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江西多功能電阻測(cè)試發(fā)展

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2023-05-24

什么是PCB/PCBA絕緣失效?PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會(huì)產(chǎn)生能量損耗,這種損耗很大時(shí),原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能,使電介質(zhì)溫度升高,絕緣老化,甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦,終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo),電介質(zhì)即絕緣材料,是電氣設(shè)備、裝置中用來(lái)隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì),通過(guò)各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。PCB/PCBA絕緣失效的表征電介質(zhì)長(zhǎng)期受到點(diǎn)場(chǎng)、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場(chǎng)的作用下,電介質(zhì)會(huì)發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象,這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對(duì)介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來(lái)表征。測(cè)量離子與非離子污染物對(duì)PCB可靠性的影響,其效果遠(yuǎn)比其它方法(如清潔度試驗(yàn)、鉻酸銀試驗(yàn)等)有效方便。江西多功能電阻測(cè)試發(fā)展

電阻測(cè)試

可靠性研究的兩大內(nèi)容就是失效分析和可靠性測(cè)試(包括破壞性實(shí)驗(yàn))。兩者之間是相互影響和相互制約的。電子元器件技術(shù)的快速發(fā)展和可靠性的提高奠定了現(xiàn)代電子裝備的基礎(chǔ),元器件可靠性工作的根本任務(wù)是提高元器件的可靠性。因此,必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過(guò)分析確定失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用,共同研究和實(shí)施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)結(jié)果的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。江蘇離子遷移絕緣電阻測(cè)試售后服務(wù)表面絕緣電阻(SIR)被用來(lái)評(píng)估污染物對(duì)組裝件可靠性的影響。

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局部萃取法會(huì)把板子表面所有殘留離子都溶解。電路板上離子材料的常見(jiàn)來(lái)源是多種多樣的,包括電路板制造和電鍍殘留物、人機(jī)交互殘留物、助焊劑殘留物等。這包括有意添加的化學(xué)物質(zhì)和無(wú)意的污染??紤]到這一點(diǎn),每當(dāng)遇到不可接受的結(jié)果時(shí),這種方法就被用來(lái)調(diào)查在過(guò)程和材料清單中發(fā)生了什么變化。在流程開發(fā)過(guò)程中,應(yīng)該定義一個(gè)“正?!钡慕Y(jié)果范圍,但是當(dāng)結(jié)果超出預(yù)期范圍時(shí),可能會(huì)有許多潛在的原因。使用類似SIR測(cè)試模塊的68針LCC。這種設(shè)計(jì)有足夠的熱量,允許一個(gè)范圍內(nèi)的回流曲線。元件的高度和底部端子**了一個(gè)典型的組裝案例,其中助焊劑殘留物和其他污染物可以被截留在元件底部。在局部萃取過(guò)程中,噴嘴比組件小得多,且能滿足組件與板的高度差。

SIR和局部萃取的結(jié)果是通過(guò)或失敗。判定標(biāo)準(zhǔn)分別基于電路電阻率和萃取液電阻率。為了便于參考,附錄中包含了詳細(xì)的結(jié)果。如表1所示,通過(guò)被編碼為綠色,失敗被編碼為橙色。結(jié)果顯示了一個(gè)清晰的定義:即所有未清洗的測(cè)試模塊都沒(méi)有通過(guò)測(cè)試,所有清洗過(guò)的測(cè)試模塊都通過(guò)了測(cè)試。事實(shí)上,助焊劑殘?jiān)泻写罅康碾x子,局部萃取試驗(yàn)很快就超過(guò)了電阻率極限。在未清洗板上有幾種離子濃度很高??偟膩?lái)說(shuō),這是一個(gè)非常極端的比較,因?yàn)楦锌赡苁遣糠智逑炊皇峭耆辞逑?。這加強(qiáng)了必須清洗使用了水溶性焊錫膏組件的重要性。SIR測(cè)試對(duì)象:PCB軟板、助焊劑、清洗劑 、錫膏、錫渣還原劑。

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在96個(gè)小時(shí)的靜置時(shí)間后,測(cè)試電壓和偏置電壓的極性必須是始終一致的。在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,建議每24到100個(gè)小時(shí)需要換用另外的電阻檢測(cè)器,確保測(cè)試電壓和偏置電壓的極性始終一致。在電阻測(cè)量過(guò)程中,為了保證測(cè)試的準(zhǔn)確性,如果觀察到周期性的電阻突降,也應(yīng)該被算作一次失效。因?yàn)殛?yáng)極導(dǎo)電絲是很細(xì)的,很容易被破壞掉。當(dāng)50%的部分已經(jīng)失效了,測(cè)試即可停止。當(dāng)CAF發(fā)生時(shí),電阻偏小,施加到CAF失效兩端的電壓會(huì)下降。當(dāng)測(cè)試網(wǎng)絡(luò)的阻值接近限流電阻的阻值時(shí),顯得尤為明顯。所以在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中,并不需要調(diào)整電壓。9、500個(gè)小時(shí)的偏置電壓后(一共596個(gè)小時(shí)),像之前一樣重新進(jìn)行絕緣電阻的測(cè)量。10、在500小時(shí)的偏壓加載后,可以進(jìn)行額外的T/H/B條件。然而,**少要進(jìn)行500小時(shí)加載偏置電壓的測(cè)試,來(lái)作為CAF測(cè)試的結(jié)果之一。測(cè)試電壓可在1.0-500V(2000V)之間以0.1V步進(jìn)任意可調(diào)。江蘇離子遷移絕緣電阻測(cè)試售后服務(wù)

多通道導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測(cè)試系統(tǒng),可監(jiān)測(cè)溫度范圍:-70℃-200℃,精度± 1℃。江西多功能電阻測(cè)試發(fā)展

幾十年來(lái),行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)一直認(rèn)為SIR測(cè)試是比較好的方法。然而,在實(shí)踐中,這種方法有一些局限性。首先,它是在標(biāo)準(zhǔn)梳狀測(cè)試樣板上進(jìn)行的,而不是實(shí)際的組裝產(chǎn)品。根據(jù)不同的PCB表面處理、回流工藝條件、處理工序等,需要進(jìn)行**的測(cè)試設(shè)置。而且測(cè)試方法的選擇,可能需要組裝元器件,也可能不需要。由于和助焊劑分類有關(guān),這些因素的標(biāo)準(zhǔn)化是區(qū)分可比較的助焊劑類別的關(guān)鍵。另一方面,工藝的優(yōu)化和控制可能會(huì)遺漏一些關(guān)鍵的失效來(lái)源。其次,由于組件處于生產(chǎn)過(guò)程中,無(wú)法實(shí)時(shí)收集結(jié)果。根據(jù)測(cè)試方法的不同,測(cè)試時(shí)間**少為72小時(shí),**多為28天,這使得測(cè)試對(duì)于過(guò)程控制來(lái)說(shuō)太長(zhǎng)了。從而促使制造商尋求能快速有效地表征電化學(xué)遷移傾向的測(cè)試方法,以控制組裝工藝。江西多功能電阻測(cè)試發(fā)展

廣州維柯信息技術(shù)有限公司在機(jī)動(dòng)車檢測(cè)行業(yè)產(chǎn)品,高低阻(CAF/TCT),實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng),醫(yī)療廢液在線監(jiān)測(cè)一直在同行業(yè)中處于較強(qiáng)地位,無(wú)論是產(chǎn)品還是服務(wù),其高水平的能力始終貫穿于其中。廣州維柯是我國(guó)機(jī)械及行業(yè)設(shè)備技術(shù)的研究和標(biāo)準(zhǔn)制定的重要參與者和貢獻(xiàn)者。公司承擔(dān)并建設(shè)完成機(jī)械及行業(yè)設(shè)備多項(xiàng)重點(diǎn)項(xiàng)目,取得了明顯的社會(huì)和經(jīng)濟(jì)效益。廣州維柯將以精良的技術(shù)、優(yōu)異的產(chǎn)品性能和完善的售后服務(wù),滿足國(guó)內(nèi)外廣大客戶的需求。