使用類似SIR測試模塊的68針LCC。這種設(shè)計有足夠的熱量,允許一個范圍內(nèi)的回流曲線。元件的高度和底部端子**了一個典型的組裝案例,其中助焊劑殘留物和其他污染物可以被截留在元件底部。在局部萃取過程中,噴嘴比組件小得多,且能滿足組件與板的高度差。局部萃取法會把板子表面所有殘留離子都溶解。電路板上離子材料的常見來源是多種多樣的,包括電路板制造和電鍍殘留物、人機(jī)交互殘留物、助焊劑殘留物等。這包括有意添加的化學(xué)物質(zhì)和無意的污染??紤]到這一點,每當(dāng)遇到不可接受的結(jié)果時,這種方法就被用來調(diào)查在過程和材料清單中發(fā)生了什么變化。在流程開發(fā)過程中,應(yīng)該定義一個“正常”的結(jié)果范圍,但是當(dāng)結(jié)果超出預(yù)期范圍時,可能會有許多潛在的原因。智能電阻具有更加便捷的操作和數(shù)據(jù)處理能力。湖北離子遷移絕緣電阻測試發(fā)展
CAF產(chǎn)生的原因:1、原料問題1)樹脂身純度不良,如雜質(zhì)太多而招致附著力不佳;2)玻纖束之表面有問題,如耦合性不佳,親膠性不良;3)樹脂之硬化劑不良,容易吸水;4)膠片含浸中行進(jìn)速度太快;常使得玻纖束中應(yīng)有的膠量尚未全數(shù)充實填飽造成氣泡殘存。CAF形成過程:1、常規(guī)FR4P片是由玻璃絲編輯成玻璃布,然后涂環(huán)氧樹脂半固化后制成;2、樹脂與玻纖之間的附著力不足,或含浸時親膠性不良,兩者之間容易出現(xiàn)間隙;3、鉆孔等機(jī)械加工過程中,由于切向拉力及縱向沖擊力的作用對樹脂的粘合力進(jìn)一步破壞;4、距離較近的兩孔若電勢不同,則正極部分銅離子在電壓驅(qū)動下逐漸向負(fù)極遷移。湖南CAF電阻測試服務(wù)在電子設(shè)備制造和維修過程中,電阻測試是非常重要的一環(huán)。
在精密電子制造業(yè)的舞臺上,每一塊PCBA(印刷電路板組裝)的質(zhì)量都是產(chǎn)品性能與壽命的基石。隨著技術(shù)的飛速發(fā)展,PCBA的復(fù)雜度與集成度不斷提升,如何有效控制生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的污染物,確保電路板的長期可靠性,成為行業(yè)共同面臨的挑戰(zhàn)。廣州維柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng),正是這一挑戰(zhàn)的解決方案。【深度洞察,精確監(jiān)測】廣州維柯多通道SIR/CAF實時離子遷移監(jiān)測系統(tǒng) GWHR256系統(tǒng)遵循IPC-TM-650標(biāo)準(zhǔn),專為PCBA的可靠性評估而設(shè)計,它能夠?qū)崟r監(jiān)控SIR(表面絕緣電阻)和CAF(導(dǎo)電陽極絲)的變化,精確捕捉哪怕是微小的離子遷移現(xiàn)象。
離子遷移(ECM/SIR/CAF)是電子電路板(PCB)中常見的失效模式,尤其在高電壓、高溫和濕度條件下更為突出。這些現(xiàn)象與電子組件的可靠性和壽命緊密相關(guān)。電解質(zhì)介電擊穿(ECM - Electrochemical Migration):要因分析:ECM 主要是由于電路板上的電解質(zhì)(如殘留水分、污染物質(zhì)或潮濕環(huán)境中的離子)在電場作用下引發(fā)金屬離子的氧化還原反應(yīng)和遷移,導(dǎo)致短路或漏電流增加。解決方案:設(shè)計階段:采用***材料,如具有低吸濕性及良好耐離子遷移性的阻焊劑和基材(如FR-4改良型或其他高級復(fù)合材料);優(yōu)化布線設(shè)計,減少高電壓梯度區(qū)域。工藝控制:嚴(yán)格清潔流程以減少污染,采用合適的涂層保護(hù)措施,提高SMT貼片工藝水平以防止錫膏等殘留物成為離子源。環(huán)境條件:產(chǎn)品儲存、運(yùn)輸和使用過程中需遵循防潮密封標(biāo)準(zhǔn),確保封裝完整。四線法的基本原理在于通過將電流引入被測件的兩個端點,并通過另外兩根單獨(dú)的引線在被測件的兩端測量電壓。
絕緣不良是電氣設(shè)備失效和安全事故的常見原因。廣州維柯信息技術(shù)有限公司深知這一點,因此研發(fā)出的SIR表面絕緣電阻測試系統(tǒng),專注于捕捉那些可能被忽視的微小缺陷。絕緣材料在長時間使用或特定環(huán)境下可能會老化,導(dǎo)致表面電阻下降,進(jìn)而影響整個系統(tǒng)的安全性。通過定期進(jìn)行SIR測試,可以早期發(fā)現(xiàn)這些問題,及時采取措施,避免重大事故的發(fā)生。廣州維柯的SIR測試系統(tǒng),以其高度的自動化和智能化,能夠在各種條件下快速、準(zhǔn)確地完成測試任務(wù),**提高了檢測效率和準(zhǔn)確性。對于制造商而言,這不僅意味著產(chǎn)品可靠性增強(qiáng),也是對品牌信譽(yù)的有力背書。智能電阻通過內(nèi)置的智能芯片和算法,能夠?qū)崿F(xiàn)更加準(zhǔn)確的測量結(jié)果。CAF電阻測試系統(tǒng)
產(chǎn)生離子遷移的原因,是當(dāng)絕緣體兩端的金屬之間有直流電場時,這兩邊的金屬就成為兩個電極。湖北離子遷移絕緣電阻測試發(fā)展
電阻值的測定時間可設(shè)定范圍是:CAF系統(tǒng)的單次取值電阻測定時間范圍1-600分鐘可設(shè)置,單次取值電阻測定電壓穩(wěn)定時間范圍1-600秒可設(shè)置,完成多次取值電阻測定時間1-9999小時可設(shè)置。電阻測試范圍1x104-1x1014Ω,電阻測量精度:1x104-1x1010Ω≤±2%,1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%廣州維柯信息技術(shù)有限公司多通道SIR/CAF實時監(jiān)控測試系統(tǒng)測量電流的設(shè)定:使用低阻SIR系統(tǒng)測樣品導(dǎo)通性時可以設(shè)置測量電流范圍0.1A~5A。使用高阻CAF系統(tǒng)測樣品電阻時測量電流是不用設(shè)置,需設(shè)置測量電壓,因為儀器恒壓工作測量漏電流,用歐姆定理計算電阻值。湖北離子遷移絕緣電阻測試發(fā)展