表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試是通過在高溫高濕的環(huán)境中持續(xù)給予PCB一定的偏壓，經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間的試驗(yàn)，觀察線路間是否有瞬間短路或出現(xiàn)絕緣失效的緩慢漏電情形發(fā)生。表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試可以用來評(píng)估金屬導(dǎo)體之間短路或者電流泄露造成的問題，也有助于看出錫膏中的助焊劑或其他化學(xué)物品在PCB板面上是否殘留任何會(huì)影響電子零件電氣特性的物質(zhì)，通過表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試數(shù)據(jù)可以直接反映PCB的清潔度。當(dāng)PCB受到離子性物質(zhì)的污染、或含有離子的物質(zhì)時(shí)，在高溫高濕狀態(tài)下施加電壓，電極在電場(chǎng)和絕緣間隙存在水分的共同作用下，離子化金屬向相反的電極間移動(dòng)（陰極向陽極轉(zhuǎn)移），相對(duì)的電極還原成本來的金屬并析出樹枝狀金屬的現(xiàn)象（類似錫須，容易造成短路），這種現(xiàn)象稱為離子遷移。當(dāng)存在這種現(xiàn)象時(shí)，表面絕緣電阻（SIR）測(cè)試可以通過電阻值顯現(xiàn)出來。每個(gè)板卡一個(gè)**測(cè)試電源，可適應(yīng)多批量測(cè)試條件。湖南pcb絕緣電阻測(cè)試批量定制

從監(jiān)控的方式看（除阻值監(jiān)控外）：ECM/SIR可以通過放大鏡進(jìn)行直觀的判斷；而CAF只能通過破壞性的切片進(jìn)行微觀條件下的分析；ECM/SIR與CAF的重要性由于介電層變薄、線路及孔距變密是高密度電子產(chǎn)品的特性，而大多數(shù)的高階電子產(chǎn)品也需要較高的信賴度，故越來越多的產(chǎn)品被要求進(jìn)行ECM/SIR/CAF測(cè)試，如航空產(chǎn)品、汽車產(chǎn)品、醫(yī)療產(chǎn)品、服務(wù)器等，以確保產(chǎn)品在相對(duì)惡劣的使用條件下的壽命與可靠性；離子遷移既然是絕緣信賴度的***，因此高密度電子產(chǎn)品都十分在乎及重視材料的吸水性及水中不純物的控管，因?yàn)檫@些正是離子遷移的重要元兇。例如：加水分解性氯、電鍍液中的鹽類、銅皮表面處理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了這些控管，導(dǎo)致ECM或CAF的生成，便會(huì)造成產(chǎn)品在使用壽命及電性功能上的障礙；藉著控制鹵素及金屬鹽類的含量、銅皮上的鉻含量、樹脂中的氯含量、表面清潔度（防焊前處理），這些對(duì)絕緣劣化影響很大的項(xiàng)目，可以大幅提升高密度電路板的信賴性。廣西sir電阻測(cè)試前景電阻測(cè)試是一種常見的電子測(cè)試方法。

智能電阻具有更高的精度和穩(wěn)定性。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試儀器往往受到環(huán)境因素的影響，導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果的不準(zhǔn)確。而智能電阻通過內(nèi)置的智能芯片和傳感器，可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)環(huán)境溫度、濕度等因素，并自動(dòng)進(jìn)行校準(zhǔn)，從而提高測(cè)試的精度和穩(wěn)定性。這將提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性，滿足市場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品的需求。智能電阻具有更高的自動(dòng)化程度。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試需要人工操作，耗時(shí)耗力且容易出錯(cuò)。而智能電阻可以通過與測(cè)試設(shè)備的連接，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)試。只需設(shè)置測(cè)試參數(shù)，智能電阻就能自動(dòng)完成測(cè)試，并將測(cè)試結(jié)果傳輸給設(shè)備或計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析。這不僅提高了測(cè)試的效率，還減少了人為因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響，提高了測(cè)試的準(zhǔn)確性。

除雜PCB制程中若出現(xiàn)雜質(zhì)或殘銅，清潔處理不當(dāng)后，將金屬鹽類殘留在板面上。一旦吸潮或分層吸濕，便會(huì)形成CAF問題。因此需調(diào)整參數(shù)避免殘銅，同時(shí)改進(jìn)清洗方法并充分清潔。評(píng)估CAF的方法：離子遷移評(píng)價(jià)通常使用梳型電路板為試料，將成對(duì)的電極交錯(cuò)連接成梳形圖案，在高溫高濕的條件下給予一固定之直流電壓，經(jīng)過長(zhǎng)時(shí)間之測(cè)試，并觀察線路是否有瞬間短路之現(xiàn)象。針對(duì)CAF引起的失效現(xiàn)象，一般采用的方法是逐步縮小范圍的方法；失效樣品先測(cè)試電阻》》用顯微鏡觀察，找出大概失效的位置》》退掉表面的綠油》》再觀察具體的位置》》磨切片觀察失效發(fā)生的原因很多用戶在使用電阻測(cè)試設(shè)備過程中會(huì)遇到各種問題。

多功能電阻測(cè)試設(shè)備是一種集成了多種測(cè)試功能的設(shè)備，可以同時(shí)進(jìn)行多種電阻測(cè)試。它可以測(cè)量電阻的值、溫度系數(shù)、電壓系數(shù)等多個(gè)參數(shù)，同時(shí)還可以進(jìn)行電阻的快速測(cè)試、自動(dòng)測(cè)試等。這種設(shè)備的出現(xiàn)，提高了電阻測(cè)試的效率和準(zhǔn)確性，為電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制提供了有力的支持。多功能電阻測(cè)試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景廣闊。隨著電子產(chǎn)品的不斷更新?lián)Q代，對(duì)電阻測(cè)試設(shè)備的要求也越來越高。傳統(tǒng)的電阻測(cè)試設(shè)備只能進(jìn)行簡(jiǎn)單的電阻測(cè)量，無法滿足復(fù)雜電子產(chǎn)品的測(cè)試需求。而多功能電阻測(cè)試設(shè)備可以滿足不同電子產(chǎn)品的測(cè)試要求，包括手機(jī)、電腦、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域。因此，多功能電阻測(cè)試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景非常廣闊。SIR測(cè)試目的更改清潔材料或工藝。浙江電阻測(cè)試以客為尊

智能電阻通過內(nèi)置的智能芯片和算法，能夠?qū)崿F(xiàn)更加準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。湖南pcb絕緣電阻測(cè)試批量定制

絕緣電阻測(cè)量:-偏置電壓:100V+2V-測(cè)量電壓為100v時(shí)無極化變化-**小時(shí)間斜坡到100V=2秒-測(cè)量時(shí)間=60秒-被測(cè)樣品應(yīng)與其他樣品電隔離限流電阻:**小1mohm與PCB串聯(lián)在線測(cè)試程序：1）PCB干燥后立即進(jìn)行絕緣電阻測(cè)量;2）將樣品放入環(huán)境測(cè)試箱，并連接到在線測(cè)量設(shè)備。在試驗(yàn)結(jié)束前，不能取出樣品，也不能打開試驗(yàn)箱。（***組數(shù)據(jù)）3）施加溫度至85℃(持續(xù)時(shí)間3小時(shí))，然后施加濕度至85%的相對(duì)濕度(持續(xù)時(shí)間另一個(gè)3小時(shí))，沒有偏置電壓（第二組數(shù)據(jù)）。在85℃，85%濕度下放置96小時(shí)后，測(cè)量絕緣電阻為IR初始值（第三組數(shù)據(jù)）4）開始輸出偏置電壓100V-標(biāo)記為0小時(shí)，開始試驗(yàn);湖南pcb絕緣電阻測(cè)試批量定制