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耐CAF評(píng)估樣品制作影響因素&建議:因CAF產(chǎn)生的條件是處于有金屬鹽類與潮濕并存的情況下,由于電場驅(qū)動(dòng),離子沿著玻璃纖維與樹脂界面遷移而發(fā)生。因此,**根本的措施是讓玻璃纖維與樹脂界面致密而牢固的結(jié)合在一起,不存在任何隙縫。同時(shí),減低樹脂的吸水率,進(jìn)一步提高材料的耐CAF能力。導(dǎo)致樣品的CAF產(chǎn)生因素有如下:﹒PCB板由于不良玻璃質(zhì)處理、壓層缺陷、機(jī)械應(yīng)力、熱應(yīng)力或耐化學(xué)性差,鉆孔后引起壓層界面削弱或破壞.溫度和濕度***了壓層缺陷反應(yīng)(可能有濕度閥值).pH值梯度促進(jìn)CAF形成.導(dǎo)體間電壓梯度低至3伏到可能800伏.某些焊劑成分(聚乙二醇)或加工過程中產(chǎn)生的其它離子污染物智能電阻是一種集成了智能化功能的電阻器件。海南電阻測試歡迎選購
溫度電阻測試是一種特殊的電阻測試方法,用于測量電阻在不同溫度下的變化。電阻在溫度變化時(shí)會(huì)發(fā)生變化,這是由于電阻材料的溫度系數(shù)導(dǎo)致的。溫度電阻測試可以通過在待測電阻上施加一個(gè)恒定的電流或電壓,然后測量電路中的溫度來計(jì)算電阻的溫度系數(shù)。溫度電阻測試廣泛應(yīng)用于溫度傳感器和溫度控制系統(tǒng)中,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性。還有一些其他的電阻測試方法,例如噪聲電阻測試、頻率電阻測試等。噪聲電阻測試用于測量電阻中的噪聲水平,以評(píng)估電路的性能和穩(wěn)定性。頻率電阻測試用于測量電阻在不同頻率下的變化,以評(píng)估電路的頻率響應(yīng)特性。這些電阻測試方法在特定的應(yīng)用場景中具有重要的意義,可以幫助工程師優(yōu)化電路設(shè)計(jì)和改進(jìn)產(chǎn)品性能。海南電阻測試歡迎選購印刷電路板的電極之間會(huì)出現(xiàn)離子轉(zhuǎn)移,出現(xiàn)絕緣劣化的現(xiàn)象。通常發(fā)生在PCB基板中。
一、產(chǎn)品特點(diǎn)1.**溫度監(jiān)測系統(tǒng),使測試系統(tǒng)可適用任何環(huán)境試驗(yàn)箱。2.采用高可靠性、高精度的測試儀器,并經(jīng)過CE認(rèn)證,在計(jì)量方面均可溯源到國際標(biāo)準(zhǔn)。3.面向用戶開發(fā)的測試軟體,充分滿足不同用戶的獨(dú)特要求,使測試軟體的操作介面更完善、更方便。4.模組式的測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu),使維修方便、快捷;具有良好的可擴(kuò)展性。5.采用反應(yīng)時(shí)間小于3毫秒并且壽命高達(dá)1000萬次的開關(guān)控制系統(tǒng),確保測試的可靠性。6.**的UPS供電系統(tǒng),使測試系統(tǒng)能夠保證測試資料的可靠性,可以保證在突然斷電時(shí)測量資料不丟失。7.細(xì)小的模塊外接插頭,使每個(gè)插頭能夠方便的通過環(huán)境試驗(yàn)的通孔。二、設(shè)計(jì)原理導(dǎo)通電阻的測試方式是先對(duì)被測物體施加一個(gè)恒定直流電流,再準(zhǔn)確測量出該被測物上的電壓,根據(jù)歐姆定律換算出電阻值;對(duì)于測試小電阻時(shí),由于測試引線上存在一定的電阻,該引線電阻會(huì)嚴(yán)重影響到測量的精度,為此,需要通過四線測試模式來達(dá)到在測試過程中消除引線電阻所帶來的測試誤差。
一般我們使用這個(gè)方法來量測靜態(tài)的表面絕緣電阻(SIR)與動(dòng)態(tài)的離子遷移現(xiàn)象(ION MIGRATION),另外,它也可以拿來作 CAF(Conductive Anodic ****ment,導(dǎo)電性細(xì)絲物,陽極性玻纖纖維之漏電現(xiàn)象)試驗(yàn)。 注:CAF主要在測試助焊劑對(duì)PCB板吸濕性及玻璃纖維表面分離的影響。 表面絕緣電阻(SIR)被***用來評(píng)估污染物對(duì)組裝件可靠度的影響。跟其他方法相比,SIR的優(yōu)點(diǎn)除了可偵測局部的污染外,也可以測得離子及非離子污染物對(duì)印刷電路板(PCB)可靠度的影響,其效果遠(yuǎn)比其他方法(如清潔度試驗(yàn)、鉻酸銀試驗(yàn)…等)來的有效及方便。 由于電路板布線越來越密,焊點(diǎn)與焊點(diǎn)也越來越近,所以這項(xiàng)實(shí)驗(yàn)也可作為錫膏助焊劑的可用性評(píng)估參考。GWHR-256多通道 SIR/CAF實(shí)時(shí)監(jiān)控測試系統(tǒng)適用于IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn),測試速度 20mS/所有通道。
離子遷移(ECM/SIR/CAF)的要因分析與解決方案從設(shè)計(jì)方面:越小的距離(孔~孔、線~線、層~層、孔~線間)越易造成離子遷移現(xiàn)象;解決方案:結(jié)合制程能力與材料能力,優(yōu)化設(shè)計(jì)方案;(當(dāng)然重點(diǎn)還是必須符合客戶要求)玻纖紗束與孔排列的方向;紗束與孔的方向一致時(shí),會(huì)造成離子遷移的可能性比較大;解決方案:盡可能避免或減少紗束與孔排列一致的可能性,但此項(xiàng)受客戶產(chǎn)品設(shè)計(jì)的制約;產(chǎn)品的防濕保護(hù)設(shè)計(jì);解決方案:選擇比較好的防濕設(shè)計(jì),如涉及海運(yùn),建議采用PE袋或鋁箔袋包裝方式;PCB/PCBA絕緣失效分析導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)。江西多功能電阻測試有哪些
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Sir電阻測試是一種非接觸式的電阻測試方法,這種測試方法不需要直接接觸電路,因此可以避免對(duì)電路的損壞。同時(shí),Sir電阻測試還具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn),可以快速準(zhǔn)確地測量電路中的電阻值。它可以用來測量電路中的電阻值。這種測試方法具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn),可以快速準(zhǔn)確地測量電路中的電阻值。同時(shí),它還可以用來檢測電路中的其他問題,如短路和斷路。因此,掌握Sir電阻測試方法對(duì)于電子工程師來說非常重要。無論是在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境還是在工業(yè)生產(chǎn)中,Sir電阻測試都可以發(fā)揮重要作用,提高工作效率。海南電阻測試歡迎選購