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廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測試性價比

來源: 發(fā)布時間:2024-02-21

從監(jiān)控的方式看:都是通過監(jiān)控其絕緣阻值變化作為**重要的判斷指標(biāo);故很多汽車行業(yè)或?qū)嶒炇乙蚜?xí)慣上把ECM/SIR從廣義上定義為CAF的一種(線與線之間的表面CAF)。ECM/SIR與CAF的聯(lián)系與差異差異點:從產(chǎn)生的原因看:ECM/SIR是在PCB的表面產(chǎn)生金屬離子的遷移;而CAF是發(fā)生在PCB的內(nèi)部出現(xiàn)銅離子沿著玻纖發(fā)生緩慢遷移,進(jìn)而出現(xiàn)漏電;從產(chǎn)生的現(xiàn)象看:ECM/SIR會在導(dǎo)體間出現(xiàn)枝丫狀(Dendrite)物質(zhì);而CAF則是出現(xiàn)在孔~孔、線~線、層~層、孔~線間,出現(xiàn)陽極金屬絲;測試控制軟件管理模塊:用戶管理、工況管理、配置管理、設(shè)備管理。廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測試性價比

電阻測試

在進(jìn)行Sir電阻測試之前,需要準(zhǔn)備一臺Sir電阻測試儀。這種儀器通常由一個發(fā)射器和一個接收器組成。發(fā)射器會產(chǎn)生一個電磁場,而接收器會測量電磁場的變化。通過測量電磁場的變化,可以計算出電路中的電阻值。在進(jìn)行Sir電阻測試時,需要將發(fā)射器和接收器分別放置在電路的兩個不同位置。發(fā)射器會產(chǎn)生一個電磁場,而接收器會測量電磁場的變化。通過測量電磁場的變化,可以計算出電路中的電阻值。通常情況下,電阻值越大,電磁場的變化越小。因此,通過測量電磁場的變化,可以得到電路中的電阻值。江蘇表面絕緣電阻測試系統(tǒng)四線法(Four-Wire Method),也被稱為Kelvin四線法或Kelvin連接法,是一種用于測量電阻的方法。

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導(dǎo)電陽極絲測試(Conductiveanodicfilamenttest,簡稱CAF)是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別:1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅,而不是鉛或者錫;2.金屬絲是從陽極往陰極生長的;3.金屬絲是由金屬鹽組成,而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源,在陽極電化學(xué)生成,并沿著樹脂和玻璃增強纖維之間界面移動。隨著時代發(fā)展和技術(shù)的革新,PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴(yán)重,究其原因,是因為現(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多,這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短,這樣就更加容易在兩個金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象。

1、保持測試樣品無污染,做好標(biāo)記,用無污染手套移動樣品。做好預(yù)先準(zhǔn)備,防止短路和開路。清潔后連接導(dǎo)線,連接后再清潔。烘干,在105±2℃下烘烤6小時。進(jìn)行預(yù)處理,在中立環(huán)境下,保持23±2℃和50±5%的相對濕度至少24h。2、在該測試方法中相對濕度的嚴(yán)格控制是關(guān)鍵性的。5%的相對濕度偏差會造成電阻量測結(jié)果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置電壓加載的情況下,一旦水凝結(jié)在測試樣品表面,有可能會造成表面樹枝狀晶體的失效。當(dāng)某些烤箱的空氣循環(huán)是從后到前的時候,也可能發(fā)現(xiàn)水分。凝結(jié)在冷凝器窗口上的水有可能形成非常細(xì)小的水滴**終掉落在樣品表面上。這樣可能造成樹枝狀晶體的生長。這樣的情況必須被排除,確保能夠得到有意義的測試結(jié)果。雖然環(huán)境試驗箱被要求能夠提供并記錄溫度為65±2℃或85±2℃、相對濕度為87+3/-2%RH的環(huán)境,其相對濕度的波動時間越短越好,不允許超過5分鐘。3、測量電阻。采用50V的直流偏置電壓,用100V的測試電壓測試每塊板的菊花鏈網(wǎng)絡(luò)的絕緣電阻前至少充電60S的時間。偏置電壓的極性和測試電壓的極性必須隨時保持一致。選擇智能電阻時,用戶需要考慮精度和穩(wěn)定性。

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除雜PCB制程中若出現(xiàn)雜質(zhì)或殘銅,清潔處理不當(dāng)后,將金屬鹽類殘留在板面上。一旦吸潮或分層吸濕,便會形成CAF問題。因此需調(diào)整參數(shù)避免殘銅,同時改進(jìn)清洗方法并充分清潔。評估CAF的方法:離子遷移評價通常使用梳型電路板為試料,將成對的電極交錯連接成梳形圖案,在高溫高濕的條件下給予一固定之直流電壓,經(jīng)過長時間之測試,并觀察線路是否有瞬間短路之現(xiàn)象。針對CAF引起的失效現(xiàn)象,一般采用的方法是逐步縮小范圍的方法;失效樣品先測試電阻》》用顯微鏡觀察,找出大概失效的位置》》退掉表面的綠油》》再觀察具體的位置》》磨切片觀察失效發(fā)生的原因傳統(tǒng)的電阻器件在測量電阻時可能存在一定的誤差。江西電阻測試注意事項

表面絕緣阻抗(SIR)測試數(shù)據(jù)可以直接反映PCBA的表面清潔度(包括加工、制造過程的殘留)。廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測試性價比

多功能電阻測試設(shè)備是一種集成了多種測試功能的設(shè)備,可以同時進(jìn)行多種電阻測試。它可以測量電阻的值、溫度系數(shù)、電壓系數(shù)等多個參數(shù),同時還可以進(jìn)行電阻的快速測試、自動測試等。這種設(shè)備的出現(xiàn),提高了電阻測試的效率和準(zhǔn)確性,為電子產(chǎn)品的質(zhì)量控制提供了有力的支持。多功能電阻測試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景廣闊。隨著電子產(chǎn)品的不斷更新?lián)Q代,對電阻測試設(shè)備的要求也越來越高。傳統(tǒng)的電阻測試設(shè)備只能進(jìn)行簡單的電阻測量,無法滿足復(fù)雜電子產(chǎn)品的測試需求。而多功能電阻測試設(shè)備可以滿足不同電子產(chǎn)品的測試要求,包括手機、電腦、汽車電子等各個領(lǐng)域。因此,多功能電阻測試設(shè)備在電子行業(yè)中的應(yīng)用前景非常廣闊。廣西SIR和CAF表面絕緣電阻測試性價比