如果您用買來的醫(yī)用紅外測溫儀測量正常工作的黑體爐時，會出現(xiàn)測量溫度比黑體爐設(shè)置溫度高出2-3℃。請不要慌，這是正常現(xiàn)象！因?yàn)槿梭w額頭溫度受環(huán)境影響較大，正常情況（在環(huán)境溫度15~25℃）下為32-35℃；所以醫(yī)學(xué)臨床均參考腋**溫作為醫(yī)學(xué)測溫。人們?yōu)榱送ㄟ^測量額頭溫度判斷腋下溫度，于是在醫(yī)用測溫儀出廠前通過軟件已經(jīng)修正了差值（低于36℃的都顯示36℃，并對其他測量區(qū)間進(jìn)行了溫度補(bǔ)償）。所以，醫(yī)用紅外測溫儀是紅外測溫儀系列中一款通過軟件修正簡化派生出的非復(fù)雜環(huán)境條件下使用的特殊產(chǎn)品；它所反饋的數(shù)值為理想值而非真實(shí)值（通俗點(diǎn)說就是在真實(shí)溫度上增加了2-3℃）。實(shí)際黑體爐存在著非均勻的溫度分布，空腔有效發(fā)射率就隨著溫度分布和波長變化而變化。上海哈特黑體爐

由于是針對目標(biāo)響應(yīng)值相對大小關(guān)系的校正，這就使得一點(diǎn)校正法可以在目標(biāo)響應(yīng)值與校正測量值相近時的任何情況下都能較好地成像。例如，一種很常見的實(shí)現(xiàn)方式是在環(huán)境溫度、FPA溫度變化后，通過實(shí)時動態(tài)調(diào)節(jié)積分時間、全局偏置等參數(shù)，讓目標(biāo)響應(yīng)值回到與校正測量時相近的范圍內(nèi)，則成像一般不成問題，但這樣處理后將導(dǎo)致測溫算法復(fù)雜化甚至根本無法實(shí)現(xiàn)測溫功能。各廠家在一點(diǎn)校正法的工藝實(shí)現(xiàn)中，還有個普遍的謬誤：用高、低溫黑體爐作校正測量，但在應(yīng)用中卻是用的檔片機(jī)構(gòu)此時檔片起到的是參考黑體的作用。如果用外檔片則還與校正測量的情況比較接近，但內(nèi)檔片差得就很離譜了。新型黑體爐現(xiàn)場測試實(shí)際應(yīng)用中的黑體爐，都是理想黑體的近似，他們的發(fā)射率至少要做到0.95以上（面源黑體）。

試驗(yàn)用鍋發(fā)射率測試3.1測量儀器鍋體材料是影響灶具熱效率的重要因素之一，因此，本試驗(yàn)主要測量新、舊兩版國標(biāo)下鋁制鍋具材料的發(fā)射率，分別為舊國標(biāo)下的普通白色鋁鍋和新國標(biāo)下的黑色無光鋁鍋，以下分別簡稱“白鍋”和“黑鍋”。發(fā)射率測量儀器見圖4，分別為日本某公司生產(chǎn)的FTIR-6100型傅里葉光譜分析儀和HIT-2型面源黑體爐。3.2發(fā)射率測量針對標(biāo)準(zhǔn)用鍋的樣品，使用HIT-2型黑體爐作為參考黑體輻射源，在120℃下，分別測量黑體輻射源、黑鍋和白鍋的輻射量，經(jīng)過計(jì)算機(jī)進(jìn)行傅里葉變換，獲得黑鍋和白鍋在2.5~25μm紅外波段的發(fā)射率，測量結(jié)果見圖5。

BR400黑體爐，由環(huán)溫+10℃～400℃內(nèi)任意一溫度點(diǎn)皆可隨需要調(diào)整。穩(wěn)定、重復(fù)的校正面板讓使用者能快速而準(zhǔn)確地校正及測試紅外線高溫計(jì)(紅外測溫儀)。黑體開孔直徑Φ125mm的面積，適用大部份的紅外線高溫計(jì)(紅外測溫儀)。系統(tǒng)另有RS-232或485的計(jì)算機(jī)通訊接口方便計(jì)算機(jī)控制設(shè)定溫度及自動測試。功能特點(diǎn)：●溫度范圍：環(huán)溫+10℃～400℃●采用自動升溫控溫方式、安全可靠、溫度穩(wěn)定性好、使用操作方便●使用雙排數(shù)字顯示測量值及設(shè)定值●緊湊而堅(jiān)固的設(shè)計(jì)、集校準(zhǔn)與測試的完美結(jié)合如果需要升至比較高，務(wù)必在**短時間內(nèi)完成校準(zhǔn)，然后對黑體爐進(jìn)行降溫操作，否則容易造成腔心損毀。

高溫場視覺測溫模型的建立是基于CCD傳感器對鑄坯表面溫度場進(jìn)行在線測量的前提。在分析輻射測溫及CCD探測器基本工作原理的基礎(chǔ)上，基于幾何光學(xué)理論建立了窄帶光譜輻射測溫模型，為CCD輻射測溫提供了理論依據(jù)。并結(jié)合連鑄坯表面溫度場分布特點(diǎn)，從溫度測量范圍、測量準(zhǔn)確性以及發(fā)射率消除等因素上確定了灰度CCD進(jìn)行連鑄坯表面溫度場測量方案?；诿骊嘋CD輻射測溫模型，分析了測溫靈敏度、溫度測量范圍與窄帶濾光片中心波長、像方孔徑角之間的關(guān)系。分析結(jié)果表明，靈敏度與像方孔徑角成正相關(guān)，隨窄帶光譜中心波長先增大后減??；而溫度測量范圍與像方孔徑角成負(fù)相關(guān)，隨窄帶光譜中心波長先減小后增大。同時考慮到波長對水霧的吸收特性以及本文選擇的探測器響應(yīng)波段等因素，黑體爐終選擇的窄帶濾光片中心波長為μm，帶寬為10nm?；趲缀纬上竦幕驹?，建立了輻射測溫變參數(shù)模型，在黑體爐上進(jìn)行了標(biāo)定試驗(yàn)研究，分析了曝光時間、光圈、焦距以及標(biāo)定距離等參數(shù)對CCD灰度測量的影響。常見的黑體爐按照構(gòu)造可以分為靶面式和腔體式兩種。中低溫黑體爐直銷價(jià)

一般面源黑體爐的溫度范圍只能做到500攝氏度以下，管式黑體則可以比較容易做到2000度以上。上海哈特黑體爐

黑體的應(yīng)用:黑體在工業(yè)上主要應(yīng)用于測溫領(lǐng)域，**主要的產(chǎn)品是黑體爐。對輻射溫度計(jì)的校準(zhǔn)、檢定，通常采用比較法，就是通過高穩(wěn)定度的輻射源（通常為黑體輻射源）和其他配套設(shè)備，將標(biāo)準(zhǔn)器所復(fù)現(xiàn)的溫度與被檢輻射溫度計(jì)所復(fù)現(xiàn)的溫度進(jìn)行比較，以判斷其是否合格或給出校準(zhǔn)結(jié)果。在校準(zhǔn)、檢定工作中，輻射源一般在-6～1200℃（或1600℃）范圍內(nèi)可用開口式中、低溫黑體爐，1200（或1600℃）～3200℃采用抽真空并充惰性氣體保護(hù)的高溫黑體爐。標(biāo)準(zhǔn)器分別為二等標(biāo)準(zhǔn)熱電偶（二等標(biāo)準(zhǔn)鉑電阻溫度計(jì)）和標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)（光電）高溫計(jì)。上海哈特黑體爐