伴隨著光纖通信技術的快速發(fā)展,小到芯片間,大到數(shù)據(jù)中心間的大規(guī)模數(shù)據(jù)交換處理,都迫切需求高速,可靠,低成本,低功耗的互聯(lián)。當前,我們把主流的光互聯(lián)技術分為兩類。一類是基于III-V族半導體材料,另一類是基于硅等與現(xiàn)有的成熟的微電子CMOS工藝兼容的材料?；贗II-V族半導體材料的光互聯(lián)技術,在光學性能方面較好,但是其成本高,工藝復雜,加工困難,集成度不高的缺點限制了未來大規(guī)模光電子集成的發(fā)展。硅光芯片器件可將光子功能和智能電子結合在一起以及提供潛力巨大的高速光互聯(lián)的解決方案。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片的好處：在一個指令周期內可完成一次乘法和一次加法。北京射頻硅光芯片耦合測試系統(tǒng)

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是一種應用雙波長的微波光子頻率測量設備,以及一種微波光子頻率測量設備的校正方法和基于此設備的微波頻率測量方法。在微波光子頻率測量設備中,本發(fā)明采用獨特的雙環(huán)耦合硅基光子芯片結構,可以形成兩個不同深度的透射譜線。該系統(tǒng)采用一定的校準方法,預先得到微波頻率和兩個電光探測器光功率比值的函數(shù),測量過程中,得到兩個電光探測器光功率比值后,直接采用查表法得到微波頻率。該系統(tǒng)將多個光學器件集成在硅基光學芯片上,從整體上減小了設備的體積,提高系統(tǒng)的整體可靠性。北京射頻硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片耦合測試系統(tǒng)的優(yōu)點：穩(wěn)定。

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)，該設備主要由極低/變溫控制子系統(tǒng)、背景強磁場子系統(tǒng)、強電流加載控制子系統(tǒng)、機械力學加載控制子系統(tǒng)、非接觸多場環(huán)境下的宏/微觀變形測量子系統(tǒng)五個子系統(tǒng)組成。其中極低/變溫控制子系統(tǒng)采用GM制冷機進行低溫冷卻，實現(xiàn)無液氦制冷，并通過傳導冷方式對杜瓦內的試樣機磁體進行降溫。系統(tǒng)產品優(yōu)勢：1、可視化杜瓦，可實現(xiàn)室溫~4.2K變溫環(huán)境下光學測試根據(jù)測試。2、背景強磁場子系統(tǒng)能夠提供高達3T的背景強磁場。3、強電流加載控制子系統(tǒng)采用大功率超導電源對測試樣品進行電流加載，較大可實現(xiàn)1000A的測試電流。4、該測量系統(tǒng)不與極低溫試樣及超導磁體接觸，不受強磁場、大電流及極低溫的影響和干擾，能夠高精度的測量待測試樣的三維或二維的全場測量。

此在確認硅光芯片耦合測試系統(tǒng)耦合不過的前提下，可依次排除B殼天線、KB板和同軸線等內部結構的故障進行維修。若以上一一排除，則是主板參數(shù)校準的問題，或者說是主板硬件存在故障。耦合天線的種類比較多，有塔式、平板式、套筒式，常用的是自動硅光芯片硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)。為防止外部環(huán)境的電磁干擾搭載屏蔽箱，來提高耦合直通率。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是比較關鍵的，我們的客戶非常關注此工位測試的嚴謹性，硅光芯片耦合測試系統(tǒng)主要控制“信號弱”，“易掉話”，“找網(wǎng)慢或不找網(wǎng)”，“不能接聽”等不良機流向市場。一般模擬用戶環(huán)境對設備EMC干擾的方法與實際使用環(huán)境存在較大差異，所以“信號類”返修量一直占有較大的比例。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)優(yōu)點：價格實惠。

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)中的硅光與芯片的耦合方法及其硅光芯片,方法包括以下步驟:將硅光芯片粘貼固定在基板上,硅光芯片的端面耦合波導為懸臂梁結構,具有模斑變換器;通過圖像系統(tǒng),微調架將光纖端面與耦合波導的模斑變換器耦合對準,固定塊從側面緊挨光纖并固定在基板上;硅光芯片的輸入端和輸出端分別粘貼墊塊并支撐光纖未剝除涂覆層的部分;使用微調架將光纖端面與模斑變換器區(qū)域精確對準,調節(jié)至合適耦合間距后采用紫外膠將光纖分別與固定塊和墊塊粘接固定;本發(fā)明方案簡易可靠,工藝復雜度低,通用性好,適用于批量制作。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)的優(yōu)點：易操作。北京射頻硅光芯片耦合測試系統(tǒng)

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)優(yōu)點：可靠性高。北京射頻硅光芯片耦合測試系統(tǒng)

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)系統(tǒng)的測試設備主要是包括可調激光器、偏振控制器和多通道光功率計，通過光矩陣的光路切換，每一時刻在程序控制下都可以形成一個單獨的測試環(huán)路。光源出光包含兩個設備，調光過程使用ASE寬光源，以保證光路通過光芯片后總是出光，ASE光源輸出端接入1*N路耦合器；測試過程使用可調激光器，以掃描特定功率及特定波長，激光器出光后連接偏振控制器輸入端，以得到特定偏振態(tài)下光信號；偏振控制器輸出端接入1個N*1路光開光；切光過程通過輸入端光矩陣，包含N個2*1光開關，以得到特定光源。輸入光進入光芯片后由芯片輸出端輸出進入輸出端光矩陣，包含N個2*1路光開關，用于切換輸出到多通道光功率計或者PD光電二極管，分別對應測試過程與耦合過程。北京射頻硅光芯片耦合測試系統(tǒng)