nèi)部電路圖像對(duì)比度，可觀察芯片之美。探針針尖可小于1微米對(duì)芯片電極扎針接觸，連接電源等儀器就可以對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試?yán)病０雽?dǎo)體測(cè)試可以按生產(chǎn)流程可以分為三類：驗(yàn)證測(cè)試、晶圓測(cè)試測(cè)試、封裝檢測(cè)。探針臺(tái)主要用于晶圓制造環(huán)節(jié)的晶圓檢測(cè)、芯片研發(fā)和故障分析等應(yīng)用。探針臺(tái)的技術(shù)需要不斷推陳出新。北京晶圓測(cè)試探針臺(tái)廠家直銷

探針臺(tái)，是我們半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室電學(xué)性能測(cè)試的常用設(shè)備，也是各大實(shí)驗(yàn)室以及芯片設(shè)計(jì)、封裝測(cè)試的熟客。設(shè)備具備各項(xiàng)優(yōu)勢(shì)，高性能低成本，用途廣，操作方便，在不同測(cè)試環(huán)境下，測(cè)試結(jié)果穩(wěn)定，客觀，深受工程師們的青睞。探針臺(tái)主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的 CP 測(cè)試環(huán)節(jié)，負(fù)責(zé)晶圓的輸送與定位，確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩(wěn)定的信號(hào)，使晶圓上的晶粒依次與探針接觸并逐個(gè)測(cè)試，實(shí)現(xiàn)更加精確的數(shù)據(jù)測(cè)試測(cè)量。半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括測(cè)試機(jī)、探針臺(tái)和分選機(jī)。在所有的測(cè)試環(huán)節(jié)中都會(huì)用到測(cè)試機(jī)，不同環(huán)節(jié)中測(cè)試機(jī)需要和分選機(jī)或探針臺(tái)配合使用。湖北大型探針臺(tái)定制探針臺(tái)的科技成果對(duì)推進(jìn)全球科學(xué)事業(yè)、推動(dòng)人類文明進(jìn)步發(fā)揮著重要的作用。

8英寸手動(dòng)探針臺(tái)用途：以往如果需要測(cè)試電子元器件或系統(tǒng)的基本電性能（如電流、電壓、阻抗等）或工作狀態(tài)，研發(fā)人員一般會(huì)采用萬用電表的表筆去點(diǎn)測(cè)。隨著電子技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)于精密微小（納米級(jí)）的微電子器件（如IC、wafer、Chip、LCDArray、CMOSCameraModule、Pitch微小的Connector），萬用表點(diǎn)到被測(cè)位置就顯得無能為力了。于是一種高精度探針座應(yīng)運(yùn)而生，利用高精度微探針將被測(cè)原件的內(nèi)部訊號(hào)引導(dǎo)出來，便于其電性測(cè)試設(shè)備（不屬于本機(jī)器）對(duì)此測(cè)試、分析。

在所有的測(cè)試環(huán)節(jié)中都會(huì)用到測(cè)試機(jī)，不同環(huán)節(jié)中測(cè)試機(jī)需要和分選機(jī)或探針臺(tái)配合使用。高低溫真空磁場探針臺(tái)是具備提供高低溫、真空以及磁場環(huán)境的高精度實(shí)驗(yàn)臺(tái)，它的諸多設(shè)計(jì)都是專門使用的。因此，高低溫磁場探針臺(tái)的配置主要是根據(jù)需求進(jìn)行選配及設(shè)計(jì)。例如，要求的磁場值，均勻區(qū)大小、均勻度大小、樣品臺(tái)的尺寸等，均于磁力線在一定區(qū)域內(nèi)產(chǎn)生的磁通密度相關(guān)聯(lián)；位移臺(tái)還可與磁流體密封搭配，實(shí)現(xiàn)水平方向二維移動(dòng)和樣品臺(tái)360度轉(zhuǎn)動(dòng)；除此之外，該探針臺(tái)和雙極性恒流電源搭配使用，可以磁場的高穩(wěn)定性。探針臺(tái)的運(yùn)營需要考慮科學(xué)、技術(shù)和管理等多個(gè)方面的因素，并做好安全保密方面的工作。

XY 精密工作臺(tái)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，由于XY 工作臺(tái)需要放置于真空腔體內(nèi)，XY 工作臺(tái)結(jié)構(gòu)越緊湊，真空腔體就越小，設(shè)備尺寸也 就相應(yīng)減小。結(jié)構(gòu)緊湊合理的XY 工作臺(tái)有利于 降低真空腔體加工難度、減少能源浪費(fèi)。XY 工作臺(tái)整體處于真空腔體中，要求零部件結(jié)構(gòu)密致性好，零部件材料不能逸出空氣，材料表 面不能有揮發(fā)性油脂。XY 工作臺(tái)需要完全暴露在特 種環(huán)境中，所有零部件均需要通過耐腐蝕、耐低溫 性等試驗(yàn)，對(duì)于電機(jī)、絲杠、導(dǎo)軌等外購件，如果沒 有合適的型號(hào)滿足上述要求，需要對(duì)相應(yīng)外購件 加裝特制密封裝置，使外購件與腔體內(nèi)環(huán)境有效 隔絕。探針臺(tái)的研究成果不僅對(duì)天文學(xué)有著重要的意義，還對(duì)物理學(xué)等學(xué)科領(lǐng)域產(chǎn)生了深遠(yuǎn)的影響。北京晶圓測(cè)試探針臺(tái)廠家直銷

探針臺(tái)能夠?yàn)槿祟愇幕涂萍嫉牟粩噙M(jìn)步提供有力技術(shù)支持。北京晶圓測(cè)試探針臺(tái)廠家直銷

探針臺(tái)特性1:裝載部件，令客戶滿意的測(cè)試環(huán)境，可以提供從前部開始的通常的8"，12"及基本檢查單元。也為自動(dòng)物料輸送系統(tǒng)應(yīng)用做好了準(zhǔn)備。特性2:TTG(一點(diǎn)即到)，更加方便的操作，UF3000采用在顯示屏上點(diǎn)一下，相關(guān)的屏幕就會(huì)切換到新的位置顯示。相關(guān)的設(shè)定十分方便。屏幕的顯示模式也可以由客戶自行定義。晶圓測(cè)試的方式主要是通過測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)的聯(lián)動(dòng)，在測(cè)試過程中，測(cè)試機(jī)臺(tái)并不能直接對(duì)待測(cè)晶圓進(jìn)行量測(cè)，而是透過探針卡（Probe Card）中的探針（Probe）與晶圓上的焊墊（Pad）或凸塊（Bump）接觸而構(gòu)成電性接觸。北京晶圓測(cè)試探針臺(tái)廠家直銷