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貴州光子晶體硅光芯片耦合測試系統(tǒng)哪家好

來源: 發(fā)布時間:2023-06-14

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)中應用到的硅光芯片是將硅光材料和器件通過特殊工藝制造的集成電路,主要由光源、調制器、探測器、無源波導器件等組成,將多種光器件集成在同一硅基襯底上。硅光芯片的具有集成度高、成本低、傳輸帶寬更高等特點,因為硅光芯片以硅作為集成芯片的襯底,所以能集成更多的光器件;在光模塊里面,光芯片的成本非常高,但隨著大規(guī)模生產(chǎn)的實現(xiàn),硅光芯片的低成本成了巨大優(yōu)勢;硅光芯片的傳輸性能好,因為硅光材料折射率差更大,可以實現(xiàn)高密度的波導和同等面積下更高的傳輸帶寬。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)優(yōu)點:體積小。貴州光子晶體硅光芯片耦合測試系統(tǒng)哪家好

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在光芯片領域,芯片耦合封裝問題是硅光芯片實用化過程中的關鍵問題,芯片性能的測試也是尤其重要的一個步驟,現(xiàn)有的硅光芯片耦合測試系統(tǒng)是將光芯片的輸入輸出端光纖置于顯微鏡下靠人工手工移動微調架轉軸進行調光,并依靠對輸出光的光功率進行監(jiān)控,再反饋到微調架端進行調試。芯片測試則是將測試設備按照一定的方式串聯(lián)連接在一起,形成一個測試站。具體的,所有的測試設備通過光纖,設備連接線等連接成一個測試站。例如將VOA光芯片的發(fā)射端通過光纖連接到光功率計,就可以測試光芯片的發(fā)端光功率。將光芯片的發(fā)射端通過光線連接到光譜儀,就可以測試光芯片的光譜等。貴州光子晶體硅光芯片耦合測試系統(tǒng)哪家好硅光芯片的耦合封裝一般分為兩周種,1,端面耦合,2.光柵耦合。

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硅光芯片耦合測試系統(tǒng)這些有視覺輔助地初始光耦合的步驟是耦合工藝的一部分。在此工藝過程中,輸入及輸出光纖陣列和波導輸入及輸出端面的距離大約是100~200微米,以便通過使用機器視覺精密地校準預粘接間隙的測量,為后面必要的旋轉耦合留出安全的空間。旋轉耦合技術的原理。大體上來講,旋轉耦合是通過使用線性偏移測量及旋轉移動相結合的方法,將輸出光纖陣列和波導的的第1個及結尾一個通道進行耦合,并作出必要的更正調整。輸出光纖陣列的第1個及結尾一個通道和兩個光探測器相聯(lián)接。

硅光芯片耦合測試系統(tǒng)組件裝夾完成后,通過校正X,Y和Z方向的偏差來進行的初始光功率耦合,圖像處理軟件能自動測量出各項偏差,然后軟件驅動運動控制系統(tǒng)和運動平臺來補償偏差,以及給出提示,繼續(xù)手動調整角度滑臺。當三個器件完成初始定位,同時確認其在Z軸方向的相對位置關系后,這時需要確認輸入光纖陣列和波導器件之間光的耦合對準。點擊找初始光軟件會將物鏡聚焦到波導器件的輸出端面。通過物鏡及初始光CCD照相機,可以將波導輸出端各通道的近場圖像投射出來,進行適當耦合后,圖像會被投射到顯示器上。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)硅光芯片的好處:在一個指令周期內可完成一次乘法和一次加法。

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為了消除硅基無源器件明顯的偏振相關性,我們首先利用一種特殊的三明治結構波導,通過優(yōu)化多層結構,成功消除了一個超小型微環(huán)諧振器中心波長的偏振相關性。針對不同的硅光芯片結構,我們提出并且實驗驗證了兩款新型耦合器以提高硅光芯片的耦合效率。一款基于非均勻光柵的垂直耦合器,在實驗中,我們得到了超過60%的光纖-波導耦合效率。此外,我們還開發(fā)了一款用以實現(xiàn)硅條形波導和狹縫波導之間高效耦合的新型耦合器應用的系統(tǒng)主要是硅光芯片耦合測試系統(tǒng),理論設計和實驗結果都證明該耦合器可以實現(xiàn)兩種波導之間的無損光耦合測試。硅光芯片耦合測試系統(tǒng)優(yōu)點:易于大規(guī)模測試。天津多模硅光芯片耦合測試系統(tǒng)服務

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目前,基于SOI(絕緣體上硅)材料的波導調制器成為當前的研究熱點,也取得了許多的進展,但在硅光芯片調制器的產(chǎn)業(yè)化進程中,面臨著一系列的問題,波導芯片與光纖的有效耦合就是難題之一。從懸臂型耦合結構出發(fā),模擬設計了懸臂型倒錐耦合結構,通過開發(fā)相應的有效地耦合工藝來實現(xiàn)耦合實驗,驗證了該結構良好的耦合效率。在此基礎之上,對硅光芯片調制器進行耦合封裝,并對封裝后的調制器進行性能測試分析。主要研究基于硅光芯片調制技術的硅基調制器芯片的耦合封裝及測試技術其實就是硅光芯片耦合測試系統(tǒng)。貴州光子晶體硅光芯片耦合測試系統(tǒng)哪家好

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