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來源: 發(fā)布時間:2023-04-03

何謂電化學遷移。金屬離子在電場的作用下,電路的陽極和陰極之間會形成一個導電信道產生電解腐蝕(Electrolytic Corrosion。樣式如樹枝狀結構生長,造成不同區(qū)域的金屬互相連接,進而導致電路短路。ECM現象好發(fā)于電路板上。造成電化學遷移(ECM)比較大因素造成ECM形成的比較大因素為「電解質層形成」,電解質層的形成會產生自由離子進而增加導電率。而會加速電解質層形成的原因大多為濕度、溫度、汗水、環(huán)境中的污染物、助焊劑化學物、板材材料、表面粗糙度…等因素,因此,如何預防電解質層形成極為重要。測試電壓可在1.0-500V(2000V)之間以0.1V步進任意可調。江蘇智能電阻測試服務電話

電阻測試

在96個小時的靜置時間后,測試電壓和偏置電壓的極性必須是始終一致的。在整個測試過程中,建議每24到100個小時需要換用另外的電阻檢測器,確保測試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測量過程中,為了保證測試的準確性,如果觀察到周期性的電阻突降,也應該被算作一次失效。因為陽極導電絲是很細的,很容易被破壞掉。當50%的部分已經失效了,測試即可停止。當CAF發(fā)生時,電阻偏小,施加到CAF失效兩端的電壓會下降。當測試網絡的阻值接近限流電阻的阻值時,顯得尤為明顯。所以在整個測試過程中,并不需要調整電壓。9、500個小時的偏置電壓后(一共596個小時),像之前一樣重新進行絕緣電阻的測量。10、在500小時的偏壓加載后,可以進行額外的T/H/B條件。然而,**少要進行500小時加載偏置電壓的測試,來作為CAF測試的結果之一。陜西國內電阻測試供應商SIR表面絕緣電阻測試的目的之一:使用新色敷形涂料或工藝。

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金屬離子在陰極沉積過程在陰極區(qū),陽極溶解生成的金屬離子(主要為錫離子和鉛離子)在電場的作用下,在電解液中遷移到陰極得到電子直接生成金屬單質;或者與陰極生成的氫氧根離子相遇而生成氫氧化物的沉淀物,氫氧化物的沉淀物發(fā)生脫水分解為氧化物,氧化物繼續(xù)還原為金屬單質。伴隨著枝晶的生長過程,陰極區(qū)還發(fā)生的反應為電解質中溶解氧氣的還原反應及水的還原反應,反應方程式如下:Pb2++2e-→PbSn2++2e-→SnSn4++4e-→SnO2+2H2O+4e-→4OH-2H2O+2e-→H2+2OH-Pb2++2OH-→Pb(OH)2→PbO+H2OSn2++2OH-→Sn(OH)2→SnO+H2OSn4++4OH-→Sn(OH)4→SnO2+2H2O為建立可抑制電化學遷移中陰極還原沉積過程,可能的有效途徑為可以在陰極表面添加不同的活性劑,使陰極沉積物由樹枝狀結構變?yōu)榉稚⒃陉帢O表面,由此可有效避免由樹枝狀枝晶的生長而造成的短路失效。

廣州維柯信息技術有限公司成立于2006年,是一家專業(yè)致力于檢測檢驗實驗室行業(yè)產品技術開發(fā)生產、集成銷售為一體的技術型公司。

1、**通道高精度微電流測試。2、**通道測試電流電阻,電阻超大量程測量范圍在10的4次方到10的14次方。3、實現多通道電流同時采集,實時監(jiān)控測試樣品離子和材料絕緣劣化過程。4、板卡式結構,靈活配置系統通道,1個板卡16通道,單系統可擴展256通道。5、每個板卡一個**測試電源,可適應多批量測試條件。6、測試電壓可以擴展使用外接電壓,最大電壓可高達2000V。7、測試電壓可在1.0-500V(2000V)之間以0.1V步進任意可調。 梳形電路“多指狀”互相交錯的密集線路圖形,用板面清潔度、綠油絕緣性等,高電壓測試的一種特殊線路圖形。

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CAF形成過程:1、常規(guī)FR4 P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成;2、樹脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時親膠性不良,兩者之間容易出現間隙;3、鉆孔等機械加工過程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進一步破壞;4、距離較近的兩孔若電勢不同,則正極部分銅離子在電壓驅動下逐漸向負極遷移。CAF產生的原因:1、原料問題1) 樹脂身純度不良,如雜質太多而招致附著力不佳 ;2) 玻纖束之表面有問題,如耦合性不佳,親膠性不良 ;3) 樹脂之硬化劑不良,容易吸水 ;4) 膠片含浸中行進速度太快;常使得玻纖束中應有的膠量尚未全數充實填飽  造成氣泡殘存。廣州維柯信息技術有限公司導通電阻測試低阻測試系統。廣西國內電阻測試廠家供應

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可靠性研究的兩大內容就是失效分析和可靠性測試(包括破壞性實驗)。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現代電子裝備的基礎,元器件可靠性工作的根本任務是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機理,找出失效原因,反饋給設計、制造和使用,共同研究和實施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現象,分辨其失效模式和失效機理,確認結果的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現,提高元器件可靠性。江蘇智能電阻測試服務電話

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