PCB/PCBA絕緣失效是指電介質(zhì)在電壓作用下會產(chǎn)生能量損耗，這種損耗很大時，原先的電能轉(zhuǎn)化為熱能，使電介質(zhì)溫度升高，絕緣老化，甚至使電介質(zhì)熔化、燒焦，**終喪失絕緣性能而發(fā)生熱擊穿。電介質(zhì)的損耗是衡量其絕緣性能的重要指標(biāo)，電介質(zhì)即絕緣材料，是電氣設(shè)備、裝置中用來隔離存在不同點(diǎn)位的導(dǎo)體的物質(zhì)，通過各類導(dǎo)體間的絕緣隔斷功能控制電流的方向。電介質(zhì)長期受到點(diǎn)場、熱能、機(jī)械應(yīng)力等的破壞。在電場的作用下，電介質(zhì)會發(fā)生極化、電導(dǎo)、耗損和擊穿等現(xiàn)象，這些現(xiàn)象的相關(guān)物理參數(shù)可以用相對介電系數(shù)、電導(dǎo)率、介質(zhì)損耗因數(shù)、擊穿電壓來表征。智能電阻可以直接通過連接到計算機(jī)或移動設(shè)備上進(jìn)行測試。江蘇表面絕緣SIR電阻測試

CAF發(fā)生的原理離子遷移現(xiàn)象是由溶液和電位等相關(guān)電化學(xué)現(xiàn)象引起的，尤其是在高密度電子產(chǎn)品中，材料與周圍環(huán)境相互影響，導(dǎo)致離子遷移現(xiàn)象發(fā)生，形成CAF通路第一階段的基本條件是有金屬鹽類存在以及有潮濕或蒸汽壓存在，這兩個條件都不可或缺。當(dāng)施加電壓或偏壓時，便會產(chǎn)生第二階段的CAF增長。其中，測試的溫濕度越高，吸附的水分越多，生長得就越快；電壓越高，加快電極反應(yīng)，CAF生長得越快；PH值越低，越易發(fā)生CAF；基材的吸水率越高，越易發(fā)生CAF。影響因素：電壓，材質(zhì)NO.2CAF發(fā)生的主要影響因素廣東SIR絕緣電阻測試價格離子在單位強(qiáng)度(V/m)電場作用下的移動速度稱之為離子遷移率，它是分辨被測離子直徑大小的一個重要參數(shù)。

Sir電阻測試是一種常用的電阻測試方法，它可以用來測量電路中的電阻值。在電子工程領(lǐng)域中，電阻是一種常見的電子元件，它用來限制電流的流動。因此，了解電路中的電阻值對于電子工程師來說非常重要。Sir電阻測試是一種非接觸式的測試方法，它利用電磁感應(yīng)原理來測量電路中的電阻值。這種測試方法不需要直接接觸電路，因此可以避免對電路的損壞。同時，Sir電阻測試還具有高精度和高速度的優(yōu)點(diǎn)，可以更加快速準(zhǔn)確地測量電路中的電阻值。

智能電阻則是一種集成了智能化功能的電阻器件，能夠提供更加便捷和精確的電阻測試。智能電阻的特點(diǎn)之一是其高精度。傳統(tǒng)的電阻器件在測量電阻時可能存在一定的誤差，而智能電阻通過內(nèi)置的智能芯片和算法，能夠?qū)崿F(xiàn)更加準(zhǔn)確的測量結(jié)果。這對于一些對電阻值要求較高的應(yīng)用場景非常重要，比如精密儀器的校準(zhǔn)和電子產(chǎn)品的質(zhì)量檢測。另外，智能電阻還具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。傳統(tǒng)的電阻測試通常需要使用專門的測試儀器和設(shè)備，而智能電阻則可以直接通過連接到計算機(jī)或移動設(shè)備上進(jìn)行測試。在所用的電子化學(xué)品中，容易被忽視的是焊劑。

一般我們使用這個方法來量測靜態(tài)的表面絕緣電阻(SIR)與動態(tài)的離子遷移現(xiàn)象(ION MIGRATION)，另外，它也可以拿來作 CAF(Conductive Anodic ****ment，導(dǎo)電性細(xì)絲物，陽極性玻纖纖維之漏電現(xiàn)象)試驗。 注：CAF主要在測試助焊劑對PCB板吸濕性及玻璃纖維表面分離的影響。 表面絕緣電阻(SIR)被***用來評估污染物對組裝件可靠度的影響。跟其他方法相比，SIR的優(yōu)點(diǎn)除了可偵測局部的污染外，也可以測得離子及非離子污染物對印刷電路板(PCB)可靠度的影響，其效果遠(yuǎn)比其他方法(如清潔度試驗、鉻酸銀試驗…等)來的有效及方便。 由于電路板布線越來越密，焊點(diǎn)與焊點(diǎn)也越來越近，所以這項實驗也可作為錫膏助焊劑的可用性評估參考。CAF測試——電路板離子遷移測試的有效方法！東莞SIR絕緣電阻測試咨詢

選擇智能電阻時，用戶需要根據(jù)具體需求考慮精度、穩(wěn)定性、接口等因素，以便選擇適合的智能電阻產(chǎn)品。江蘇表面絕緣SIR電阻測試

離子遷移絕緣電阻測試廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品制造和質(zhì)量控制過程中。它可以用于檢測電子元器件、印刷電路板、電子設(shè)備外殼等材料的質(zhì)量。通過測試，可以及時發(fā)現(xiàn)材料中的離子遷移問題和絕緣電阻異常，從而采取相應(yīng)的措施進(jìn)行修復(fù)或更換，確保電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。離子遷移絕緣電阻測試的方法主要包括濕度試驗、電壓加速試驗和絕緣電阻測量。濕度試驗是將材料置于高濕度環(huán)境中，通過觀察離子遷移現(xiàn)象來評估材料的質(zhì)量。電壓加速試驗是在高電壓條件下進(jìn)行離子遷移測試，以加速離子遷移速率，從而更快地評估材料的質(zhì)量。絕緣電阻測量是通過測量材料的絕緣電阻值來評估材料的絕緣性能。江蘇表面絕緣SIR電阻測試