此外,失效電阻表面還存在少量的乙酸根離子(CH3COO-),由于工藝生產(chǎn)中引入的有機弱酸減小了溶液的pH、提高了溶液的導電率,促進了金屬陽極的溶解過程,加大金屬陽離子的濃度而提升枝晶的生長速率,造成了電阻的短路失效。從表1離子色譜結(jié)果可以得出原工藝中生產(chǎn)使用的SnPb焊料存在較高的氯離子(Cl-),說明SnPb焊料中的助焊劑中存在較高的氯離子,加速了電阻表面發(fā)生焊料的電化學遷移。參考國際電子工業(yè)聯(lián)接協(xié)會標準表面絕緣電阻手冊IPC-TM-6502.3.28.2[4],“/”表示未檢出,其含量低于方法檢出限,方法檢出限為0.003mg/cm2。GWHR-256多通道 SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)適用于IPC-TM-650標準,測試速度 20mS/所有通道。江西供應電阻測試訂做價格
隨著電子產(chǎn)品向小型化/集成化的發(fā)展,線路和層間間距越來越小,電遷移問題也日益受到關(guān)注。一旦發(fā)生電遷移會造成電子產(chǎn)品絕緣性能下降,甚至短路。電遷移失效同常規(guī)的過應力失效不同,它的發(fā)生需要一個時間累積,失效通常會發(fā)生在**終客戶的使用過程中,可能在使用幾個月后,也可能在幾年后,往往會造成經(jīng)濟上的重大損失。但是,電遷移的發(fā)生不僅同離子有關(guān),它需要離子,電壓差,導體,傳輸通道,濕氣以及溫度等各種因素綜合作用,在長期累積下產(chǎn)生的失效。所以,通過在樣品上施加各類綜合應力來評估產(chǎn)品后期使用的電遷移風險就顯得異常重要。廣西離子遷移絕緣電阻測試有哪些SIR表面絕緣電阻測試的目的之一:基于可靠性的產(chǎn)品標定。
某些國際**汽車電子大廠要求其不同供應商,使用不同工藝,不同材質(zhì)的PCB光板,每一種類型全部需要通過電化學遷移測試才能獲得入門資格。01電化學遷移測試技術(shù)特點1、專業(yè)的設(shè)備:采用行業(yè)占有率比較高的主流進口設(shè)備,采樣速度更快,漏電捕捉精細,電阻測量精度高。2、專業(yè)的工程技術(shù)能力支持:除能為客戶提供專業(yè)的試驗評估外,還具備針對測試失效品的專業(yè)級失效分析能力,可實現(xiàn)一站式打包服務。3、可靈活地同溫濕度環(huán)境試驗箱,HAST箱,PCT等設(shè)備配合測試。
銅鏡實驗IPC-TM-650方法_2.3.32用來測試未加熱的助焊劑如何與銅反應,也叫做助焊劑誘發(fā)腐蝕測試。本質(zhì)上講,就是滴一滴定量的助焊劑到涂敷了一層銅膜的玻璃片上,然后在特定環(huán)境中放置一段時間。這個環(huán)境接近室溫環(huán)境,相對濕度是50%。24小時后清理掉助焊劑,并在白色背景下觀察銅膜被腐蝕掉多少。腐蝕穿透銅膜的程度決定了助焊劑的活性等級,通常用L、M和H表示。銅板腐蝕實驗IPC-TM-650方法2.6.15是用來測試極端條件下,助焊劑殘留物對銅的腐蝕性。助焊劑和焊料在銅板上加熱直到形成焊接。然后把銅板放置在一個溫度為40°C的潮濕環(huán)境,這樣可以加速助焊劑殘留物和銅可能發(fā)生的反應。銅板需要在測試前和測試后仔細檢查其表面顏色的變化來確定是否有腐蝕的跡象。觀察結(jié)果通常可以用L、M和H來表示腐蝕性的等級。測試配置靈活:每組板卡可設(shè)置不同的測試電壓,可同時完成多任務測試。
在96個小時的靜置時間后,測試電壓和偏置電壓的極性必須是始終一致的。在整個測試過程中,建議每24到100個小時需要換用另外的電阻檢測器,確保測試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測量過程中,為了保證測試的準確性,如果觀察到周期性的電阻突降,也應該被算作一次失效。因為陽極導電絲是很細的,很容易被破壞掉。當50%的部分已經(jīng)失效了,測試即可停止。當CAF發(fā)生時,電阻偏小,施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當測試網(wǎng)絡的阻值接近限流電阻的阻值時,顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中,并不需要調(diào)整電壓。9、500個小時的偏置電壓后(一共596個小時),像之前一樣重新進行絕緣電阻的測量。10、在500小時的偏壓加載后,可以進行額外的T/H/B條件。然而,**少要進行500小時加載偏置電壓的測試,來作為CAF測試的結(jié)果之一。多通道導通電阻實時監(jiān)控測試系統(tǒng),32 通道/組,各、組所有參數(shù)可以獨自設(shè)置。江西供應電阻測試訂做價格
接口友好:軟件可定制,或開放數(shù)據(jù)接口,或接入實驗室LIMS系統(tǒng)。江西供應電阻測試訂做價格
剖面結(jié)構(gòu)觀察通過SEM觀察失效電阻鑲樣的橫截面,如圖4所示。由圖4可發(fā)現(xiàn):電阻一端外電極有一個明顯的腐蝕凹坑,這是由電化學反中陽極溶解所產(chǎn)生的,腐蝕形態(tài)主要為點蝕。根據(jù)文獻[5]報道,在電解液中存在Cl-的電化學過程中,陽極表面的鈍化膜易溶解于含Cl-的溶液中,或Cl-直接滲透陽極表面的鈍化膜,造成鈍化膜開裂或形成微孔誘發(fā)局部腐蝕,**終形成點蝕坑的腐蝕形貌。電化學遷移失效復現(xiàn)根據(jù)失效分析,得出離子、潮氣及電場為失效的敏感因子,故設(shè)計故障復現(xiàn)試驗。將樣品分為兩組,1000h潮熱加電實驗。江西供應電阻測試訂做價格
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