廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實(shí)時(shí)監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設(shè)定：使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導(dǎo)通性時(shí)可以設(shè)置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時(shí)測量電流是不用設(shè)置，需設(shè)置測量電壓，因?yàn)閮x器恒壓工作測量漏電流，用歐姆定理計(jì)算電阻值。電阻值的測定時(shí)間可設(shè)定范圍是：CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時(shí)間范圍1-600分鐘可設(shè)置，單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時(shí)間范圍1-600秒可設(shè)置，完成多次取值電阻測定時(shí)間1-9999小時(shí)可設(shè)置。電阻測試范圍1x104 -1 x1014 Ω，電阻測量精度：1x104 -1x1010Ω≤±2%， 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 -1x1014Ω≤±20%SIR是通過測試表面絕緣電阻的方法來監(jiān)控ECM電化學(xué)遷移的發(fā)生程度； 通常我們習(xí)慣講的SIR，即為ECM測試；廣西SIR和CAF電阻測試性價(jià)比

智能電阻則是一種集成了智能化功能的電阻器件，能夠提供更加便捷和精確的電阻測試。智能電阻的特點(diǎn)之一是其高精度。傳統(tǒng)的電阻器件在測量電阻時(shí)可能存在一定的誤差，而智能電阻通過內(nèi)置的智能芯片和算法，能夠?qū)崿F(xiàn)更加準(zhǔn)確的測量結(jié)果。這對(duì)于一些對(duì)電阻值要求較高的應(yīng)用場景非常重要，比如精密儀器的校準(zhǔn)和電子產(chǎn)品的質(zhì)量檢測。另外，智能電阻還具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。傳統(tǒng)的電阻測試通常需要使用專門的測試儀器和設(shè)備，而智能電阻則可以直接通過連接到計(jì)算機(jī)或移動(dòng)設(shè)備上進(jìn)行測試。廣西pcb板電阻測試設(shè)備系統(tǒng)標(biāo)配≥256通道，可分為16組測試單元，同時(shí)測試16種不同樣品。

Sir電阻測試是一種常用的電阻測試方法，它可以用來測量電路中的電阻值。在電子工程領(lǐng)域中，電阻是一種常見的電子元件，它用來限制電流的流動(dòng)。因此，了解電路中的電阻值對(duì)于電子工程師來說非常重要。Sir電阻測試是一種非接觸式的測試方法，它利用電磁感應(yīng)原理來測量電路中的電阻值。這種測試方法不需要直接接觸電路，因此可以避免對(duì)電路的損壞。同時(shí)，Sir電阻測試還具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn)，可以更加快速準(zhǔn)確地測量電路中的電阻值。

1、保持測試樣品無污染，做好標(biāo)記，用無污染手套移動(dòng)樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備，防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線，連接后再清潔。烘干，在105±2℃下烘烤6小時(shí)。進(jìn)行預(yù)處理，在中立環(huán)境下，保持23±2℃和50±5%的相對(duì)濕度至少24h。2、在該測試方法中相對(duì)濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對(duì)濕度偏差會(huì)造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下，一旦水凝結(jié)在測試樣品表面，有可能會(huì)造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時(shí)候，也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除，確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗(yàn)箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對(duì)濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境，其相對(duì)濕度的波動(dòng)時(shí)間越短越好，不允許超過5分鐘。3、測量電阻。采用50V的直流偏置電壓，用100V的測試電壓測試每塊板的菊花鏈網(wǎng)絡(luò)的絕緣電阻前至少充電60S的時(shí)間。偏置電壓的極性和測試電壓的極性必須隨時(shí)保持一致。四線法（Four-Wire Method），也被稱為Kelvin四線法或Kelvin連接法，是一種用于測量電阻的方法。

在進(jìn)行離子遷移絕緣電阻測試時(shí)，需要注意以下幾點(diǎn)。首先，要選擇合適的測試設(shè)備和方法，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。其次，要根據(jù)實(shí)際情況確定測試的參數(shù)和條件，如濕度、溫度、電壓等。要及時(shí)記錄和分析測試結(jié)果，發(fā)現(xiàn)問題并采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修復(fù)或更換。離子遷移絕緣電阻測試是一種重要的電子產(chǎn)品質(zhì)量檢測方法。它通過測量離子遷移速率和絕緣電阻值，來評(píng)估材料的質(zhì)量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測試廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過程中，可以幫助檢測材料的離子遷移問題和絕緣電阻異常，從而確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。選擇智能電阻時(shí)，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。湖南制造電阻測試操作

智能電阻具有高精度的特點(diǎn)。廣西SIR和CAF電阻測試性價(jià)比

試驗(yàn)通道數(shù)1-256通道試驗(yàn)時(shí)間0---9999小時(shí)（可以任意設(shè)定）低阻測試測試范圍1mΩ---103Ω測量精度±（1%RD+10μΩ）**小分辨率1μΩ測試電流0.05-3.00(A)測試速度≦0.5秒/通道測試時(shí)分組16通道/組，各組所有參數(shù)可以**設(shè)置高、低溫區(qū)限值可分別任意設(shè)置電阻測試模式定時(shí)觸發(fā)、溫度觸發(fā)測試數(shù)據(jù)輸出圖表，EXCEL，TXT等格式，溫度和阻值曲線可重疊顯示。超限報(bào)警可設(shè)定配件測試電纜PTFE耐高溫電纜溫度監(jiān)測0-4通道溫度監(jiān)測選件溫度范圍：-70℃~+200℃，精度±1℃*本系統(tǒng)只提供自有版權(quán)的導(dǎo)通電阻實(shí)時(shí)監(jiān)控測試操作軟件，Windows操作系統(tǒng)、MS-office軟件及相關(guān)數(shù)據(jù)庫由客戶自行購買*該系統(tǒng)可根據(jù)客戶的不同需求，定制特殊要求以實(shí)現(xiàn)更多功能廣西SIR和CAF電阻測試性價(jià)比